[發明專利]毫米波段微波極化參數測量系統

在審

• 申請號: 201711143465.2
• 申請日: 2017-11-17
• 公開（公告）號: CN109799445A
• 公開（公告）日: 2019-05-24
• 發明（設計）人: 王賀;黃梅;張峰
• 申請（專利權）人: 核工業西南物理研究院
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 核工業專利中心 11007
• 代理人: 高安娜

1.一種毫米波段微波極化參數測量系統，包括依次連接的波源單元(1)、被測單元(2)和微波參數檢測單元(3)，其特征在于：所述的微波參數檢測單元(3)包括方波導喇叭天線(17)和正交模式轉換器(18)，還包括在正交模式轉換器(18)兩個輸出端分別依次連接的檢測隔離器(19)、混頻器(20)、放大器(21)、濾波器(22)和衰減器(24)，其中一路輸出上的濾波器(22)和衰減器(24)之間加入移相器(23)，兩路輸出都與單片集成電路(25)的輸入端連接，在上述兩個混頻器(20)的輸入端分別連接本振源(26)，使微波經過混頻器時分別與本振源(26)混頻。

2.如權利要求1所述的毫米波段微波極化參數測量系統，其特征在于：所述的波源單元1包括依次連接的壓控振蕩器(5)、倍頻器(6)、波源單元隔離器(7)、濾波器(8)、放大器(9)、可變衰減器(10)、波紋天線(11)、透鏡(13)。

3.如權利要求2所述的毫米波段微波極化參數測量系統，其特征在于：所述的波紋天線(11)、透鏡(13)之間設有線柵(12)。

4.如權利要求1所述的毫米波段微波極化參數測量系統，其特征在于：所述的被測單元(2)包括三段波紋波導(14)、兩個換向波導(15)以及位于換向波導(15)上的極化鏡(16)；三段波紋波導(14)即波紋波導a、波紋波導b、波紋波導c，兩個換向波導(15)即換向波導a、換向波導b；所述的波紋波導a與波紋波導b垂直，波紋波導b與波紋波導c垂直，換向波導a設于波紋波導a與波紋波導b之間，換向波導b設于波紋波導b與波紋波導c之間。

5.如權利要求1～4任意一項所述的毫米波段微波極化參數測量系統，其特征在于：所述的單片集成電路(25)為芯片AD8302。

6.如權利要求1～4任意一項所述的毫米波段微波極化參數測量系統，其特征在于：所述的本振源(26)包括依次連接的微波功率源(27)、倍頻器(28)、隔離器(29)、濾波器(30)、功分器(31)和兩個低通濾波器(32)，所述的兩個低通濾波器(32)分別位于功分器(31)的兩路輸出端上，所述的兩個低通濾波器(32)輸出端分別連接所述的兩個混頻器(20)的輸入端。

7.如權利要求1～4任意一項所述的毫米波段微波極化參數測量系統，其特征在于：所述的微波功率源(27)為低功率微波源VCO。