[發明專利]一種磁盤故障檢測的方法、系統、裝置及存儲介質

在審

• 申請號: 201711078538.4
• 申請日: 2017-11-06
• 公開（公告）號: CN107861829A
• 公開（公告）日: 2018-03-30
• 發明（設計）人: 李大生
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/07
• 分類號: G06F11/07
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司11227
• 代理人: 羅滿

技術領域

本發明涉及硬盤技術領域，更具體地說，涉及一種磁盤故障檢測的方法、系統、裝置及計算機可讀存儲介質。

背景技術

隨著數據存儲需求的日益增長，數據中心中存儲系統也隨之快速增長，目前，硬盤是企業級存儲中最重要的存儲介質。硬盤在數據存儲中處于核心的地位，同時，硬盤也是存儲系統中最容易損壞的一種硬件。

現在存儲系統依賴于RAID(冗余磁盤陣列)這樣的冗余機制來應對磁盤的故障，也就是少量磁盤損壞的情況下，保證數據存儲以及系統的正常運行，然而，多塊磁盤在相近的時間內發生故障時，此方法便不適用，也就是當多塊磁盤在相近的時間內發生故障時，硬盤便不能保證磁盤的正常工作。

因此，如何避免硬盤發生故障，是本領域技術人員需要解決的問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種磁盤故障檢測的方法、系統、裝置及計算機可讀存儲介質，以避免硬盤發生故障。

為實現上述目的，本發明實施例提供了如下技術方案：

一種磁盤健康狀態檢測方法，包括：

接收檢測指令；

獲取存儲設備的歷史磁盤數據與目標磁盤的第一可重新分配扇區計數；

利用所述歷史磁盤數據與所述第一可重新分配扇區計數確定所述目標磁盤的最終失效概率；以利用所述最終失效概率確定所述目標磁盤的健康狀態。

其中，所述檢測指令是間隔預設時間觸發的檢測指令。

其中，所述獲取存儲設備的歷史磁盤數據與目標磁盤的第一可重新分配扇區計數，包括：

獲取存儲設備的歷史磁盤數據；

利用所述目標磁盤的實時扇區信息獲取所述目標磁盤的第一可重新分配扇區計數。

其中，利用所述歷史磁盤數據與所述第一可重新分配扇區計數確定所述目標磁盤的最終失效概率，包括：

利用所述歷史磁盤數據確定所述存儲設備中已失效磁盤的第二可重新分配扇區計數，利用所述第二可重新分配扇區計數確定所述已失效磁盤的失效概率；

利用所述歷史磁盤數據確定所述存儲設備中所有磁盤的第三可重新分配扇區計數，利用所述第三可重新分配扇區計數確定所述存儲設備的綜合失效概率；

利用所述第一可重新分配扇區計數確定所述目標磁盤的初始失效概率；

利用所述失效概率、所述綜合失效概率、所述初始失效概率確定所述目標磁盤的最終失效概率。

一種磁盤健康狀態檢測系統，，包括：

接收模塊，用于接收檢測指令；

獲取模塊，用于獲取存儲設備的歷史磁盤數據與目標磁盤的第一可重新分配扇區計數；

計算模塊，用于利用所述歷史磁盤數據與所述第一可重新分配扇區計數確定所述目標磁盤的最終失效概率；以利用所述最終失效概率確定所述目標磁盤的健康狀態。

其中，所述檢測指令是間隔預設時間觸發的檢測指令。

其中，所述獲取模塊，包括：

第一獲取單元，用于獲取存儲設備的歷史磁盤數據；

第二獲取單元，用于利用所述目標磁盤的實時扇區信息獲取所述目標磁盤的第一可重新分配扇區計數。

其中，所述計算模塊，包括：

第一計算單元，用于利用所述歷史磁盤數據確定所述存儲設備中已失效磁盤的第二可重新分配扇區計數，利用所述第二可重新分配扇區計數確定所述已失效磁盤的失效概率；

第二計算單元，用于利用所述歷史磁盤數據確定所述存儲設備中所有磁盤的第三可重新分配扇區計數，利用所述第三可重新分配扇區計數確定所述存儲設備的綜合失效概率；

第三計算單元，用于利用所述第一可重新分配扇區計數確定所述目標磁盤的初始失效概率；

第四計算單元，用于利用所述失效概率、所述綜合失效概率、所述初始失效概率確定所述目標磁盤的最終失效概率。

一種磁盤健康狀態檢測裝置，包括：

存儲器，用于存儲計算機程序；

處理器，用于執行所述計算機程序時實現所述磁盤健康狀態檢測方法的步驟。

一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現所述磁盤健康狀態檢測方法的步驟。

通過以上方案可知，本發明實施例提供的一種磁盤健康狀態檢測方法，接收檢測指令；獲取存儲設備的歷史磁盤數據與目標磁盤的第一可重新分配扇區計數；利用所述歷史磁盤數據與所述第一可重新分配扇區計數確定所述目標磁盤的最終失效概率；以利用所述最終失效概率確定所述目標磁盤的健康狀態。