[發明專利]一種紅外探測器非均勻性校正系數的修正方法及裝置

有效

• 申請號: 201711193949.8
• 申請日: 2017-11-24
• 公開（公告）號: CN107976255B
• 公開（公告）日: 2020-05-15
• 發明（設計）人: 戚棟棟
• 申請（專利權）人: 煙臺艾睿光電科技有限公司
• 主分類號: G01J5/00
• 分類號: G01J5/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

本發明實施例公開了一種紅外探測器非均勻性校正系數的修正方法及裝置。其中，方法包括預先利用兩點校正法計算紅外探測器在第一預設溫度時的第一非均勻性校正系數，及在第二預設溫度時的第二非均勻性校正系數；獲取紅外探測器焦平面陣列溫度?溫度修正值表及紅外探測器焦平面陣列的當前溫度，根據當前溫度獲取相對應的溫度修正值；根據第一非均勻性校正系數、第二非均勻性校正系數、溫度修正值計算使用非均勻性校正系數，以作為紅外探測器當前溫度相對應的非均勻性校正系數。本申請提供的技術方案提高了紅外探測器的非均勻性校正系數的標定效率，提高了紅外設備生成的紅外圖像的質量，具有好的社會經濟效益。

技術領域

本發明實施例涉及紅外設備技術領域，特別是涉及一種紅外探測器非均勻性校正系數的修正方法及裝置。

背景技術

紅外探測器為紅外設備的關鍵器件，用于將入射的紅外輻射信號轉變成電信號進行輸出，可用來度量物體的熱量分布。例如，紅外熱像儀為紅外探測器和光學成像物鏡接受被測目標的紅外輻射能量分布圖形反映到紅外探測器的光敏元件上，從而獲得紅外熱像圖，這種熱像圖與物體表面的熱分布場相對應。現代紅外探測器的工作原理一般基于紅外熱效應和光電效應，這兩種效應的輸出為電量，或者可用適當的方法轉變成電量。

紅外機芯在出廠前，即紅外機芯的制造商在紅外機芯推向市場前，會對紅外機芯(即紅外探測器)的非均勻性校正系數進行標定。但是，當紅外探測器的焦平面溫度發生變化后，之前標定的非均勻性校正系數就會失效，而失效的非均勻性校正系數會導致整個紅外設備生成的圖像的固定圖形噪聲增大，影響用戶使用。

現有技術，一般采用常溫下標定紅外探測器的一組系數，然后整個溫區都使用這組系數。但是這組系數只在常溫環境下可得到較好質量的紅外圖像，而在其他溫區(例如高溫、低溫環境)中，圖像劣化嚴重；而采用分溫度段進行標定，即分別在每段溫區對非均勻性校正系數進行標定，不僅耗時長、標定效率低，而且不可避免的需要在高低溫環境下進行標定，設備和人工成本高。

鑒于此，如何用簡單的標定方法標定，標定后可以在整個紅外探測器工作溫度范圍內使之有效使用，提高標定效率，減輕人工成本，是本領域技術人員亟待解決的問題。

發明內容

本發明實施例的目的是提供一種紅外探測器非均勻性校正系數的修正方法及裝置，提高了紅外探測器的非均勻性校正系數的標定效率，減輕人工成本。

為解決上述技術問題，本發明實施例提供以下技術方案：

本發明實施例一方面提供了一種紅外探測器非均勻性校正系數的修正方法，包括：

預先利用兩點校正法計算紅外探測器在第一預設溫度時的第一非均勻性校正系數，及在第二預設溫度時的第二非均勻性校正系數，并獲取紅外探測器焦平面陣列溫度-溫度修正值表；

獲取紅外探測器焦平面陣列的當前溫度，根據所述當前溫度獲取相對應的溫度修正值；

根據所述第一非均勻性校正系數、所述第二非均勻性校正系數、所述溫度修正值計算使用非均勻性校正系數，以作為所述紅外探測器當前溫度相對應的非均勻性校正系數。

可選的，所述根據所述當前溫度獲取相對應的溫度修正值包括：

根據所述當前溫度在預建的紅外探測器焦平面陣列溫度-溫度修正值表中，查找相對應的非均勻性校正系數，以作為所述紅外探測器當前溫度對應的溫度修正值；

所述紅外探測器焦平面陣列溫度-溫度修正值表為所述紅外探測器焦平面陣列的溫度與該溫度下的非均勻性校正系數的對應關系表。

可選的，所述根據所述第一非均勻性校正系數、所述第二非均勻性校正系數、所述溫度修正值計算使用非均勻性校正系數包括：

利用下述公式，根據所述第一非均勻性校正系數、所述第二非均勻性校正系數、所述溫度修正值計算使用非均勻性校正系數：