[發明專利]一種程控步進衰減器可靠性測試方法、系統及裝置

在審

• 申請號: 201711104620.X
• 申請日: 2017-11-10
• 公開（公告）號: CN107727976A
• 公開（公告）日: 2018-02-23
• 發明（設計）人: 谷帆;王金龍;祝杰;許延峰;尹沃良
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十一研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 濟南圣達知識產權代理有限公司37221
• 代理人: 張勇

技術領域

本發明屬于電子測試的技術領域，尤其是涉及一種程控步進衰減器可靠性測試方法、系統及裝置，可同時用于多套程控步進衰減器的可靠性測試。

背景技術

程控步進衰減器是射頻微波測量儀器、系統中重要的微波部件，其可靠性對系統的穩定運行有著決定性的影響。在生產調試過程中，應當針對程控步進衰減器做出大數據量、長時間的測試來保證其可靠性。

現有的程控步進衰減器可靠性測試方案是使用矢量網絡分析儀平臺改裝硬件系統，基于TestCenter編制的可靠性測試平臺，根據最大的端口數量，同時連接4套程控步進衰減器，進行較為快速的可靠性測試試驗。主體是AV3629矢量網絡分析儀，其具有8端口，添加四個衰減器控制端。測試方案運行時，首先要求進行直通校準，然后根據TestCenter編制的測試軟件將矢量網絡分析儀設置為點頻，改變控制信號使被測程控步進衰減器切換直通和各級衰減，同時控制矢量網絡分析儀四個衰減器控制端測試衰減值和直通值并寫入表格。現有的測試方案實現自動化測試，較大程度地節省了人力和時間。

但是，現有的測試方案也存在諸多問題和不足，具體如下：

(1)現有的測試方案基于矢量網絡分析儀平臺的改裝，結構、電路受限，根據最大的端口數量，只能實現四個程控步進衰減器的同時測試，很難再拓展同時測試的被測件數量；

(2)現有的測試方案對完整的網絡分析儀改裝，平臺成本比較高；

(3)由于現有的測試方案的測試原理是借助矢量網絡分析儀的S參數測試來準確測量點頻上的信號衰減，所以最快測試速度受到一定的限制。

綜上所述，針對現有技術中存在的上述問題，需要一種結構更加簡單低成本、測試速度更快，同時間測試被測件數量更大的測試方法、系統及裝置。

發明內容

針對現有技術中存在的不足，解決現有技術中程控步進衰減器可靠性測試方案結構復雜、同時間測試被測件較少無法擴展測試數量、系統成本高、最快測試速度受限的問題，本發明提供了一種程控步進衰減器可靠性測試方法、系統及裝置，有效實現多個程控步進衰減器更加高效快速、簡單低成本的可靠性測試，以滿足日益增長的程控步進衰減器的測試需求。

本發明的第一目的是提供一種程控步進衰減器可靠性測試系統。

為了實現上述目的，本發明采用如下一種技術方案：

一種程控步進衰減器可靠性測試系統，該系統包括：主控計算機，程控電源，頻率發生裝置，和安裝在主控計算機內實現與被測程控步進衰減器連接的數字I/O裝置和數據采集裝置；

所述主控計算機通過所述數字I/O裝置向被測程控步進衰減器提供控制信號；所述頻率發生裝置向被測程控步進衰減器提供點頻信號；所述數據采集裝置采集經過檢波裝置的被測程控步進衰減器的衰減信號傳輸至所述主控計算機進行測試；

所述數字I/O裝置和所述數據采集裝置的接口數根據被測程控步進衰減器的級數和數量上限確定。

在本發明中，采用主控計算機、數字I/O裝置、頻率發生裝置和數據采集裝置與被測程控步進衰減器構成信號通路，進行程控步進衰減器可靠性測試，替代了現有測試方案中的使用矢量分析網絡分析儀平臺改裝的硬件系統，結構、原理簡單，成本控制更優；根據被測程控步進衰減器的級數和數量上限，可選用接口數量更多的數字I/O裝置和數據采集裝置，保證更多套被測程控步進衰減器同時測試，有效提高了程控步進衰減器可靠性測試系統的效率。

作為進一步的優選方案，所述頻率發生裝置輸出的點頻信號經過衰減網絡調整點頻信號幅度，使被測程控步進衰減器的衰減信號位于所述檢波裝置的最優線性區間內。

在本發明中，在頻率發生裝置與被測程控步進衰減器之間增加衰減網絡，有效保證通過各種單級衰減后的信號落入檢波裝置最優的線性區間內，將被測程控步進衰減器的衰減信號通過檢波裝置得到檢波電壓。

作為進一步的優選方案，所述數據采集裝置的接口數等于同時測量的被測程控步進衰減器的數量上限。

作為進一步的優選方案，所述數字I/O裝置的接口數根據被測程控步進衰減器的級數上限結合被測程控步進衰減器的數量上限確定，且至少為被測程控步進衰減器的級數上限的兩倍。

作為進一步的優選方案，所述主控計算機通過通用接口總線連接程控直流電源，所述程控直流電源與被測程控步進衰減器連接，所述主控計算機控制所述程控直流電源輸出驅動電壓驅動被測程控步進衰減器。

本發明的第二目的是提供一種程控步進衰減器可靠性測試方法。

為了實現上述目的，本發明采用如下一種技術方案：