[發明專利]一種元器件用X射線批量化試驗夾具

有效

• 申請號: 201711291926.0
• 申請日: 2017-12-08
• 公開（公告）號: CN108188952B
• 公開（公告）日: 2019-08-09
• 發明（設計）人: 李璇;張紅旗;代添翼;唐章東;范壯壯;王雪生;劉建強;劉承溪
• 申請（專利權）人: 中國空間技術研究院
• 主分類號: B25B11/00
• 分類號: B25B11/00;G01N23/00
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 張麗娜

本發明屬于宇航用元器件技術領域，特別涉及一種用于X射線檢測試驗夾具的設計。本發明的夾具采用子母夾具的設計方式，可伸縮延展，擴展性強，適用多種封裝形式；子母夾具間已卡簧固定，便于拆裝；本發明的夾具采用矩陣陣列，便于器件的準確定位及快速查找計數；且操作簡便，可實現待試器件的快速翻轉，滿足器件多方向射線檢測試驗需求，大幅度提高X光試驗的效率；本發明的夾具能夠避免常規膠貼法固定對器件造成顯性損害及隱形損傷的問題。

技術領域

本發明屬于宇航用元器件技術領域，特別涉及一種用于X射線檢測試驗夾具的設計。

背景技術

X射線照相試驗是宇航用元器件篩選試驗和可靠性試驗必不可少的重要試驗內容，可以非破壞性的檢測封裝內的缺陷，特別是密封工藝引起的缺陷和諸如多余物、錯誤的內引線連接、芯片附著材料中的或采用玻璃密封時玻璃中的空洞等內部缺陷。目前，宇航型號所使用的高等級、高可靠性元器件的品種和數量越來越多。在實際質量保證工作中，會遇到各種不同形式，各種封裝及各種材料的元器件，這就需要研制各種X射線檢測夾具，用于元器件的X射線檢測試驗。

常規夾具法一般根據不同封裝單獨設計并制造，品種多，數量大，成本高，試驗操作繁雜，無法實現X、Y兩方向的快速翻轉。

發明內容

本發明的技術解決問題：克服現有技術的不足，提出一種元器件用X射線批量化試驗夾具，該夾具針對X射線檢測試驗器件結構的復雜性及封裝形式的多樣性，器件防護的需求以及夾具拆裝效率不高等特點采取了針對性的設計。克服了現有試驗夾具的繁雜和不足，提出一種簡潔高效的子母夾具設計結構方法。

本發明的技術解決方案是：

一種元器件用X射線批量化試驗夾具，包括第一支架、第二支架、第一支柱、第二支柱和若干轉壓裝置，所述的轉壓裝置包括轉動軸和壓板；

所述的第一支架和第二支架均用于安裝轉壓裝置；

所述的第一支架和第二支架通過第一支柱和第二支柱進行固定連接且通過調整第一支柱和第二支柱的長度可以用來調整第一支架和第二支架之間的距離，進而達到調整位于第一支架上的轉壓裝置和位于第二支架上的轉壓裝置之間的距離；

所述轉壓裝置中的壓板包括一空心圓柱、螺栓和壓簧，在空心圓柱的側表面上帶有一凸塊，壓簧套在螺栓上，套有壓簧的螺栓位于空心圓柱的中心孔內；該空心圓柱為階梯圓柱，包括上端的大圓柱和下端的小圓柱，大圓柱的內徑與小圓柱的內徑一致，大圓柱的外徑比小圓柱的外徑大，用于提拉方便；

所述轉壓裝置中的轉動軸包括端蓋和一體成型的階梯圓柱，階梯圓柱從左到右依次為小圓柱、中圓柱和大圓柱，小圓柱、中圓柱和大圓柱的外徑依次變大，中圓柱的外表面上沿周向上分布有三個定位槽，其中一個定位槽位于中圓柱的外表面的最頂端，另外兩個定位槽分布位于最頂端定位槽的左側90°和右側90°位置，大圓柱的底端和頂端均被銑平，大圓柱的中間部分開有半圓柱槽和方槽，半圓柱槽靠近中圓柱的位置，該半圓柱槽與所述轉壓裝置中的壓板上的圓柱相匹配，所述轉壓裝置中的壓板上的圓柱在該半圓柱槽內可以轉動，方槽與夾具子體的外形相匹配，當夾具子體放置到該方槽中時通過所述壓板上的圓柱帶有的凸塊對該夾具子體進行壓實，達到固定夾具子體的目的；

所述的第一支架和第二支架上均開有用于安裝轉動軸的通孔，通孔的內表面的最頂端位置有定位塊，所述的通孔內表面上的定位塊與所述的轉動軸中圓柱上的定位槽相匹配并進行定位；

為了進一步優化所述的通孔內表面上的定位塊與所述的轉動軸中圓柱上的定位槽的匹配關系，在所述的通孔內表面上開有小孔，小孔內放置滾珠，滾珠通過壓簧實現滾珠與所述的轉動軸中圓柱上的定位槽的匹配定位關系；

所述的端蓋與所述的轉動軸的小圓柱通過螺栓連接，實現轉動軸與第一支架和第二支架在軸向上的定位(所述的軸向是指轉動軸的軸向，所述的軸是指中圓柱的軸)；