[發明專利]PCB產品的過程管控方法和系統在審
| 申請號: | 201711098243.3 | 申請日: | 2017-11-09 |
| 公開(公告)號: | CN108037739A | 公開(公告)日: | 2018-05-15 |
| 發明(設計)人: | 劉文敏;李學喆;邱勇萍;李文杰;宮立軍 | 申請(專利權)人: | 廣州興森快捷電路科技有限公司;深圳市興森快捷電路科技股份有限公司;宜興硅谷電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G05B19/418 | 分類號: | G05B19/418;G06F17/30 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 周清華 |
| 地址: | 510663 廣東省廣州市廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | pcb 產品 過程 方法 系統 | ||
1.一種PCB產品的過程管控方法,其特征在于,包括:
獲取PCB產品的歷史缺陷信息,根據所述歷史缺陷信息構建缺陷庫;所述缺陷庫中的信息包括多條缺陷記錄,每條缺陷記錄包括缺陷名稱、缺陷情況信息、缺陷偵測站點、缺陷產生站點以及缺陷產生機理;
檢測PCB產品生產過程時,在每個站點檢測產生的缺陷事件信息,所述缺陷事件信息包括缺陷情況信息、缺陷偵測站點以及缺陷產生站點;
根據所述缺陷事件信息查詢所述缺陷庫,得到缺陷事件對應的缺陷記錄;
根據所述缺陷記錄中的缺陷產生機理信息,生成針對所述缺陷事件的管控指令,根據所述管控指令管控所述PCB產品生產過程中的缺陷事件。
2.根據權利要求1所述的PCB產品的過程管控方法,其特征在于,在構建缺陷庫的步驟中還包括:根據預先定義的缺陷結構化體系對缺陷庫中的缺陷名稱進行分類處理;
所述缺陷結構化體系中自上而下包括:產品類型、產品原材料、PCB組成結構、加工工藝、加工工藝形成的中間對象、加工工藝形成的最小單元、最小單元的屬性分類以及缺陷類型。
3.根據權利要求2所述的PCB產品的過程管控方法,其特征在于,所述根據預先定義的缺陷結構化體系對缺陷庫中的缺陷名稱進行分類處理的步驟包括:
根據PCB產品的類型,確定缺陷名稱的一級分類屬性,其中,所述一級分類屬性的一級屬性內容為產品類型;
確定缺陷名稱的一級分類屬性之后,根據屬于同一個一級分類屬性下產品的原材料信息,確定缺陷名稱的二級分類屬性;
確定缺陷名稱的二級分類屬性之后,根據屬于同一個二級分類屬性下的PCB組成結構,確定缺陷名稱的三級分類屬性;
確定缺陷名稱的三級屬性之后,根據屬于同一個三級分類屬性下的加工工藝,確定缺陷名稱的四級分類屬性;
確定缺陷名稱的四級分類屬性之后,根據屬于同一個四級分類屬性下的加工工藝形成的中間對象,確定缺陷名稱的五級分類屬性;
確定缺陷名稱的五級分類屬性之后,根據屬于同一個五級分類屬性下的加工工藝形成的最小單元,確定缺陷名稱的六級分類屬性;
確定缺陷名稱的六級分類屬性之后,根據屬于同一個六級分類屬性下的最小單元的屬性分類,確定缺陷名稱的七級分類屬性;
確定缺陷名稱的七級分類屬性之后,根據屬于同一個七級分類屬性下的缺陷類型,確定對應的缺陷名稱。
4.根據權利要求3所述的PCB產品的過程管控方法,其特征在于,所述檢測PCB產品生產過程時,在每個站點檢測產生的缺陷事件信息的步驟,包括:
在PCB產品生產過程時,獲取缺陷事件的偵測站點,在每個偵測站點檢測是否產生缺陷事件,根據所述偵測站點的偵測結果,確定缺陷事件的產生站點;
采集缺陷圖片、形態特征以及缺陷在PCB的位置,根據缺陷圖片、形態特征以及缺陷在PCB的位置生成所述缺陷情況信息;
根據所述偵測站點、所述產生站點以及所述缺陷情況信息生成缺陷事件對應的缺陷事件信息。
5.根據權利要求2所述的PCB產品的過程管控方法,其特征在于,所述根據所述缺陷事件信息查詢所述缺陷庫,得到缺陷事件對應的缺陷記錄的步驟,包括:
根據缺陷事件信息中包含的缺陷情況信息,查詢所述缺陷庫,得到缺陷事件對應的缺陷名稱;
根據缺陷名稱,得到缺陷庫中所述缺陷事件對應的缺陷記錄。
6.根據權利要求1所述的PCB產品的過程管控方法,其特征在于,在生成針對所述缺陷事件的管控指令之后,還包括:
根據缺陷事件對應的缺陷記錄,確定缺陷事件的缺陷產生站點,根據所述缺陷產生機理信息以及所述缺陷產生站點,將所述管控指令發送至缺陷產生站點。
7.根據權利要求6任一項所述的PCB產品的過程管控方法,其特征在于,所述根據所述管控指令管控所述PCB產品生產過程中的缺陷事件的步驟,包括:
解析所述管控指令,得到針對各個站點的修改指令,所述各個站點執行所述修改指令,管控所述PCB產品生產過程中的缺陷事件。
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