[發明專利]一種計算機性能衰減測試裝置

在審

• 申請號: 201711110692.5
• 申請日: 2017-11-12
• 公開（公告）號: CN107643966A
• 公開（公告）日: 2018-01-30
• 發明（設計）人: 向龍;譚映紅;陳韋韋
• 申請（專利權）人: 佛山鑫進科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;H05K7/20
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明屬于測試裝置相關技術領域，具體涉及一種計算機性能衰減測試裝置。

背景技術

計算機的性能主要有由硬盤的性能和集成電路（芯片）的性能共同決定的，最先進的集成電路是微處理器或多核處理器的核心,可以控制電腦到手機到數字微波爐的一切，存儲器和ASIC是其他集成電路家族的例子，對于現代信息社會非常重要。雖然設計開發一個復雜集成電路的成本非常高，但是當分散到通常以百萬計的產品上，每個IC的成本最小化。IC的性能很高，因為小尺寸帶來短路徑，使得低功率邏輯電路可以在快速開關速度應用。

能夠測試出硬盤和集成電路性能的測試裝置日益成為人們所需的一種產品。

現有技術的測試裝置存在以下問題：1、測試裝置在檢測計算機的硬盤或集成電路的時候高速運轉會產生大量的熱能，如果不能及時清理出去的話，會導致測試裝置的測試結果產生偏差，嚴重時會對裝置造成損害減少其使用壽命；2、市場上的測試裝置的測試功能較為單一，要么只能測試硬盤，要么只能測試集成電路。

發明內容

本發明的目的在于提供一種計算機性能衰減測試裝置，以解決上述背景技術中提出的測試裝置散熱性能不好以及測試功能單一的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種計算機性能衰減測試裝置，包括測試儀機殼和散熱扇，所述測試儀機殼的頂部設置有四個均勻分布的緩沖墊，所述測試儀機殼的兩側設置有相互對稱的通風槽，所述測試儀機殼的上方設置有手提桿，兩個相互對稱的所述散熱扇安裝在測試儀機殼的頂部，所述散熱扇的外側設置有散熱扇保護罩，所述測試儀機殼的正面設置有顯示屏，所述顯示屏的下方設置有電源接口，所述電源接口的一側設置有USB接口，所述USB接口的另一側設置有電源開關，所述電源開關遠離USB接口的一側設置有指示燈，所述顯示屏的一側設置有硬盤測試模塊，所述硬盤測試模塊的下方設置有數字集成電路測試功能模塊，所述數字集成電路測試功能模塊的底部設置有模擬集成電路測試功能模塊。

優選的，所述手提桿通過緊固螺絲安裝在測試儀機殼的頂部。

優選的，所述硬盤測試模塊與測試儀機殼、數字集成電路測試功能模塊與測試儀機殼、模擬集成電路測試功能模塊與測試儀機殼和通風槽與測試儀機殼均為一體式結構。

優選的，所述電緩沖墊與測試儀機殼的連接方式為螺紋連接。

優選的，所述電源開關與顯示屏、硬盤測試模塊與顯示屏、數字集成電路測試功能模塊與顯示屏和模擬集成電路測試功能模塊與顯示屏的連接方式均為電性連接。

優選的，所述散熱扇保護罩與測試儀機殼的連接方式為卡合連接。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：

1、本發明在裝置的頂部設置散熱扇，在裝置的兩側設置通風槽，通過安裝的這兩種設備，可有效的將測試裝置高速運轉時產生的熱能散去，保護了裝置的持久運行，并產生精確的數據，還提高了檢測裝置的使用壽命。

2、本發明將硬盤檢測裝置和集成電路檢測裝置結合在一起，可對計算機內的主要兩個結構裝置進行檢測，使得測試裝置的檢測效率得到較大的提升。

附圖說明

圖1為本發明的結構示意圖；

圖2為本發明的俯視圖；

圖3為本發明的側視圖；

圖中：1、顯示屏；2、測試儀機殼；3、散熱扇保護罩；4、散熱扇；5、手提桿；6、電源接口；7、USB接口；8、電源開關；9、指示燈；10、緩沖墊；11、硬盤測試模塊；12、數字集成電路測試功能模塊；13、模擬集成電路測試功能模塊；14、緊固螺絲；15、通風槽。

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。