[發明專利]光學檢測組件在審
| 申請號： | 201711184423.3 | 申請日： | 2017-11-23 |
| 公開（公告）號： | CN108132138A | 公開（公告）日： | 2018-06-08 |
| 發明（設計）人： | 林蘇逸 | 申請（專利權）人： | 矽力杰半導體技術(杭州)有限公司 |
| 主分類號： | G01M11/00 | 分類號： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京成創同維知識產權代理有限公司 11449 | 代理人： | 蔡純;范芳茗 |
| 地址： | 310012 浙江省杭州市*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 光電感應器件 光學檢測組件 發光器件 出光開口 基板 殼體 第一腔室 轉換成電信號 法線方向 光束照射 光學串擾 遮光材料 反射光 光器件 光照射 主表面 側壁 容納 申請 開發 | ||
1.一種光學檢測組件，包括：
基板；
設置在基板上的發光器件和光電感應器件，所述發光器件產生的光照射在物體上，所述光電感應器件將所述物體的反射光轉換成電信號；以及
設置在基板上的殼體，所述殼體由遮光材料組成，包括容納所述發光器件的第一腔室，以及隔開所述發光器件和所述光電感應器件的側壁，
其中，所述殼體還包括位于所述第一腔室頂部的至少一個出光開口，所述至少一個出光開口的軸線相對于所述光電感應器件的主表面的法線方向成傾斜角，使得所述發光器件產生的光形成傾斜的光束照射在所述物體上。
2.根據權利要求1所述的光學檢測組件，其中，所述至少一個出光開口的軸線相對于所述光電感應器件的主表面的法線方向順時針或逆時針逆轉形成所述傾斜角。
3.根據權利要求1所述的光學檢測組件，其中，所述傾斜角在2至30度的范圍內。
4.根據權利要求1所述的光學檢測組件，其中，所述至少一個出光開口的孔徑比大于0.8，所述孔徑比為標稱深度與標稱寬度的比值。
5.根據權利要求1所述的光學檢測組件，其中，所述至少一個出光開口的截面形狀為選自矩形、圓形、橢圓形、跑道形、月牙形的任一種。
6.根據權利要求1所述的光學檢測組件，其中，所述發光器件的至少一部分位于所述至少一個出光開口的下方。
7.根據權利要求1所述的光學檢測組件，其中，所述殼體還包括從所述側壁朝著所述光電感應器件橫向延伸的突出部，所述側壁和所述突出部一起作為隔板。
8.根據權利要求1所述的光學檢測組件，還包括：透明封裝料，覆蓋所述光電感應器件。
9.根據權利要求1所述的光學檢測組件，其中，所述殼體還包括用于容納所述光電感應器件的第二腔室，以及位于所述第二腔室頂部的接收開口。
10.根據權利要求1所述的光學檢測組件，還包括，位于所述基板上方的蓋板，所述蓋板包括透明覆蓋層和遮擋層，所述遮擋層用于遮擋所述覆蓋層的一部分，從而形成光通過的開口。
11.根據權利要求10所述的光學檢測組件，其中，所述蓋板與所述殼體之間的間隙小于1mm。
12.根據權利要求1所述的光學檢測組件，其中，所述發光器件和所述光電感應器件的距離為1mm。
13.根據權利要求1所述的光學檢測組件，還包括：信號處理電路，與所述光電感應器件相連接并且一起形成接收電路。
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