[發(fā)明專利]壓電陶瓷激勵裝置及原子力顯微鏡、表面力場探測裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711244471.7 | 申請日: | 2017-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN109856428A | 公開(公告)日: | 2019-06-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 師帥;郭丹;譚新峰;雒建斌 | 申請(專利權(quán))人: | 清華大學(xué) |
| 主分類號: | G01Q60/24 | 分類號: | G01Q60/24 |
| 代理公司: | 北京華進(jìn)京聯(lián)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11606 | 代理人: | 孫巖 |
| 地址: | 100084*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 壓電陶瓷 激勵裝置 原子力顯微鏡 壓電陶瓷組件 場探測裝置 電信號組 表面力 墊片 電信號激勵 空間分辨率 層疊設(shè)置 堆疊方式 扭轉(zhuǎn)振動 縱向撓曲 非接觸 可用 測量 探測 | ||
1.一種壓電陶瓷激勵裝置,其特征在于,所述壓電陶瓷激勵裝置包括:
第一壓電陶瓷(102)、第二壓電陶瓷組件(103)及第一墊片(101);
所述第一壓電陶瓷(102)、所述第一墊片(101)以及所述第二壓電陶瓷組件(103)層疊設(shè)置,所述第一墊片(101)設(shè)置于所述第一壓電陶瓷(102)與第二壓電陶瓷組件(103)之間;
所述第一壓電陶瓷(102)用于接收第一電信號,并在所述第一電信號激勵下進(jìn)行縱向撓曲振動;
所述第二壓電陶瓷組件(103)用于接收第二電信號組,并在所述第二電信號組激勵下進(jìn)行橫向扭轉(zhuǎn)振動。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的壓電陶瓷激勵裝置,其特征在于,所述第二壓電陶瓷組件(103)包括第三壓電陶瓷(1032)和第四壓電陶瓷(1034),所述第三壓電陶瓷(1032)與第四壓電陶瓷(1034)相對且間隔放置,所述第二電信號組包括相位相反的第三電信號和第四電信號,所述第三壓電陶瓷(1032)用于接收第三電信號,所述第四壓電陶瓷(1034)用于接收第四電信號,且所述第三壓電陶瓷(1032)與第四壓電陶瓷(1034)通過所述第一墊片(101)與所述第一壓電陶瓷(102)間隔設(shè)置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的壓電陶瓷激勵裝置,其特征在于,所述第三壓電陶瓷(1032)與第四壓電陶瓷(1034)設(shè)置于所述第一墊片(101)遠(yuǎn)離所述第一壓電陶瓷(102)的表面,且間隔設(shè)置于所述第一墊片(101)相對的兩個邊緣。
4.一種原子力顯微鏡,其特征在于,包括:
權(quán)利要求1-3中任意一項所述的壓電陶瓷激勵裝置(100);
探針部件(200),與所述壓電陶瓷激勵裝置(100)連接,且所述探針部件(200)能夠接收壓電陶瓷激勵裝置(100)的振動方式,并在所述振動方式的激勵下進(jìn)行振動。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的原子力顯微鏡,其特征在于,
所述探針部件(200)包括探針(210)與探針座(220),所述探針(210)包括懸臂梁(212)、分別與懸臂梁(212)連接的針尖(214)和探針基板(216),所述探針(210)能夠相對于探針座(220)自由伸出;
所述探針座(220)能夠接收壓電陶瓷激勵裝置(100)的振動方式,并通過所述探針基板(216)和懸臂梁(212)傳遞所述振動方式以激勵針尖(214)進(jìn)行振動。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的原子力顯微鏡,其特征在于,所述第一壓電陶瓷(102)與所述探針座(220)貼合設(shè)置,所述第一墊片(101)及第二壓電陶瓷組件(103)依次層疊設(shè)置于所述第一壓電陶瓷(102)的表面。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的原子力顯微鏡,其特征在于,所述第二壓電陶瓷組件(103)與所述探針座(220)貼合設(shè)置,所述第一墊片(101)及第一壓電陶瓷(102)依次層疊設(shè)置于所述第二壓電陶瓷(103)的表面。
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G01Q60-00 特殊類型的SPM [掃描探針顯微術(shù)]或其設(shè)備;其基本組成
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