[發明專利]一種改良型通用測試架兩軸鉆孔機臺

在審

• 申請號: 201711332359.9
• 申請日: 2017-12-13
• 公開（公告）號: CN107876826A
• 公開（公告）日: 2018-04-06
• 發明（設計）人: 張軍;劉智哲
• 申請（專利權）人: 黃石星河電路有限公司
• 主分類號: B23B41/00
• 分類號: B23B41/00;B23B39/16;B23Q1/25
• 代理公司: 北京中濟緯天專利代理有限公司11429
• 代理人: 楊樂

1.一種改良型通用測試架兩軸鉆孔機臺，包括外殼（1），其特征在于：所述外殼（1）的內部底面上設置有底座（8），所述底座（8）的內部一側設置有大梁（3），所述大梁（3）的一側頂部固定安裝有第一滑道（5），所述第一滑道（5）的下方設置有第二滑道（6），所述第一滑道（5）和第二滑道（6）上分別并排安裝有第一主軸支架（4）和第二主軸支架（13），所述第一主軸支架（4）上安裝有第一主軸（2），所述第一主軸（2）的底部設置有第一云臺（9），所述第一云臺（9）的底部設置有第三滑道（7），所述第二主軸支架（13）上安裝有第二主軸（14），所述第二主軸（14）的底部設置有第二云臺（10），所述第二云臺（10）的底部設置有第四滑道（11），所述大梁（3）的一側設置有控制系統（12）。

2.根據權利要求1所述的一種改良型通用測試架兩軸鉆孔機臺，其特征在于：所述大梁（3）為一種底部中空的門形構件。

3.根據權利要求1所述的一種改良型通用測試架兩軸鉆孔機臺，其特征在于：所述第一云臺（9）、第三滑道（7）、第二云臺（10）和第四滑道（11）的一端延伸進大梁（3）的內部。

4.根據權利要求1所述的一種改良型通用測試架兩軸鉆孔機臺，其特征在于：所述控制系統（12）位于外殼（1）的外部。

5.根據權利要求1所述的一種改良型通用測試架兩軸鉆孔機臺，其特征在于：所述底座（8）由2000*2005*700mm的大理臺所組成，大梁（3）兩邊由200*300*700mm的大理石支撐，與中間300*1300*540mm的大理石組合而成。