[發(fā)明專(zhuān)利]基片處理方法和熱處理裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711293037.8 | 申請(qǐng)日: | 2017-12-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108183068B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-05-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 佐野要平;川上真一路;榎本正志;鹽澤崇博;吉田圭佑;鬼塚智也 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 東京毅力科創(chuàng)株式會(huì)社 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/027 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/027;H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京尚誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11322 | 代理人: | 龍淳 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 處理 方法 熱處理 裝置 | ||
1.一種對(duì)形成于基片的含金屬膜進(jìn)行熱處理的基片處理方法,其特征在于:
所述熱處理通過(guò)在設(shè)置于處理腔室的內(nèi)部的熱處理板上載置基片來(lái)進(jìn)行,
在所述熱處理中,對(duì)所述含金屬膜供給水分,從所述處理腔室的中央部對(duì)該處理腔室的內(nèi)部進(jìn)行排氣,
所述熱處理包括:
在所述熱處理板上載置了基片的狀態(tài)下,對(duì)所述處理腔室的內(nèi)部供給含水分氣體,并且從所述處理腔室的外周部對(duì)該處理腔室的內(nèi)部以第1排氣量進(jìn)行排氣的第1工序;和
之后,停止所述含水分氣體的供給,從所述處理腔室的中央部對(duì)該處理腔室的內(nèi)部以比所述第1排氣量大的第2排氣量進(jìn)行排氣的第2工序。
2.如權(quán)利要求1所述的基片處理方法,其特征在于:
在所述處理腔室的內(nèi)部的與所述熱處理板相對(duì)的位置,設(shè)置有在下表面形成有多個(gè)氣體供給孔的噴頭,
在所述第1工序中,從所述噴頭對(duì)所述處理腔室的內(nèi)部供給所述含水分氣體。
3.如權(quán)利要求1或2所述的基片處理方法,其特征在于:
所述處理腔室包括:可升降的上部腔室;和與所述上部腔室成為一體而能夠?qū)?nèi)部密閉的下部腔室,
在所述第2工序中,使所述上部腔室上升,使外部空氣從所述處理腔室的外周部流入到內(nèi)部,并且從所述處理腔室的中央部對(duì)該處理腔室的內(nèi)部進(jìn)行排氣。
4.如權(quán)利要求1或2所述的基片處理方法,其特征在于,還包括:
在所述第1工序后所述第2工序前,停止所述含水分氣體的供給,從所述處理腔室的外周部對(duì)該處理腔室的內(nèi)部以所述第1排氣量進(jìn)行排氣的工序。
5.如權(quán)利要求1或2所述的基片處理方法,其特征在于,還包括:
在所述第2工序后,使基片從所述熱處理板上升,停止所述含水分氣體的供給,從所述處理腔室的中央部對(duì)該處理腔室的內(nèi)部以所述第2排氣量進(jìn)行排氣的工序。
6.如權(quán)利要求1所述的基片處理方法,其特征在于:
在所述熱處理中,在所述熱處理板上載置了基片的狀態(tài)下,
從在所述處理腔室的外周部環(huán)狀地設(shè)置的水分供給部對(duì)該處理腔室的內(nèi)部供給含水分氣體,并且,
從設(shè)置于所述處理腔室的上表面中央部的中央排氣部對(duì)該處理腔室的內(nèi)部進(jìn)行排氣。
7.如權(quán)利要求6所述的基片處理方法,其特征在于:
所述水分供給部在該水分供給部的圓周上等間隔地形成有多個(gè)氣體供給孔,
從所述多個(gè)氣體供給孔對(duì)所述處理腔室的內(nèi)部供給所述含水分氣體。
8.如權(quán)利要求7所述的基片處理方法,其特征在于:
在所述處理腔室的外周部比所述水分供給部靠?jī)?nèi)側(cè)設(shè)置有環(huán)狀的氣體流通部,
所述氣體流通部在該氣體流通部的圓周上等間隔地形成有多個(gè)氣體流通孔,
從所述水分供給部供給的所述含水分氣體,通過(guò)所述多個(gè)氣體流通孔被供給到所述處理腔室的內(nèi)部。
9.如權(quán)利要求1所述的基片處理方法,其特征在于:
在所述基片處理方法中,在基片上涂敷含金屬材料來(lái)形成所述含金屬膜,進(jìn)而在對(duì)所述含金屬膜進(jìn)行曝光后,對(duì)該含金屬膜進(jìn)行熱處理,
在所述熱處理前或者所述熱處理中,對(duì)所述含金屬膜供給水。
10.如權(quán)利要求1所述的基片處理方法,其特征在于:
在所述處理腔室的外周部設(shè)置有開(kāi)閉該處理腔室的開(kāi)閉閘板,
所述熱處理包括:
利用所述開(kāi)閉閘板將所述處理腔室關(guān)閉,在所述熱處理板上載置了基片的狀態(tài)下,對(duì)所述處理腔室的內(nèi)部供給含水分氣體,并且從所述處理腔室的外周部對(duì)該處理腔室的內(nèi)部進(jìn)行排氣的第1工序;
之后,使基片從所述熱處理板上升,停止所述含水分氣體的供給,從所述處理腔室的中央部對(duì)該處理腔室的內(nèi)部進(jìn)行排氣的第2工序;和
之后,利用所述開(kāi)閉閘板打開(kāi)所述處理腔室的第3工序。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于東京毅力科創(chuàng)株式會(huì)社,未經(jīng)東京毅力科創(chuàng)株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711293037.8/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 上一篇:一種半導(dǎo)體晶圓的處理方法
- 下一篇:Cu濕法刻蝕方法
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專(zhuān)門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專(zhuān)門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專(zhuān)門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫(xiě)分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 光源裝置、照明裝置、液晶裝置和電子裝置
- 預(yù)測(cè)裝置、編輯裝置、逆預(yù)測(cè)裝置、解碼裝置及運(yùn)算裝置
- 圖像形成裝置、定影裝置、遮光裝置以及保持裝置
- 打印裝置、讀取裝置、復(fù)合裝置以及打印裝置、讀取裝置、復(fù)合裝置的控制方法
- 電子裝置、光盤(pán)裝置、顯示裝置和攝像裝置
- 光源裝置、照明裝置、曝光裝置和裝置制造方法
- 用戶(hù)裝置、裝置對(duì)裝置用戶(hù)裝置、后端裝置及其定位方法
- 遙控裝置、通信裝置、可變裝置及照明裝置
- 透鏡裝置、攝像裝置、處理裝置和相機(jī)裝置
- 抖動(dòng)校正裝置、驅(qū)動(dòng)裝置、成像裝置、和電子裝置





