[發(fā)明專利]無源UHFRFID標簽讀寫器協議性能測試裝置及方法

在審

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• 申請日: 2017-11-09
• 公開（公告）號: CN107958170A
• 公開（公告）日: 2018-04-24
• 發(fā)明（設計）人: 冀京秋;蔣亦青;邱落;張雷
• 申請（專利權）人: 中京復電(上海)電子科技有限公司
• 主分類號: G06K7/00
• 分類號: G06K7/00;H04B5/00
• 代理公司: 上海諾衣知識產權代理事務所(普通合伙)31298
• 代理人: 韓國輝

技術領域

本發(fā)明涉及射頻標簽技術領域，尤其涉及一種無源UHF RFID標簽讀寫器協議性能測試裝置及方法。

背景技術

射頻識別技術是二十世紀九十年代興起的一種無線的、非接觸方式的自動識別技術，是近幾年發(fā)展起來的前沿科技項目。該技術主要是利用射頻信號通過空間耦合實現無接觸信息傳遞并通過所傳遞的信息達到識別目的。射頻識別技術的顯著優(yōu)點在于非接觸性，因此完成識別工作時無需人工干預，能夠實現識別自動化且不易損壞；可識別高速運動的射頻標簽，也可同時識別多個射頻標簽，操作快捷方便；射頻標簽不怕油漬、灰塵污染等惡劣環(huán)境，且可以穿透非金屬物體進行識別，抗干擾能力強。

現有的射頻標簽技術中，無源UHF RFID(特高頻射頻標簽)被廣泛的應用于物聯網中，其中標簽讀寫器是配合無源UHF RFID工作的主要設備，然而，由于目前缺少對無源UHF RFID標簽讀寫器的測試設備和測試方法，使得各種工作指標不統一的無源UHF RFID標簽讀寫器流入終端領域，造成物聯網或者相應的使用環(huán)境工作不穩(wěn)定。

發(fā)明內容

針對現有技術中存在的上述問題，現提供一種無源UHF RFID標簽讀寫器協議性能測試裝置及方法。

為實現上述目的，本發(fā)明采用了如下的技術方案：

一種無源UHF RFID標簽讀寫器協議性能測試裝置，其中，包括一移動平臺，一RFID標簽，所述RFID標簽固定于所述移動平臺的移動部上，以及一待測試RFID標簽讀寫器，所述待測試RFID標簽讀寫器與所述移動部具有一預定距離，所述RFID標簽的天線與所述待測試RFID標簽讀寫器的天線之間的方向為最佳耦合方向。

本發(fā)明的另一方面，所述移動部與所述待測試RFID標簽讀寫器之間的初始距離為0.5米。

本發(fā)明的另一方面，所述RFID標簽的工作頻率為840MHz～845MHz和/或920MHz～925MHz。

本發(fā)明的另一方面，所述RFID標簽的讀取靈敏度優(yōu)于-16dBm。

本發(fā)明的另一方面，所述待測試RFID標簽讀寫器的天線的極化方式為圓極化。

本發(fā)明的另一方面，所述待測試RFID標簽讀寫器的天線的增益為12dBi。

本發(fā)明還包括一種無源UHF RFID標簽讀寫器協議性能測試方法，其特征在于，應用上述的無源UHF RFID標簽讀寫器協議性能測試裝置，還包括如下步驟：

步驟1，根據測試項目定義復數個測試用例，并選取一測試用例；

步驟2，根據選取的所述測試用例設置所述待測試RFID標簽讀寫器參數；

步驟3，使所述待測試RFID標簽讀寫器向所述RFID標簽發(fā)送指令；

步驟4，判斷所述待測試RFID標簽讀寫器是否接收到所述RFID標簽的正確應答，如否則測試失敗，并退出；

步驟5，使所述移動部以預定步長向一預定方向移動，并保持所述RFID標簽的天線與所述待測試RFID標簽讀寫器的天線之間的方向；

步驟6，使所述待測試RFID標簽讀寫器向所述RFID標簽發(fā)送指令；

步驟7，記錄所述待測試RFID標簽讀寫器是否接收到所述RFID標簽的正確應答，如是則返回所述步驟5直至當前測試用例中的測試距離測試完畢；

步驟8，選取下一測試用例，并重復所述步驟2至所述步驟7，直至所有所述測試用例測試完畢。

本發(fā)明的另一方面，當所述移動部與所述待測試RFID標簽讀寫器的天線距離為3米以內時，所述預定步長為0.5米；

當所述移動部與所述待測試RFID標簽讀寫器的天線距離大于3米小于等于10米時所述預定步長為1米；

當所述移動部與所述待測試RFID標簽讀寫器的天線距離大于10米時所述預定步長為2米。

本發(fā)明的另一方面，所述測試項目包括讀寫器不同距離連續(xù)讀測試、讀寫器寫距離測試、讀寫器識別距離測試。

本發(fā)明獲得了以下有益效果：

可對無源UHF RFID標簽讀寫器協議性能進行各項性能指標和工作狀態(tài)的測試。

附圖說明

圖1為本發(fā)明無源UHF RFID標簽讀寫器協議性能測試裝置的結構示意圖；

圖2為本發(fā)明無源UHF RFID標簽讀寫器協議性能測試方法的流程框圖。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例對本發(fā)明作進一步說明，但不作為本發(fā)明的限定。