[發(fā)明專利]一種顯示面板

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711192602.1
• 申請日: 2017-11-24
• 公開（公告）號: CN108010475B
• 公開（公告）日: 2021-06-22
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 安立揚
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

本發(fā)明提出了一種顯示面板，所述顯示面板包括顯示區(qū)域和非顯示區(qū)域；其中，在所述非顯示區(qū)域中設(shè)置了第一開關(guān)單元、第二開關(guān)單元以及至少兩個輸入端，通過所述輸入端對所述第一開關(guān)單元和所述第二開關(guān)單元的進(jìn)行控制，以使所述顯示面板能同時滿足陣列制程測試區(qū)域的單驅(qū)檢測以及配向信號輸入端時信號的雙側(cè)輸入。有益效果：有效保證了所述顯示面板在生產(chǎn)過程中對問題面板檢測的準(zhǔn)確性，提高了所述顯示面板的良品率，降低了生產(chǎn)成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示領(lǐng)域，特別涉及一種顯示面板。

背景技術(shù)

液晶顯示器(Liquid Crystal Display，LCD)是目前市場上應(yīng)用最為廣泛的顯示產(chǎn)品，其生產(chǎn)工藝技術(shù)十分成熟，產(chǎn)品良率高，生產(chǎn)成本相對較低，市場接受度高。而TFT-LCD(Thin FilmTransistor-Liquid Crystal Display，薄膜晶體管液晶顯示器)面板制造行業(yè)已經(jīng)發(fā)展多年，對于產(chǎn)品的生產(chǎn)流程已經(jīng)十分精煉與成熟。

在一塊顯示面板的生產(chǎn)過程中，為了保證利潤最大化，在前期的陣列工藝與中期的成盒工藝都會設(shè)置檢測措施，以篩選出問題產(chǎn)品，及時修補或是廢棄，防止后段制程出現(xiàn)不必要的產(chǎn)能浪費；而對于采用PSVA(polymer stabilized vertical alignment，聚合物穩(wěn)定垂直配向)模式的TFT-LCD，在中期的成盒工藝完成后，會進(jìn)行HVA(High VerticalAlignment，高垂直排列)光配向制程使液晶分子發(fā)生偏轉(zhuǎn)，光配向的過程可以總結(jié)為：面板成盒后，通過預(yù)留的配向信號輸入端子對面板顯示單元施加電壓信號，再通過紫外光照射，讓液晶分子保持一定的轉(zhuǎn)向。

圖1所示為現(xiàn)有技術(shù)中一種顯示面板的外圍走線示意圖A，陣列制程測試端子102(103)，配向信號輸入端子104(105)等等以及相應(yīng)走線如圖1中所示，對于前段陣列工藝制程的檢測方法是在預(yù)留的陣列制程測試端子102(103)上施加檢測信號，并在陣列基板上方放置液晶盒，模擬正常顯示時液晶面板的狀態(tài)，若發(fā)現(xiàn)液晶盒顯示異常便可推測出陣列基板出現(xiàn)問題。

下面以55寸大型的液晶顯示器為例，其他尺寸產(chǎn)品在空間允許時幾乎都采用與之相似的設(shè)計。配向信號輸入端子104(105)位于面板短邊側(cè)，每側(cè)各有一組，相同信號間通過配向信號輸入端走線連接；陣列制程測試端子102(103)位于面板長邊側(cè)的單側(cè)，左右各有一組，分別與配向信號輸入端走線上的相同信號線連接，并連接至陣列制程測試端子106(107)上，經(jīng)過陣列制程測試端子106(107)連入面內(nèi)；

在這種設(shè)計中，左右兩側(cè)的陣列制程測試端子102(103)都與配向信號輸入端走線相連接，在配向制程時，配向信號輸入端子104(105)上的信號可以傳輸至左右兩側(cè)的陣列制程測試端子106(107)，并同時傳導(dǎo)至面內(nèi)，信號較均勻，配向效果較好。但這種信號由于陣列制程測試端子102(103)無法獨立施加信號，左右兩側(cè)的陣列制程測試端子102(103)都與配向信號輸入端走線連接，對左面施加信號右邊也會有，反之亦然)，因此無法進(jìn)行陣列制程測試端單驅(qū)檢測，對于面內(nèi)的走線漏檢的發(fā)生率較高，造成產(chǎn)品良率較低。

圖2所示為現(xiàn)有技術(shù)中一種顯示面板的外圍走線示意圖B，這種走線設(shè)計可以實現(xiàn)陣列制程測試端子202(203)單驅(qū)檢測。如圖2所示，只有單側(cè)的陣列制程測試端子202(203)與配向信號輸入端走線相連，另一側(cè)的陣列制程測試端子202(203)跳過配向信號輸入端走線，直接與陣列制程測試端子206(207)相連；

這種設(shè)計左右兩側(cè)的陣列制程測試端子202(203)互不連通，可實現(xiàn)陣列制程測試端子的單驅(qū)檢測。但這種設(shè)計由于右側(cè)的陣列制程測試端子206(207)并未與配向信號輸入端走線相連，所以在光配向時，在配向信號輸入端上施加的電壓信號只通過左側(cè)的陣列制程測試端子206(207)傳輸至面內(nèi)，面內(nèi)信號不均極容易出現(xiàn)配向不良的現(xiàn)象，造成產(chǎn)品批次性的顯示問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供了一種顯示面板，可以同時滿足陣列制程測試端子的單驅(qū)檢測以及配向信號輸入端時信號的雙側(cè)輸入。