[發明專利]一種電連接器加速退化試驗方案優化方法有效
| 申請號: | 201711247068.X | 申請日: | 2017-12-01 |
| 公開(公告)號: | CN108132395B | 公開(公告)日: | 2020-03-17 |
| 發明(設計)人: | 錢萍;陳磊磊;陳文華;鐘立強;孟垣東;葉杰輝;夏宏運;顏佳輝;張利彬 | 申請(專利權)人: | 浙江理工大學 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 杭州君度專利代理事務所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人: | 黃前澤 |
| 地址: | 310018 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 連接器 加速 退化 試驗 方案 優化 方法 | ||
1.一種電連接器加速退化試驗方案優化方法,其特征在于:步驟一、根據待測電連接器的型號,確定電連接器的失效閥值D、工作壽命tg、電連接器工作溫度區間、電連接器貯存溫度區間及待測電連接器的外殼材料;確定最低試驗溫度Tz和貯存溫度T0,最低試驗溫度Tz在電連接器工作溫度區間內,貯存溫度T0在電連接器貯存溫度區間內;查詢外殼材料的極限工作溫度;以該外殼材料的極限工作溫度作為最高試驗溫度Tm;
確定最終試驗的組數S,3≤S≤6;確定加速退化試驗的測試間隔f、截尾時間τ、測量次數l和總樣本量n,4小時≤f≤24小時,l=τ/f,n≥3S;
τ的取值范圍如式(1):
步驟二、電連接器接觸對的接觸電阻值r(t)隨試驗時間而變化的過程符合非線性維納過程,r(t)的退化模型如式(2):
r(t)=r0+μB(t)+σW(B(t)) (2);
在(2)式中:r0表示電連接器在試驗前的接觸電阻值;μ為試驗的漂移系數;σ為試驗的擴散系數;W(B(t))表示均值為0,方差為B(t)的布朗運動;
B(t)=t1/3;
式(2)中,μ的表達式如式(3):
μ=exp(a+bζ) (3);
式(3)中,exp(a+bζ)表示e的(a+bζ)次方;
式(2)中,σ的表達式如式(4):
σ=exp(γ0+γ1ζ) (4);
式(3)及式(4)中,a,b,γ0和γ1為待確定的參數;
式(3)及式(4)中,ζ為試驗所施加的歸一化應力,表達式如式(5):
式(5)中,x為將試驗中施加的應力值;x與試驗溫度T之間的關系式為x=1000/(273.15+T);xM為最高試驗溫度Tm對應的應力值;xM與最高試驗溫度Tm之間的關系式為xM=1000/(273.15+Tm);x0為將貯存溫度T0對應的應力值;x0與貯存溫度T0之間的關系式為x0=1000/(273.15+T0);
待測電連接器接觸對的壽命分布Fε(t)的表達式如(6):
Fε(t)=Φ(zp) (6);
式(6)中,Φ(zp)為zp的標準正態分布;
待測電連接器的壽命分布F(t)的表達式如(7):
F(t)=1-[1-Fε(t)]N (7);
式(7)中,N為待測電連接器的接觸對數量;
由式(7)可得:Φ(zp)=Fε(t)=1-[1-F(t)]1/N,令F(t)=0.5求出Φ(zp)的大小,進而求得zp的大小;
電連接器中位壽命的估計值與試驗所施加的歸一化應力ζ的關系式如式(8):
步驟三、取m個待檢測電連接器進行初步試驗,m≥3;初步試驗采用試驗溫度值為Tm,截尾時間為τ的恒定應力加速退化試驗;初步試驗中對m個待檢測電連接器內所有接觸對進行l次電阻值測量;得到所有電連接器內各接觸對在各次檢測中的電阻值rjκk,rjκk表示第j個待檢測電連接器的第κ個接觸對在第k次測量時的接觸電阻,j=1,2,..m,κ=1,2,…N,k=1,2,..s;
初步試驗的對數似然函數如式(9)所示:
其中,ζm=1;△rjκk為第j個樣品的第κ個接觸對第k次測量所得電阻值與第k-1次測量所得電阻值的差值;tjκk為對第j個樣品的第κ個接觸對進行第k次電阻值測量的時刻與試驗起始時刻的時間差,即k·f;tjκ(k-1)為對第j個樣品的第κ個接觸對進行第k-1次電阻值測量的時刻與試驗起始時刻的時間差,即(k-1)·f;
通過極大似然估計法求出L取最大值時對應的a,b,γ0和γ1;
步驟四、以貯存溫度的歸一化應力ζ0下的電連接器中位壽命估計值的方差最小為優化目標,得出優化的目標函數如式(10);
式(10)中,h'為矩陣h的轉置矩陣;Y-1為矩陣Y的逆矩陣;h的表達式如式11所示,
式(11)中,
式(12)、(13)、(14)及(15)中,w的表達式如式(16):
式(10)中,Y的表達式如式(17):
式(17)中,πi為第i組試驗中投入的電連接器數量占總樣本量n的百分比;ζi為第i組試驗所施加的歸一化應力;xi與貯存溫度Ti之間的關系式為xi=1000/(273.15+Ti);Ti及πi均為待優化的試驗參數,i=1,2…,S;
A(ζi)的表達式如式(18):
式(17)中,Cijκk的表達式如式(19):
式(19)中,tijκk為對第i組試驗中第j個樣品的第κ個接觸對進行第k次測量的電阻的時刻與第i組試驗起始時刻的時間差,即k·f;tijκ(k-1)為對第i組試驗中第j個樣品的第κ個接觸對進行第k-1次測量的電阻的時刻與第i組試驗起始時刻的時間差,即(k-1)·f;因此,將式(19)化簡為式(20):
由于N及n已知,故能夠將中的N及n提取出來,得到新的目標函數VM,提取方式如式(21)
步驟五、以0=ζ0<ζz<ζ1<ζ2<…<ζm=1,為約束條件,通過matlab軟件中的fmincon函數進行優化,使得目標函數VM最小,求出πi及ζi,并根據ζi求出S組試驗的試驗溫度Ti,i=1,2…,S;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于浙江理工大學,未經浙江理工大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711247068.X/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種微負載自動檢測電路
- 下一篇:一種運動位置的確定方法及裝置





