[發(fā)明專(zhuān)利]電路板的電壓引腳導(dǎo)通檢測(cè)系統(tǒng)及其方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711293094.6 | 申請(qǐng)日: | 2017-12-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109901046B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-04-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 宋平 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 英業(yè)達(dá)科技有限公司;英業(yè)達(dá)股份有限公司;英業(yè)達(dá)集團(tuán)(天津)電子技術(shù)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京國(guó)昊天誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11315 | 代理人: | 許志勇;王寧 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電路板 電壓 引腳 檢測(cè) 系統(tǒng) 及其 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種電路板的電壓引腳導(dǎo)通檢測(cè)系統(tǒng)及其方法,將JTAG晶片設(shè)定為邊界掃描工作模式后,通過(guò)自定義的通信協(xié)議由JTAG晶片從單片機(jī)獲得模數(shù)轉(zhuǎn)換器所讀取的檢測(cè)電壓值,檢測(cè)裝置通過(guò)JTAG連接器從JTAG晶片讀取檢測(cè)電壓值以進(jìn)行待測(cè)試電路板的電源引腳導(dǎo)通檢測(cè),借此可以達(dá)成在所有電壓值皆可進(jìn)行電源引腳導(dǎo)通檢測(cè)的技術(shù)功效。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種電路板的電壓引腳導(dǎo)通檢測(cè)系統(tǒng)及其方法,尤其是指一種借由JTAG晶片、單片機(jī)以及模數(shù)轉(zhuǎn)換器以進(jìn)行待測(cè)試電路板的電源引腳導(dǎo)通檢測(cè)系統(tǒng)及其方法。
背景技術(shù)
在電路板中電源引腳的檢測(cè),常用的方式是將電路板中電源引腳電性連接下拉電阻,通過(guò)聯(lián)合測(cè)試工作組(Joint Tes t Act ion Group,JTAG)晶片以邊界掃描(BoundaryScan)技術(shù)讀取電路板中電源引腳的電壓值,借以通過(guò)從檢測(cè)電路板中電源引腳所讀取到的電壓值為高電位來(lái)判斷檢測(cè)電路板中電源引腳導(dǎo)通與否。
對(duì)于上述的檢測(cè)方式,若是當(dāng)檢測(cè)電路板中電源引腳的電壓值在600mV以下的情況,檢測(cè)電路板中電源引腳不論是否導(dǎo)通,JTAG晶片從檢測(cè)電路板中電源引腳所讀取到的電壓值皆是低電位,導(dǎo)致無(wú)法檢測(cè)出檢測(cè)電路板中電源引腳是否導(dǎo)通。
綜上所述,可知現(xiàn)有技術(shù)中長(zhǎng)期以來(lái)一直存在現(xiàn)有電源引腳導(dǎo)通檢測(cè)在低電壓值導(dǎo)致檢測(cè)障礙的問(wèn)題,因此有必要提出改進(jìn)的技術(shù)手段,來(lái)解決此問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于現(xiàn)有技術(shù)存在現(xiàn)有電源引腳導(dǎo)通檢測(cè)在低電壓值導(dǎo)致檢測(cè)障礙的問(wèn)題,本發(fā)明遂說(shuō)明一種電路板的電壓引腳導(dǎo)通檢測(cè)系統(tǒng)及其方法,其中:
本發(fā)明所說(shuō)明的電路板的電壓引腳導(dǎo)通檢測(cè)系統(tǒng),其包含:具有待測(cè)試電路板連接器的待測(cè)試電路板、檢測(cè)電路板以及檢測(cè)裝置,其中檢測(cè)電路板還包含:檢測(cè)電路板連接器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器(Analogtodigital converter,ADC)、單片機(jī)(single-chipmicrocomputer)、聯(lián)合測(cè)試工作組(Joint Test Action Group,JTAG)晶片以及JTAG連接器。
檢測(cè)電路板的檢測(cè)電路板連接器用以與待測(cè)試電路板連接器電性連接;檢測(cè)電路板的模數(shù)轉(zhuǎn)換器的電壓讀取引腳與檢測(cè)電路板連接器的電源引腳電性連接以及與下拉電阻電性連接,模數(shù)轉(zhuǎn)換器的電壓讀取引腳用以讀取檢測(cè)電路板連接器的電源引腳的電壓值為檢測(cè)電壓值;檢測(cè)電路板的單片機(jī)的電壓輸入引腳與模數(shù)轉(zhuǎn)換器的電壓輸出引腳電性連接,單片機(jī)從模數(shù)轉(zhuǎn)換器的電壓輸出引腳讀取檢測(cè)電壓值;檢測(cè)電路板的JTAG晶片被設(shè)定為邊界掃描(Boundary Scan)工作模式,JTAG晶片通過(guò)自定義的通信協(xié)議與單片機(jī)電性連接并從單片機(jī)接收檢測(cè)電壓值;檢測(cè)電路板的JTAG連接器與JTAG晶片電性連接。
檢測(cè)裝置通過(guò)JTAG連接器形成電性連接控制JTAG晶片設(shè)定為邊界掃描工作模式,且通過(guò)JTAG連接器從JTAG晶片讀取檢測(cè)電壓值以進(jìn)行待測(cè)試電路板的電源引腳導(dǎo)通檢測(cè)。
本發(fā)明所說(shuō)明的電路板的電壓引腳導(dǎo)通檢測(cè)方法,其包含下列步驟:
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線(xiàn)路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線(xiàn)或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
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- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
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