[發明專利]電化學阻抗譜在傳感器系統、設備以及相關方法中的應用

在審

• 申請號: 201711128689.6
• 申請日: 2013-05-24
• 公開（公告）號: CN108143416A
• 公開（公告）日: 2018-06-12
• 發明（設計）人: 楊寧;拉加萬得赫爾·戈特姆;布拉德利·C·良;拉吉夫·什哈;凱瑟琳·M·希曼;邁克爾·E·米勒;王振漢;李亦文;韋恩·A·摩根;帕里斯·鄭;羅伯特·C·穆契奇;熱尼瓦爾·D·德巴羅斯;卡洛斯·A·卡利喬斯;曼朱納斯·斯里吉里;約瑟夫·保羅·布林森
• 申請（專利權）人: 美敦力迷你邁德公司
• 主分類號: A61B5/053
• 分類號: A61B5/053;A61B5/1473;A61B5/1486;A61B5/1495
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫

1.一種對傳感器的工作電極的靈敏度損失進行實時檢測的方法，所述方法包括：

定期執行電化學阻抗譜EIS程序以產生關于所述工作電極的多組阻抗相關數據；

基于所述多組阻抗相關數據計算一個或多于一個阻抗相關參數的值；

隨時間監測所述值；以及

基于所述值，確定所述工作電極是否正在經歷靈敏度損失。

2.如權利要求1所述的方法，其中，每個定期EIS程序在預定的頻率范圍內執行。

3.如權利要求1所述的方法，其中，所述多組阻抗相關數據中的每一組包括基本獨立于葡萄糖的至少一個阻抗相關參數的數據。

4.如權利要求1所述的方法，其中，所述至少一個阻抗相關參數或多于一個阻抗相關參數包括虛阻抗、實阻抗和相位角。

5.如權利要求4所述的方法，其中，計算所述電極的1kHz虛阻抗的值、0.1Hz實阻抗的值以及相對較高的頻率相位角的值。

6.如權利要求5所述的方法，其中，基于計算的1kHz虛阻抗的值，計算的0.1Hz實阻抗的值、以及計算的相對較高的頻率相位角的值，確定所述電極是否正在經歷氧缺乏導致的靈敏度損失。

7.如權利要求6所述的方法，其中，所述電極包括對電極，所述方法還包括基于對電極電壓是否在范圍內來識別所述靈敏度損失。

8.如權利要求1所述的方法，其中，所述至少一個阻抗相關參數或多于一個阻抗相關參數包括虛阻抗和實阻抗。

9.如權利要求8所述的方法，其中，計算1kHz虛阻抗的值、1kHz實阻抗的值和0.1Hz實阻抗的值。

10.如權利要求9所述的方法，其中，基于計算的1kHz虛阻抗的值、計算的1kHz實阻抗的值和計算的0.1Hz實阻抗的數值，確定所述電極是否正在經歷由生物污染引起的靈敏度損失。

11.如權利要求10所述的方法，其中，所述傳感器包括多個冗余工作電極，其中，對所述多個工作電極中的每一個執行所述定期EIS程序，從而產生關于每個工作電極的多組阻抗相關數據，其中，計算每個工作電極的一個或多于一個阻抗相關參數的值，并且，其中，通過將至少一個工作電極的所述值與所述多個工作電極中的至少一個第二工作電極的所述值隨時間進行比較確定每個工作電極的靈敏度損失。