[發(fā)明專利]一種輝光放電光譜儀測(cè)定鋁材表面氧化膜質(zhì)量的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711283400.8
• 申請(qǐng)日: 2017-12-07
• 公開（公告）號(hào): CN108107035B
• 公開（公告）日: 2020-02-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 高崇;趙丕植;黃瑞銀;江鐘宇;蘇玉龍;李英東
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中鋁材料應(yīng)用研究院有限公司;中鋁瑞閩股份有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/67
• 分類號(hào): G01N21/67
• 代理公司: 11028 中國(guó)有色金屬工業(yè)專利中心
• 代理人: 李子健;李迎春

1.輝光放電光譜法用于陽(yáng)極化鋁材表面質(zhì)量評(píng)價(jià)的方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

（1）設(shè)定輝光放電光譜儀的工作條件；

（2）將鋁材表面氧化膜進(jìn)行由表及里的輝光放電光譜檢測(cè)，獲得所述氧化膜中各元素原始的強(qiáng)度-時(shí)間分布曲線；

（3）解析步驟（2）中所述原始的強(qiáng)度-時(shí)間分布曲線，根據(jù)各元素不同含量的標(biāo)準(zhǔn)樣品的濺射速率確定各元素的校正系數(shù)，最后擬合出所述氧化膜中各元素的含量-深度分布曲線；

（4）根據(jù)步驟（3）中的所述含量-深度分布曲線，判斷所述氧化膜質(zhì)量是否合格，所述氧化膜中質(zhì)量百分含量≤1%的元素Mg、Fe、Si、Zn、Zr、Ti、Cu、Cr、H與元素Al、O、S作用相同，可以用于判斷所述氧化膜質(zhì)量是否合格，所述氧化膜中的元素Al、O、S、Mg、Fe、Si、Zn、Zr、Ti、Cu、Cr、H含量由表及里的分布發(fā)生激增或者驟降，則所述氧化膜質(zhì)量不合格；所述氧化膜中的元素Al、O、S、Mg、Fe、Si、Zn、Zr、Ti、Cu、Cr、H含量由表及里的分布平穩(wěn)，則所述氧化膜質(zhì)量合格。