[發(fā)明專利]高溫濾袋檢漏裝置和檢漏方法及裝置的制造組裝方法

在審

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• 申請日: 2017-12-08
• 公開（公告）號: CN108421324A
• 公開（公告）日: 2018-08-21
• 發(fā)明（設計）人: 左慶愛;孫建勝;穆建國;鞏鵬;李平均;方濤;劉坤;王端東;董士玉
• 申請（專利權）人: 山東鋼鐵股份有限公司
• 主分類號: B01D46/02
• 分類號: B01D46/02;G01M3/20
• 代理公司: 北京奧文知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 11534
• 代理人: 張文;陰亮

本發(fā)明公開了一種高溫濾袋檢漏裝置和檢漏方法及裝置的制造組裝方法。該高溫濾袋檢漏裝置從上至下依次包括進料口、進料管、容納檢測劑的料盒、出料管、以及出料口，還包括一端連接到料盒側(cè)面的加壓管和與加壓管另一端相連的加壓口、位于進料管和進料口之間的進料閥、位于出料管和出料口之間的出料閥、以及位于加壓管和加壓口之間的加壓閥。本發(fā)明還公開了利用該高溫濾袋檢漏裝置實施的高溫濾袋檢漏方法以及該高溫濾袋檢漏裝置的制造組裝方法。本發(fā)明的高溫濾袋檢漏裝置和檢漏方法及裝置的制造組裝方法能夠?qū)崿F(xiàn)精準檢漏和無損檢漏，延長高溫濾袋的使用壽命，安全無污染、制造安裝及操作簡單方便。

技術領域

本發(fā)明涉及高爐煤氣干法除塵系統(tǒng)技術領域，尤其涉及一種高溫濾袋檢漏裝置和檢漏方法及裝置的制造組裝方法。

背景技術

高爐煤氣是鋼鐵企業(yè)內(nèi)部生產(chǎn)使用的主要能源，廣泛用于鋼廠各加熱燃燒系統(tǒng)內(nèi)。由于高爐煤氣需要除塵處理后再利用，通常采用高爐煤氣干法除塵器對高爐煤氣進行除塵處理，高爐煤氣干法除塵器通過內(nèi)部設置的高溫濾袋凈化高爐煤氣，除塵效果顯著，確保了高爐煤氣的質(zhì)量。但是當高溫濾袋運行一段時間后，會產(chǎn)生漏袋，如果不及時處理，會對后續(xù)工序高爐煤氣余壓透平發(fā)電裝置(TRT:Blast Furnace Top Gas Recovery TurbineUnit)造成巨大的損壞。

為了保證安全生產(chǎn)，能源動力廠采取兩方面的措施。第一種措施是每兩年整體更換一次高溫濾袋；第二種措施是定期采用“人工取樣稱量+人工布袋片+花板、噴吹管積灰”的聯(lián)合檢漏技術檢測高溫濾袋的措施，但由于此檢漏技術落后，存在無法精確定位單條破損濾袋的弊端，當某個或多個高溫濾袋存在漏袋時，只能將整個除塵器內(nèi)的高溫濾袋全部更換。實際上更換下來的大部分濾袋還可以繼續(xù)使用，導致生產(chǎn)成本增高，而且高溫濾袋自然分解困難，也會導致環(huán)境污染嚴重。

因此，如何提供一種高溫濾袋的精準和無損檢漏技術，精確定位破損濾袋，從而延長高溫濾袋的使用壽命，成為了本領域技術人員亟待解決的技術問題。

發(fā)明內(nèi)容

為解決上述現(xiàn)有技術中存在的技術問題，本發(fā)明提供一種向除塵器中噴入檢測劑穿過破損高溫濾袋聚積在泄漏點的周圍然后通過檢測劑探測器找到泄漏點的高溫濾袋檢漏裝置和檢漏方法及裝置的制造組裝方法。

為此本發(fā)明公開了一種高溫濾袋檢漏裝置。該高溫濾袋檢漏裝置從上至下依次包括進料口、進料管、容納檢測劑的料盒、出料管、以及出料口，還包括一端連接到所述料盒側(cè)面的加壓管和與所述加壓管另一端相連的加壓口、位于所述進料管和所述進料口之間的進料閥、位于所述出料管和所述出料口之間的出料閥、以及位于所述加壓管和所述加壓口之間的加壓閥。

進一步地，在所述高溫濾袋檢漏裝置中，所述出料口連接在所述高爐煤氣干法除塵器的進氣口和進口閥門組之間的進口管道上。

進一步地，在所述高溫濾袋檢漏裝置中，所述檢測劑為熒光粉。

進一步地，在所述高溫濾袋檢漏裝置中，所述熒光粉的顆粒度大于或等于所述高爐煤氣干法除塵器內(nèi)高溫濾袋攔截下的最小粉塵的顆粒度。

一種高溫濾袋檢漏方法，該方法包括：將檢測劑通過所述高溫濾袋檢漏裝置的進料口和進料閥填充到料盒內(nèi)；關閉所述進料閥，打開加壓閥，對所述料盒內(nèi)的檢測劑加壓第一設定時間后，關閉所述加壓閥；打開所述高爐煤氣干法除塵器的進口閥門組和出口閥門組，通入高爐煤氣；打開出料閥，所述檢測劑通過所述高爐煤氣干法除塵器的進口管道均勻擴散到所述高爐煤氣干法除塵器內(nèi)；待檢測劑擴散第二設定時間后，檢測劑穿過破損的高溫濾袋聚積在泄漏點的周圍，關閉所述高爐煤氣干法除塵器的所述進口閥門組和所述出口閥門組，用對應的檢測劑探測器探測檢測劑以確定高溫濾袋泄漏點的具體位置和泄露程度。

進一步地，在所述高溫濾袋檢漏方法中，所述檢測劑為熒光粉。

進一步地，在所述高溫濾袋檢漏方法中，所述熒光粉的顆粒度大于或等于所述高爐煤氣干法除塵器內(nèi)高溫濾袋攔截下的最小粉塵的顆粒度。