[發明專利]一種采用斜邊漸變結構的磁場探頭

有效

• 申請號: 201711257412.3
• 申請日: 2017-12-04
• 公開（公告）號: CN108051654B
• 公開（公告）日: 2019-11-29
• 發明（設計）人: 閻照文;劉偉
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08;G01R29/12;G01R33/02
• 代理公司: 11232 北京慧泉知識產權代理有限公司
• 代理人: 王順榮;唐愛華<國際申請>=<國際公布>

本發明一種采用斜邊漸變結構的磁場探頭，包括金屬環結構、接地過孔、帶狀線窄柄、帶狀線寬柄、漸變斜邊結構、信號過孔、轉接頭、帶狀線寬柄上屏蔽層、帶狀線寬柄下屏蔽層、帶狀線窄柄介質和帶狀線窄柄信號線。所述的金屬環結構位于帶狀線窄柄的一端，金屬環結構的一個臂直接與帶狀線信號線相連接，另一個臂經過延長線通過接地過孔與帶狀線窄柄的屏蔽層相連接，所述的帶專線窄柄的另一端與帶狀線寬柄直接相連接，漸變斜邊結構從帶狀線窄柄的一端開始，終止與帶狀線寬柄，且寬度持續變化來解決不同寬度帶狀線相連接結構突變的弊端，帶狀線窄柄信號線與帶狀線寬柄信號線直接相連接，且帶狀線寬柄信號線的另一端通過信號過孔與轉接頭相連接。

【技術領域】

本發明屬于電磁場測試領域，特別涉及一種對寬帶近場磁場進行測試的磁場探頭結構，具體來說是通過本探頭近場測試可以獲得被測試物體的近場磁場分布參數。

【背景技術】

隨著電氣工程、電子科學技術、計算機技術、控制理論與控制工程等技術的飛速發展，電子電路在各行各業的應用占據不可或缺的地位。電子電路工作頻率頻段不斷擴展，集成度和復雜度越來越高，電路中的任何一段走線都有可能成為輻射磁場的源。不同的走線輻射之間的耦合，是造成系統級電磁兼容問題的主要原因之一。

國家技術監督局發布的文件明確指出，任何不符合國家標準規定，無線電干擾嚴重的產品禁止生產和使用。對不同電子電路的輻射進行準確的測量是電磁兼容設計中指標量化環節有效的考量手段。但是在對被測電路輻射的電磁場強度進行遠場測量時，并不能準確獲得被測試設備中輻射源的準確位置，這就是被測試電路電磁兼容整改過程中面臨的主要問題。相比遠場測試的不足，近場測試可以準確對電子電路中的輻射源進行精確定位。電子設備具有工作帶寬寬的特點，但是目前近場測試過程中使用的磁場探頭往往不能具有寬頻帶的特點，或者整個工作帶寬內不能保持較為理想的平坦度，因此在測試過程中需要一組探頭共同測量來滿足要求，在不同的頻段需要更換不同類型的磁場探頭來獲取微弱信號和寬帶信號，但是在測試過程中頻繁的更換探頭會引入較大的誤差。傳統磁場探頭的環都比較小，為了增加環的尺寸和固定轉接頭往往采用的柄結構突變設計會導致探頭整體尺寸增加，對于例如機柜、背板和機殼等復雜狹小空間，會導致探頭的適用性大大減弱。

【發明內容】

為了克服現有近場磁場探頭的不足，本發明的目的在于提供一種應用于近場測試的磁場探頭，能解決在寬帶測試時因更換探頭而引進測量誤差的誤差和為擴大有效環面積而增加探頭尺寸的缺陷。

本發明的目的采用以下技術方案實現：

一種采用斜邊漸變結構的磁場探頭，包括金屬環結構、接地過孔、帶狀線窄柄、帶狀線寬柄、漸變斜邊結構、信號過孔和轉接頭。

所述的金屬環結構位于帶狀線窄柄的一端，且金屬環結構的一個臂直接與帶狀線窄柄的信號線相連接，另一個臂經過延長線通過接地過孔與帶狀線窄柄上屏蔽層和帶狀線窄柄下屏蔽層相連接；本發明所述的金屬環結構為類似于“U”型結構形式，左右兩個臂位于帶狀線窄柄介質中以提高探頭強度。

所述的接地過孔目的是將金屬環結構和帶狀線窄柄構成通路,其位于金屬環結構的一個臂的延長線的末端,接地過孔的形式為金屬通孔,接地過孔與帶狀線窄柄的上層屏蔽地和帶狀線窄柄下層屏蔽地直接相連接。

所述的帶狀線窄柄由帶狀線窄柄介質、帶狀線窄柄下屏蔽層和帶狀線窄柄上屏蔽層組成，帶狀線窄柄下屏蔽層位于帶狀線窄柄介質下表面，帶狀線窄柄上屏蔽層位于帶狀線窄柄介質上表面。帶狀線窄柄的另一端與帶狀線寬柄連接，帶狀線窄柄的信號線直接與帶狀線寬柄的信號線相連接，帶狀線窄柄的下屏蔽層與帶狀線寬柄的下屏蔽層相連接，帶狀線窄柄的上屏蔽層和帶狀線寬柄的上屏蔽層相連接。

所述的帶狀線寬柄由帶狀線寬柄介質、帶狀線窄寬柄下屏蔽層和帶狀線寬柄上屏蔽層組成，帶狀線寬柄下屏蔽層位于帶狀線寬柄介質下表面，帶狀線寬柄上屏蔽層位于帶狀線寬柄介質上表面。