[發明專利]光鑷光片顯微成像裝置和方法有效
| 申請號: | 201711246969.7 | 申請日: | 2017-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN108072970B | 公開(公告)日: | 2020-05-05 |
| 發明(設計)人: | 劉辰光;鄭婷婷;陳剛;譚久彬 | 申請(專利權)人: | 哈爾濱工業大學;北京銳馳恒業儀器科技有限公司 |
| 主分類號: | G02B21/00 | 分類號: | G02B21/00;G02B21/18;G02B21/32;G01N21/64 |
| 代理公司: | 北京慕達星云知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人: | 李冉 |
| 地址: | 150001 黑龍*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光鑷光片 顯微 成像 裝置 方法 | ||
1.一種光鑷光片顯微成像裝置,其特征在于,包括:光片照明模塊、光片探測模塊、光鑷聚焦模塊和光鑷軸向調焦模塊:
所述的光片照明模塊按照光線傳播方向依次為:激光器一(1)、擴束鏡(2)、柱面鏡(3)、管鏡一(4)和物鏡一(5);
所述的光片探測模塊按照光線傳播方向依次為:物鏡二(7)、濾光片(20)、收集透鏡(8)、和CCD(9);
所述的光鑷聚焦模塊按照光線傳播方向依次為:偏振分光鏡(13)、管鏡三(12)、管鏡二(11)、和物鏡三(10);
所述的光鑷軸向調焦模塊按照光線傳播方向依次為:激光器二(19)、傳導光纖(18)、準直鏡(17)、偏振分光鏡(13)、四分之一波片(14)、物鏡四(15)和平面反射鏡(16);
所述的光鑷聚焦模塊、光鑷軸向調焦模塊共用偏振分光鏡(13);
被測樣品(6)為培養皿中微米級或納米級懸浮細胞或顆粒狀待測樣品;
所述的光鑷軸向調焦模塊中激光器二(19)發出激光,經過傳導光纖(18)和準直鏡(17)形成平行光,經過偏振分光鏡(13)反射,再經過四分之一波片(14)和物鏡四(15)出射到平面反射鏡(16),光線經平面反射鏡反射后再次先后經過物鏡四(15)和四分之一波片(14),透過偏振分光鏡(13)后進入光鑷聚焦模塊。
2.根據權利要求1所述的一種光鑷光片顯微成像裝置,其特征在于光鑷軸向調焦模塊發射單色激光波長介于750nm-900nm之間,利用物鏡三(10)夾持被測樣品(6);光片照明模塊發射單色激光波長介于350nm-700nm,利用物鏡一(5)形成片狀光照明被測樣品(6)。
3.根據權利要求1所述的一種光鑷光片顯微成像裝置,其特征在于偏振分光鏡(13)反射光偏振方向同激光器二(19)入射光偏振方向相同。
4.根據權利要求1所述的一種光鑷光片顯微成像裝置,其特征在于平面反射鏡(16)軸向移動范圍等于物鏡三(10)的焦深。
5.一種光鑷光片顯微成像方法,該方法是基于權利要求1中所述的光鑷光片顯微成像裝置實現的,其特征在于,包括以下步驟:
步驟a、激光器一(1)發出激發光,經過擴束鏡(2)之后形成平行光,平行光束經過柱面鏡(3)形成片狀光,經過管鏡一(4)、物鏡一(5)透射后在被測樣品(6)上形成片狀光,所述的片狀光激發樣品焦平面發出熒光;
步驟b、激光器二(19)發出激光經偏振分光鏡(13)過四分之一波片(14)和物鏡四(15)透射到平面反射鏡(16)產生反射激光,反射激光經四分之一波片(14)、偏振分光鏡(13)、管鏡三(12)、管鏡二(11)和物鏡三(10)形成聚焦光斑夾住被測樣本中懸浮顆粒;
步驟c、設置平面反射鏡(16)初始位置位于物鏡四(15)的準焦面②,則光鑷聚焦位置位于物鏡三(10)的準焦面②’,設置平面反射鏡(16)軸向掃描范圍D1+D2,則對應光鑷聚焦光斑軸向掃描范圍為D1’+D2’,平面反射鏡(16)位置與光鑷聚焦位置對應關系為D1/D1’=D2/D2’=(M1M2)2;所述D1為平面反射鏡(16)遠焦位移,D1’為光鑷聚焦位置近焦位移,D2為平面反射鏡(16)近焦位移,D2’為光鑷聚焦位置遠焦位移,M1為物鏡四(15)與管鏡三(12)的焦距比值,M2為管鏡二(11)與物鏡三(10)的焦距比值;
步驟d、設置掃描層數為N,則平面反射鏡(16)掃描步進為(D1+D2)/N,光鑷聚焦光斑掃描步進為(D1’+D2’)/N,從而實現快速三維層析掃描。
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