[發明專利]一種溶液表面反射吸光度測定裝置及其應用

有效

• 申請號: 201711199348.8
• 申請日: 2017-11-26
• 公開（公告）號: CN107941719B
• 公開（公告）日: 2023-08-18
• 發明（設計）人: 梁英;黃玥源;張達文;李曉瑜;龐成生
• 申請（專利權）人: 桂林電子科技大學
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31
• 代理公司: 桂林市華杰專利商標事務所有限責任公司 45112
• 代理人: 楊雪梅

1.一種溶液表面反射吸光度測定裝置的應用，其特征在于：利用該溶液表面反射吸光度測定裝置，建立不過濾水樣中亞硝酸根離子的反射吸光光度測定方法，具體是，直接在不過濾水樣中加入亞硝酸根離子顯色劑，反應后，利用裝置測定顯色液的反射吸光度；同時，通過實驗考察反射吸光度與濁度的關系，分析濁度對不過濾水樣顯色液的反射吸光度測定的影響規律，獲得水樣反射吸光度修正公式；利用修正公式，對顯色液的反射吸光度進修正，從而準確定量不過濾水樣中亞硝酸根離子濃度；

所述溶液表面反射吸光度測定裝置，包括底座（1）、光纖（2）、平面鏡（3）和比色皿（4）；

在底座（1）上間隔一定距離，垂直于底座（1）分別設有固定光纖（2）兩端的第一固定塊（5）和第二固定塊（6）；

在第一固定塊（5）上水平開設進光通孔（5-1）用于連接光纖（2）的入射光進口端；

第二固定塊（6）包括一體成型的凸塊（6-1），凸塊（6-1）上垂直開設出光通孔（6-1-1）用于連接光纖（2）的入射光出口端；

在出光通孔（6-1-1）的下方設置平面鏡（3），平面鏡（3）與水平面呈45度角設置；

比色皿（4）緊貼在平面鏡（3）的鏡面上；在底座（1）上，垂直于第二固定塊（6）的底邊（6-2）設置平面鏡（3）的定位槽（7），并在第二固定塊（6）的凸塊（6-1）的一角傾斜開設與水平面呈45度角的卡槽（6-1-2）用于卡放平面鏡（3）；

所述底座（1）上設有定位孔（9），方便與可見分光光度計固定與拆卸。

2.根據權利要求1所述的溶液表面反射吸光度測定裝置的應用，其特征在于：

所述反射吸光光度測定方法，將反射吸光度測定裝置安裝在VIS-723N型可見分光光度計的比色池架基座上，安裝好平面鏡，通過前后滑動反射吸光度測定裝置微調裝置位置，當檢測器接收到最大光強時，即可固定反射吸光度測定裝置，利用儀器的實時測量功能，以超純水為參比，測得的溶液吸光度即為反射吸光度A。

3.根據權利要求1所述的溶液表面反射吸光度測定裝置的應用，其特征在于：

所述獲得水樣反射吸光度修正公式的方法是：配制不同濁度（T）基底的系列亞硝酸根離子標準溶液，參照亞硝酸根離子標準測定方法加入顯色劑溶液，反應20?min，采用上述反射吸光度測定方法，測定各溶液的反射吸光度；分析反射吸光度與亞硝酸根離子濃度和濁度的關系，采用回歸分析方法，獲得濁度對反射吸光度影響的修正公式A_T=f（T）。

4.根據權利要求1所述的溶液表面反射吸光度測定裝置的應用，其特征在于：

所述不過濾水樣中亞硝酸根離子的測定方法，以超純水為基底配制濃度為0-0.64?mg/L范圍內的系列亞硝酸根離子標準溶液50.00?mL，參照亞硝酸根離子標準測定方法加入顯色溶液，反應20?min，按反射吸光度測定方法，在540?nm波長下，測定各標準溶液的反射吸光度A，以亞硝酸根離子濃度為橫坐標，反射吸光度A為縱坐標，繪制標準曲線；取不過濾水樣50.00?mL，按標準曲線測定方法，和標準曲線一樣加入相同量的顯色試劑和反應相同時間后，測定吸光度A_S；同時，按照濁度的標準測定方法^]測定水樣的濁度T，由A_T=f（T）計算A_T，則，將A_S-A_T代入標準曲線回歸方程即可計算不過濾水樣中亞硝酸根離子濃度。