[發明專利]一種服務器主板PCIE信號線阻抗測試治具

在審

• 申請號: 201711286661.5
• 申請日: 2017-12-07
• 公開（公告）號: CN107703362A
• 公開（公告）日: 2018-02-16
• 發明（設計）人: 何英東
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;G01R1/04
• 代理公司: 濟南信達專利事務所有限公司37100
• 代理人: 姜明

技術領域

本發明涉及主板阻抗測試技術領域，特別涉及一種服務器主板PCIE信號線阻抗測試治具。

背景技術

目前主板PCIE信號線阻抗測試比較麻煩，僅適用于測試一條信號線或者少量信號線。首先，需要在原理圖中找到測試點，然后結合矢量網絡分析儀利用測試探頭點測。點測時，不僅要找到測試點，還需要調節測試探頭探針間距再進行測試。當主板所有物料都已安裝完成，測試時會困難很多。由于PCIE信號線分布密集而且量大，測試點多切密集，以目前測試方法進行測試時，需花費大量時間且易出錯。

現有的測試手段進行主板PCIE高速信號線阻抗測試時，存在測試時探針接觸不穩定的問題，不僅費時費力，而且效率低下。而主板PCIE信號線的輸出方向是一致的，都是從CPU到PCIE插槽或者從PCH到PCIE插槽，因此本發明提出了一種服務器主板PCIE信號線阻抗測試治具，將主板的信號線引出，在主板外測其PCIE信號線阻抗。

發明內容

本發明為了彌補現有技術的缺陷，提供了一種簡單高效的服務器主板PCIE信號線阻抗測試治具。

本發明是通過如下技術方案實現的：

一種服務器主板PCIE信號線阻抗測試治具，其特征在于：包括治具主板和金手指接口，所述治具主板上下兩端分別通過金手指接口連接標準PCIE測試接口SLOT槽端，所述治具主板上連接有高速測試探針SMA接口，治具主板通過高速測試探針SMA接口連接到阻抗測試儀；所述治具主板通過高速測試探針SMA接口將標準PCIE測試接口SLOT槽端的m+1對發送信號及對應的m+1對接收信號和n+1對發送信號及對應的n+1對接收信號分別接入阻抗測試儀。

所述治具主板一面設有TX0₁~TXm₁，TX0~TXn測試引出線，另一面設有RX0₁~RXm₁，RX0~RXn引出線；所述TX0₁~TXm₁，TX0~TXn測試引出線和RX0₁~RXm₁，RX0~RXn引出線分別連接各個高速測試探針SMA接口和金手指接口，且測試引出線TX01~TXm1 與TX0~TXn之間以及RX01~RXm1與RX0~RXn之間從各個高速測試探針SMA接口到金手指接口的長度相等。

所述TX0₁~TXm₁與TX0~TXn測試引出線以及RX0₁~RXm₁與RX0~RXn引出線均為100Ω差分對。

當所述治具主板上端為PCIE X1手指接口時，m為0；當所述治具主板上端為PCIE X4手指接口時，m為3；當所述治具主板上端為PCIE X8手指接口時，m為7；當所述治具主板上端為PCIE X16手指接口時，m為15。

當所述治具主板下端為PCIE X1手指接口時，n為0；當所述治具主板下端為PCIE X4手指接口時，n為3；當所述治具主板下端為PCIE X8手指接口時，n為7；當所述治具主板下端為PCIE X16手指接口時，n為15。

本發明的有益效果是：該服務器主板PCIE信號線阻抗測試治具，結構簡單，簡化了測試工序，降低了測試成本，在測試主板阻抗時，能夠第一時間精確找到目標信號線，測試其阻抗，節省了測試時間和測試成本，提高了測試效率，簡單高效。

附圖說明

附圖1為本發明服務器主板PCIE信號線阻抗測試治具主視結構示意圖。

附圖2為本發明服務器主板PCIE信號線阻抗測試治具后視結構示意圖。

附圖中，1為治具主板，2為高速測試探針SMA接口，3為治具主板下端金手指接口，4為治具主板上端金手指接口，5為TX0₁~TXm₁，TX0~TXn測試引出線，6為RX0₁~RXm₁，RX0~RXn引出線。

具體實施方式

為了使本發明所要解決的技術問題、技術方案及有益效果更加清楚明白，以下結合附圖和實施例，對本發明進行詳細的說明。應當說明的是，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本發明，并不用于限定本發明。