[發明專利]一種位移檢測裝置

在審

• 申請號: 201711278032.8
• 申請日: 2017-12-06
• 公開（公告）號: CN108050939A
• 公開（公告）日: 2018-05-18
• 發明（設計）人: 梁慧;樊文雨
• 申請（專利權）人: 柳州市融智科技服務有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02;G01B11/26
• 代理公司: 北京方圓嘉禾知識產權代理有限公司 11385
• 代理人: 徐長波

本發明涉及一種位移檢測裝置，解決的是測量需要接觸的技術問題，通過采用包括射頻信號源，射頻信號源輸出連接有直調激光器；與直調激光器連接有平行光轉換裝置，平行光轉換裝置與待測物體對應設置，平行光轉換裝置相對于待測物體對稱的另一面設有透光板，透光板后對應設置有相機，相機連接設有后處理單元，以及用于供電的電源模塊；所述后處理單元將相機拍攝的圖片進行重合比對及尺寸標注；所述平行光轉換裝置輸出光范圍大于待測物體尺寸；所述待測物體為不透光材質的技術方案，較好的解決了該問題，可用于不透光物體位移測量中。

技術領域

本發明涉及電子位移檢測領域，具體涉及一種位移檢測裝置。

背景技術

測量待測物體的位移量，測量剛體平移或轉動時的線位移或角位移的機械量測量儀表，用于測量機械位移、機械零部件的幾何參數，包括尺寸、表面形狀等，以及在加工過程中連續測量鋼板、紙和橡膠等的幾何尺寸。位移測量儀表由位移傳感器、測量電路和指示器等部分組成。位移傳感器按輸出信號的類型可分為模擬式位移傳感器和數字式位移傳感器兩類。

目前光纖位移傳感器主要有光纖光柵，光纖法珀和光纖M-Z干涉儀等類型的傳感器。現有技術中的技術均采用的接觸式機械測量，或采用反射原理進行位移測量，本發明提供一種新的位移測量裝置。能夠滿足非接觸式位移測量的目的。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是現有技術中存在的測量需要接觸的技術問題。提供一種新的位移檢測裝置，該位移檢測裝置具有非接觸式、測量簡單的特點。

為解決上述技術問題，采用的技術方案如下：

一種位移檢測裝置，所述位移檢測裝置包括射頻信號源，射頻信號源輸出連接有直調激光器；與直調激光器連接有平行光轉換裝置，平行光轉換裝置與待測物體對應設置，平行光轉換裝置相對于待測物體對稱的另一面設有透光板，透光板后對應設置有相機，相機連接設有后處理單元，以及用于供電的電源模塊；

所述后處理單元將相機拍攝的圖片進行重合比對及尺寸標注；

所述平行光轉換裝置輸出光范圍大于待測物體尺寸；

所述待測物體不透光。

本發明的工作原理：本發明采用照相機曝光的原理，在待測物體處形成一個強曝光環境，使用相機進行拍照，待測物體因不透光，在照片上的影像為黑色，其余部分為白色。通過前后兩次的拍攝照片，對照片進行重合比對，將重合部分從陰影尺寸大的照片去除。對于剩余圖像進行尺寸測量，能夠測出待測物體的位移量。處理過程包括采取現有的圖像反轉、像素灰度處理，通過設定圓點坐標進行坐標計算，然后計算剩余圖像尺寸。

上述方案中，為優化，進一步地，所述平行光轉換裝置包括套筒，貫穿套筒一端設有光發射單模光纖，與光發射單模光纖連接位于套筒內設有光纜，以及與光纜連接設置在套筒內的擴束準直透鏡；所述套筒為不透光套筒。

進一步地，所述射頻信號源包括射頻信號發生器，與射頻信號發生器連接的耦合器，耦合器主路輸出端連接直調激光器，耦合器耦合輸出端反饋到射頻信號發生器控制端。

進一步地，所述后處理單元包括處理器、存儲器、視頻采集卡以及通信單元，通信單元與相機連接。

進一步地，所述相機為高速相機。

進一步地，所述位移檢測裝置外圍設有不透光外殼。

進一步地，所述位移檢測裝置還包括冷卻裝置。

本發明通過采用整體暗光環境，能夠減少外部光源對測試裝置測試結果的干擾，提高測試精度。通過設置冷卻裝置，能夠控制工作溫度，使光學器件的壽命提高。

本發明的有益效果：

效果一，實現非接觸式位移測量；