[發明專利]一種相控陣幅相加權校正裝置及方法在審
| 申請號: | 201711093402.0 | 申請日: | 2017-11-08 |
| 公開(公告)號: | CN107887701A | 公開(公告)日: | 2018-04-06 |
| 發明(設計)人: | 黃丘林;孔德武;廖理;劉振興 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學;中國航空工業集團公司雷華電子技術研究所 |
| 主分類號: | H01Q3/26 | 分類號: | H01Q3/26;H01Q3/30 |
| 代理公司: | 北京權智天下知識產權代理事務所(普通合伙)11638 | 代理人: | 王新愛 |
| 地址: | 710071*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 相控陣 相加 校正 裝置 方法 | ||
1.一種相控陣幅相加權校正裝置,包括接收天線,其特征在于,所述裝置還包括三維轉臺、工控機、功率計、波控板、中間控制器,所述三維轉臺用于放置被測天線,工控機連接三維轉臺,波控板連接被測天線,中間控制器連接波控板、工控機及功率計,功率計連接接收天線。
2.如權利要求1所述的相控陣幅相加權校正裝置,其特征在于,所述裝置還包括連接在功率計與接收天線之間的低噪聲放大器。
3.如權利要求1所述的相控陣幅相加權校正裝置,其特征在于,所述中間控制器用于發起系統工作指令、控制波控板生成幅相加權的過程、控制工控機進而控制轉臺狀態、從功率計中采集數據,采用最小二乘解計算相控陣校準系數。
4.一種基于權利要求1至3任一項相控陣幅相加權校正裝置實現的相控陣幅相加權校正方法,其特征在于,所述方法為:
首先在中間控制器中設定陣列波束角度掃描范圍和掃描角度間隔,之后中間控制器發起系統工作指令,波控板根據波束掃描范圍逐個設定相控陣波束指向權值,此時在工控機和中間控制器的控制下三維轉臺在期望波束指向附近搜索實際波束指向,功率計采集接收天線的信號強度,中間控制器根據采集信號強度確定實際波束指向,中間控制器采集到波束掃描范圍內對應的所有實際波束指向,最后在中間控制器中,計算相控陣校準系數矩陣C,計算公式如下:
C=WW′H{W′W′H}-1
其中,W為期望波束指向對應的權值構成的矩陣,W’為實際波束指向對應的權值構成的矩陣。
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