[發(fā)明專利]一種雙路VCM馬達(dá)測(cè)試設(shè)備及測(cè)試方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711097291.0 | 申請(qǐng)日: | 2017-11-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109765483A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-05-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張曉英 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 浙江鼎炬電子科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/34 | 分類號(hào): | G01R31/34 |
| 代理公司: | 杭州永曙知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 33280 | 代理人: | 曹康華 |
| 地址: | 310053 浙江*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 馬達(dá) 工作基板 雙路 測(cè)試設(shè)備 測(cè)試 上下料裝置 夾爪裝置 上下料 智能化生產(chǎn) 測(cè)試過(guò)程 測(cè)試效率 測(cè)試裝置 配合設(shè)置 取件機(jī)構(gòu) 人工成本 輸送裝置 通電測(cè)試 有效減少 主體裝置 自動(dòng)測(cè)試 鏡頭 基礎(chǔ)件 智能化 兩組 移動(dòng) | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種雙路VCM馬達(dá)測(cè)試設(shè)備及測(cè)試方法,測(cè)試設(shè)備包括:機(jī)架,用于實(shí)現(xiàn)測(cè)試裝置安裝的基礎(chǔ)件;工作基板,設(shè)置在機(jī)架上用于實(shí)現(xiàn)測(cè)試的工作基板;上下料裝置,設(shè)置在工作基板上實(shí)現(xiàn)VCM馬達(dá)和鏡頭的上下料輸送裝置;夾爪裝置,設(shè)置在工作基板上并且移動(dòng)在上下料裝置的上方用于實(shí)現(xiàn)VCM馬達(dá)和鏡頭爪取的上下料的取件機(jī)構(gòu);雙路通電測(cè)試裝置,與上下料裝置和夾爪裝置配合設(shè)置在工作基板上用于對(duì)VCM馬達(dá)進(jìn)行雙路測(cè)試的主體裝置。該雙路VCM馬達(dá)測(cè)試設(shè)備,可以實(shí)現(xiàn)兩組VCM馬達(dá)的同時(shí)智能化自動(dòng)測(cè)試,能夠有效減少測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生的振動(dòng),提高了測(cè)試的優(yōu)良率,并且提高了測(cè)試效率,大大節(jié)省了工廠的人工成本,提高了產(chǎn)品的產(chǎn)量,實(shí)現(xiàn)了智能化生產(chǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及VCM馬達(dá)測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種雙路VCM馬達(dá)測(cè)試設(shè)備及測(cè)試方法。
背景技術(shù)
國(guó)內(nèi)市場(chǎng)上有關(guān)VCM馬達(dá)測(cè)試設(shè)備并不完善,基本上使用較多的是人工測(cè)試或者半自動(dòng)半人工測(cè)試狀態(tài),稍微先進(jìn)一點(diǎn)的是單路測(cè)試設(shè)備,雙路VCM馬達(dá)測(cè)試設(shè)備對(duì)于市場(chǎng)來(lái)說(shuō)需求大,屬于新型高產(chǎn)自動(dòng)化設(shè)備。目前,人工測(cè)試或者半自動(dòng)半人工的測(cè)試狀態(tài)不利于工廠工業(yè)4.0的建設(shè),不利于擴(kuò)大生產(chǎn),不利于減少人工成本。
中國(guó)專利文獻(xiàn)(公告日:2017年8月4,公告號(hào):CN105530509B)公開(kāi)了四工位攝像頭模組多點(diǎn)參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備,涉及到攝像頭模組測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。解決現(xiàn)有的攝像頭測(cè)試效率低,質(zhì)量無(wú)法保證的技術(shù)不足,包括有工作臺(tái)、系統(tǒng)主機(jī)及顯示屏;工作臺(tái)上有四個(gè)并排的工位,四個(gè)工位上分別設(shè)有遠(yuǎn)景OTP燒錄測(cè)試機(jī)構(gòu)、中景OTP燒錄測(cè)試機(jī)構(gòu)、近景OTP燒錄測(cè)試機(jī)構(gòu)和VCM曲線測(cè)試機(jī)構(gòu)。