[發(fā)明專(zhuān)利]一種鋰離子電池用隔膜熱收縮率的檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711188818.0 | 申請(qǐng)日: | 2017-11-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108051471A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-05-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫磊;安富強(qiáng) | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 山西長(zhǎng)征動(dòng)力科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N25/16 | 分類(lèi)號(hào): | G01N25/16 |
| 代理公司: | 北京紐樂(lè)康知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11210 | 代理人: | 李景華 |
| 地址: | 048404 山*** | 國(guó)省代碼: | 山西;14 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 鋰離子電池 隔膜 收縮 檢測(cè) 方法 | ||
1.一種鋰離子電池用隔膜熱收縮率的檢測(cè)方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1:用烘箱對(duì)內(nèi)部盛有平整高嶺土的方形匣體進(jìn)行預(yù)熱,其中,高嶺土中埋有測(cè)溫?zé)犭娕迹?/p>
步驟2:測(cè)量方形待測(cè)隔膜邊長(zhǎng),將方形待測(cè)隔膜平鋪在高嶺土中部后用烘箱進(jìn)行加熱至檢測(cè)溫度后保溫;
步驟3:取出方形匣體,待降至室溫后測(cè)量隔膜邊長(zhǎng),分別計(jì)算隔膜橫向和縱向的熱收縮率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種鋰離子電池用隔膜熱收縮率的檢測(cè)方法,其特征在于,所述方形匣體材料為石墨,所述高嶺土的厚度為20mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種鋰離子電池用隔膜熱收縮率的檢測(cè)方法,其特征在于,步驟2中,所述隔膜與方形匣體內(nèi)壁的距離大于等于50mm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種鋰離子電池用隔膜熱收縮率的檢測(cè)方法,其特征在于,步驟1和步驟2中,所述加熱過(guò)程中,方形匣體與烘箱內(nèi)壁的距離大于等于50mm。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種鋰離子電池用隔膜熱收縮率的檢測(cè)方法,其特征在于,步驟3中,所述隔膜橫向熱收縮率的計(jì)算公式為:
ΔL=
其中,L
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種鋰離子電池用隔膜熱收縮率的檢測(cè)方法,其特征在于,步驟3中,所述隔膜縱向熱收縮率的計(jì)算公式為:
ΔT=
其中,T
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于山西長(zhǎng)征動(dòng)力科技有限公司,未經(jīng)山西長(zhǎng)征動(dòng)力科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711188818.0/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N25-00 應(yīng)用熱方法測(cè)試或分析材料
G01N25-02 .通過(guò)測(cè)試材料的狀態(tài)或相的變化;通過(guò)測(cè)試燒結(jié)
G01N25-14 .利用蒸餾、萃取、升華、冷凝、凍結(jié)或結(jié)晶
G01N25-16 .通過(guò)測(cè)試熱膨脹系數(shù)
G01N25-18 .通過(guò)測(cè)試熱傳導(dǎo)
G01N25-20 .通過(guò)測(cè)量熱的變化,即量熱法,例如通過(guò)測(cè)量比熱,測(cè)量熱導(dǎo)率
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





