[發明專利]一種超導材料電阻測量輔助裝置在審
| 申請號: | 201711310092.3 | 申請日: | 2017-12-11 |
| 公開(公告)號: | CN107727894A | 公開(公告)日: | 2018-02-23 |
| 發明(設計)人: | 張安民;張俊;潘海成;唐友亮 | 申請(專利權)人: | 宿遷學院 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04 |
| 代理公司: | 宿遷市永泰睿博知識產權代理事務所(普通合伙)32264 | 代理人: | 丁雪 |
| 地址: | 223800 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 超導 材料 電阻 測量 輔助 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及超導電阻測量技術領域,具體為一種超導材料電阻測量輔助裝置。
背景技術
在極低的溫度下,某些金屬和合金失去其對電流的電阻變成超導體。超導體的轉變溫度和臨界電流密度是兩個經常要測量的參數。超導體的轉變溫度是材料的電阻從有限數值變為零的溫度。臨界電流密度則是在特定的溫度和磁場條件下,材料變成電阻性之前所能載荷的最大電流密度。這兩個參數越高,超導體就越好。確定這兩個參數需要測量很小的電阻,所以納伏表和可程控的電流源對于進行精密的測量工作是非常重要的。四線測量技術(如圖1所示)作為現有測量超導體的電阻常用方法之一,然而現在卻沒有專門的超導材料固定裝置,影響測量的工作效率。
發明內容
(一)解決的技術問題
針對現有技術的不足,本發明提供了一種超導材料電阻測量輔助裝置,通過本發明可以方便對超導材料進行固定,提高四線測量技術的測量效率。
(二)技術方案
為實現上述目的,本發明提供如下技術方案:
一種超導材料電阻測量輔助裝置,包括底板,其特征在于,所述底板上設置有固定殼,固定殼內部左右兩端分別設置有左導電塊和右導電塊,左導電塊和右導電塊靠近固定殼一側分別連接有左絕緣片和右絕緣片,左絕緣片通過彈簧和固定殼內壁連接,右絕緣片右側和軸承連接,軸承內連接有第一絲桿,第一絲桿右端穿過設置在固定殼右側的螺孔;固定殼的前側或者后側設置有滑槽,滑槽內設置有兩個第二絲桿,第二絲桿里端和第一絕緣片連接,第一絕緣片上設置有第一導電塊,第二絲桿上還設置有第二旋鈕,第二旋鈕設置在固定殼外側。
優選的,所述左導電塊、右導電塊和第一導電塊上均設置有接線柱。
優選的,所述第一絲桿右端穿過設置在固定殼右側的螺孔并和第一旋鈕連接。
(三)有益效果
本發明提供了一種超導材料電阻測量輔助裝置,具備以下有益效果:
1、本發明通過設置四個導電塊實現對超導材料的四個接電點的接入,和現有接線的方法本發明效率更高。
2、本發明右導電塊和兩個第一導電塊的位置均可以移動,方便對不同大小的超導材料進行固定,提高測量效率。
附圖說明
圖1為現有四線測量法電路原理圖;
圖2為本發明俯視結構圖;
圖3為本發明正面結構圖。
圖中:1底板、2固定殼、3左導電塊、4右導電塊、5第一導電塊、6左絕緣片、7右絕緣片、8第一絕緣片、9彈簧、10軸承、11第一絲桿、12第一旋鈕、13第二絲桿、14第二旋鈕、15接線柱、16滑槽。
具體實施方式
下面將結合本發明實施例中的附圖,對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例,而不是全部的實施例?;诒景l明中的實施例,本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發明保護的范圍。
實施例:
如圖2和圖3所示,一種超導材料電阻測量輔助裝置,包括底板1,所述底板上設置有固定殼2,固定殼內部左右兩端分別設置有左導電塊3和右導電塊4,左導電塊和右導電塊靠近固定殼一側分別連接有左絕緣片6和右絕緣片7,左絕緣片通過彈簧9和固定殼內壁連接,右絕緣片右側和軸承10連接,軸承內連接有第一絲桿11,第一絲桿右端穿過設置在固定殼右側的螺孔(由于和第一絲桿基本重合,本發明沒有標示);固定殼的前側或者后側設置有滑槽16,滑槽內設置有兩個第二絲桿13,第二絲桿里端和第一絕緣片8連接,第一絕緣片上設置有第一導電塊5,第二絲桿上還設置有第二旋鈕14,第二旋鈕設置在固定殼外側。
優選的,所述左導電塊、右導電塊和第一導電塊上均設置有接線柱15。
優選的,所述第一絲桿右端穿過設置在固定殼右側的螺孔并和第一旋鈕12連接。
具體使用方法:
如圖1至圖3所示,本發明通過四線測量法原理進行測量,為了方便對不同超導材料進行選點測量,本發明設置了四個導電塊,其中,左右兩個導電塊和恒流電源串聯,兩個第一導線塊用于接納伏表,和現有接導線的方法,本發明效率更高,通過第一旋鈕保證超導材料兩端分別和左右導電塊充分接觸,再通過選點將兩個第一導電塊選好就可進行實驗測量,操作方法簡單、效率高。
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