一臺(tái)設(shè)備取代原有四個(gè)人工檢測(cè)工位,提高產(chǎn)能,保證產(chǎn)品質(zhì)量,本發(fā)明包含攝像頭LED點(diǎn)亮測(cè)試,OTP燒錄測(cè)試,VCM測(cè)試等。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是為了解決現(xiàn)有的VCM馬達(dá)測(cè)試振動(dòng)大,測(cè)試良好率低,并且測(cè)試效率低,人工成本高,產(chǎn)品的產(chǎn)量不高,不能實(shí)現(xiàn)智能化生產(chǎn)等問(wèn)題,而提供一種能減少測(cè)試振動(dòng),提高測(cè)試良率和測(cè)試效率,節(jié)省人工成本,并且能夠提高產(chǎn)品的產(chǎn)量,實(shí)現(xiàn)智能化生產(chǎn)的雙路VCM馬達(dá)測(cè)試設(shè)備及測(cè)試方法。
本發(fā)明實(shí)現(xiàn)其技術(shù)目的所采用的技術(shù)方案是:
一種雙路VCM馬達(dá)測(cè)試設(shè)備,包括:
機(jī)架,用于實(shí)現(xiàn)測(cè)試裝置安裝的基礎(chǔ)件;
工作基板,設(shè)置在機(jī)架上用于實(shí)現(xiàn)測(cè)試的工作基板;
上下料裝置,設(shè)置在工作基板上實(shí)現(xiàn)VCM馬達(dá)和鏡頭的上下料輸送裝置;
夾爪裝置,設(shè)置在工作基板上并且移動(dòng)在上下料裝置的上方用于實(shí)現(xiàn)VCM馬達(dá)和鏡頭爪取的上下料的取件機(jī)構(gòu);
雙路通電測(cè)試裝置,與上下料裝置和夾爪裝置配合設(shè)置在工作基板上用于對(duì)VCM馬達(dá)進(jìn)行雙路測(cè)試的主體裝置。
該雙路VCM馬達(dá)測(cè)試設(shè)備,通過(guò)對(duì)測(cè)試過(guò)程的分析研究,設(shè)計(jì)相應(yīng)的測(cè)試工序,在工作基板上設(shè)置相互配合協(xié)調(diào)使用的上下料裝置、夾爪裝置、雙路通電測(cè)試裝置,上下料裝置將待測(cè)試VCM馬達(dá)和鏡頭運(yùn)送到夾爪裝置下方,夾爪裝置一次可以將兩組待測(cè)試VCM馬達(dá)和鏡頭從上料位置上抓取下來(lái),然后放置在雙路通電測(cè)試裝置的相應(yīng)位置并將鏡頭放置在VCM馬達(dá)上,進(jìn)行通電測(cè)試,光照射在鏡頭上,雙路通電測(cè)試裝置產(chǎn)生磁力作用,使鏡頭在馬達(dá)里動(dòng)作,如果鏡頭在馬達(dá)里面的動(dòng)作位移過(guò)大或過(guò)小,則VCM馬達(dá)不合格,當(dāng)鏡頭的動(dòng)作位移在設(shè)定的合格范圍內(nèi)則,VCM馬達(dá)測(cè)試合格。通過(guò)該測(cè)試裝置的自動(dòng)測(cè)試,可以有效判斷測(cè)試結(jié)果,并將合格與不合格產(chǎn)品進(jìn)行區(qū)分。該測(cè)試裝置能夠有效減少測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生的振動(dòng),提高了測(cè)試的優(yōu)良率,并且提高了測(cè)試效率,大大節(jié)省了工廠的人工成本,提高了產(chǎn)品的產(chǎn)量,實(shí)現(xiàn)了智能化生產(chǎn)。
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- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 一種應(yīng)用程序的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種多設(shè)備測(cè)試管理裝置
- 測(cè)試系統(tǒng)
- 一種設(shè)備的檢測(cè)方法、裝置和系統(tǒng)
- 存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試方法、存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試設(shè)備控制方法、裝置、系統(tǒng)和電子設(shè)備
- 一種軟件測(cè)試方法和設(shè)備平臺(tái)及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種BMS電路測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 一種軟件測(cè)試系統(tǒng)、方法、裝置、控制設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種設(shè)備測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





