[發明專利]基于多基地雷達的雜波子空間下目標檢測方法有效
| 申請號: | 201711200637.5 | 申請日: | 2017-11-27 |
| 公開(公告)號: | CN108318877B | 公開(公告)日: | 2021-12-17 |
| 發明(設計)人: | 蘇洪濤;李志華;劉宏偉;趙永波 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學 |
| 主分類號: | G01S13/00 | 分類號: | G01S13/00;G01S13/02;G01S7/41 |
| 代理公司: | 陜西電子工業專利中心 61205 | 代理人: | 王品華;朱紅星 |
| 地址: | 710071 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 基地 雷達 雜波子 空間 目標 檢測 方法 | ||
1.一種基于多基地雷達的雜波子空間下目標檢測方法,包括:
(1)對雷達回波信號進行采集,得到N×L×(K+1)維原始數據矩陣:X=[X1,X2,...,Xn,...,XN],Xn表示第n個雷達站中的原始數據,n=1,2,...,N,N為局部雷達站個數,L為一個非相干積累周期中所包含的脈沖個數,K代表檢測單元附近參考單元個數;
(2)對數據矩陣X中的元素進行廣義似然比檢測,得到N×L×(K+1)維經廣義似然比檢測后的數據矩陣Z=[Z1,Z2,...,Zn,...,ZN],Zn表示Z中的第n個數據元素;
(3)對經廣義似然比檢測后的數據矩陣Z進行數據融合,得到全局檢驗統計向量Y;
(4)根據局部雷達站個數N、脈沖個數L,參考單元個數K,干擾子空間個數D以及全局虛警概率Pfa計算檢驗門限τ:
τ={τ:F(τ|N,1/(K-L+D+1))=Pfa}
其中,Γ(N)=(N-1)!,t表示積分因子,!表示階乘運算;
(5)將全局檢驗統計量Y與檢驗門限τ比較:若Y≥τ,則判決目標存在,若Y<τ,則判決目標不存在。
2.根據權利要求1所述的方法,其中步驟(1)中第n個空間分集通道中的原始數據Xn為L×(K+1)維的矩陣,其表示如下:
其中,xnls表示第n個空間分集通道中第l個脈沖的第s+1個數據,l=1,2,...,L,L為一個非相干積累周期中所包含的脈沖個數,s=0時,xnls代表檢測單元信息,s=1,2,...,K時,xnls代表檢測單元附近參考單元信息,K代表檢測單元附近參考單元個數。
3.根據權利要求1所述的方法,其中步驟(2)中對數據矩陣X中的元素進行廣義似然比檢測,按如下步驟進行:
2.1)根據已知的L×D維結構化干擾子空間矩陣Hn,計算L×(L-D)維干擾補空間Un:
2.1.1)根據已知的L×D維結構化干擾子空間Hn計算L×L維補空間映射En:
En=I-HnHn+,
其中,D表示局部雷達站的干擾源個數,I表示L×L維單位矩陣,(·)+表示共軛偽矩陣;
2.1.2)取L×L維補空間映射En的前(L-D)列元素,構成L×(L-D)維干擾補空間矩陣Un;
2.2)根據L×(L-D)維干擾補空間Un,對原始數據矩陣Xn中的元素進行廣義似然比檢測:
其中,xn0表示原始數據Xn中第一列數據元素,xni表示原始數據Xn中第i+1列數據元素,表示求共軛矩陣,(·)-1表示求矩陣逆運算,(·)T表示求矩陣轉置,|·|2表示求數據模平方。
4.根據權利要求1所述的方法,其中步驟(3)中計算全局檢驗統計向量Y,其步驟如下:
3.1)將經過廣義似然比檢驗后的數據Zn取對數,得到對數似然比檢驗統計量Fn:
Fn=log(Zn);
3.2)對N局部雷達站的對數似然比檢驗統計量Fn求和,得到全局檢驗統計量Y:
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西安電子科技大學,未經西安電子科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711200637.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





