[發明專利]一種自動觸發測試的方法和電路

在審

• 申請號: 201711072432.3
• 申請日: 2017-11-04
• 公開（公告）號: CN107918301A
• 公開（公告）日: 2018-04-17
• 發明（設計）人: 段松濤;戴昭君
• 申請（專利權）人: 上海華虹集成電路有限責任公司
• 主分類號: G05B19/04
• 分類號: G05B19/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種自動觸發測試的方法和電路,尤其適用于在測試設備上實現多聯張非接觸智能卡(以下簡稱多聯張卡)自動觸發測試，涉及多聯張非接觸智能卡測試設備領域。

背景技術

非接觸智能卡在加工過程中，首先是以多聯張卡的形式被加工出來，后期確認功能完好后，才會被切割為單張卡片。因此在非接觸智能卡生產的早期測試環節，為了節約成本，首先都是針對多聯張卡的形式(如32聯張、40聯張、25聯張等)進行非接觸智能卡的電性能測試以及其他功能的測試。目前通常的方法是都是手動將多聯張卡放置在測試設備的檢測讀卡區域，然后通過人工操作鼠標點擊開始菜單或手動觸發開始按鈕啟動測試。這種方式存在兩個問題：1、需要手動觸發，影響了測試速度。2、手動放置的多聯張卡放置位置，肉眼無法準確識別是否偏離讀卡區域時，導致非接觸智能卡無法正確接收測試指令，造成好卡被誤判為壞卡，或對應的天線線圈讀到了相鄰位置的卡片，造成測試偏差；3、測試設備中的觸發設備如按鈕和鼠標按鍵都有額定的使用次數，而智能卡廠每年生產測試的多聯張卡數量都在數十萬到數百萬張，所以大批量測試時需要頻繁的點擊觸發開始測試，這樣會導致按鈕或鼠標按鍵很快就損壞或失靈，造成物資的損耗。

發明內容

本發明設計了一種在測試設備上實現多聯張非接觸智能卡自動觸發測試的方法，實現了自動檢測多聯張卡放置與讀卡區域的重合度，讀卡區域，降低誤判，并可自動觸發測試設備開始測試，提高了效率，并提高了觸發設備的使用壽命。支持本發明的自動觸發測試的方法需要由紙張傳感器、反向電路和邏輯與運算電路、反向電路和邏輯或運算電路和控制器組成。紙張傳感器的輸出信號分別經過反向電路后，再經過邏輯與運算/邏輯或運算電路輸出觸發信號/卡片離開信號到控制器，控制器分別檢測這兩個信號來決定是開始測試或測試完成。

本發明專利主要通過以下技術方案實現：

首先，使用多個紙張傳感器檢測多聯張卡是否處于讀卡區域，即只有當全部紙張傳感器被多聯卡遮擋，邏輯與運算電路就會輸出一個跳變信號來觸發控制器，控制器檢測到這個跳變信號，自動進行開始測試操作。

其次，當多聯張卡偏離讀卡區域時，即至少有一個紙張傳感器中沒有被遮擋，則邏輯與運算電路不會輸出一個跳變信號，控制器檢測不到跳變信號，不會進行開始測試操作，避免了多聯張卡偏離讀卡區域造成的測試結果不準確。

最后，當多聯張卡離開讀卡區域時，必須所有的紙張傳感器要檢測到傳感器上方均沒有被多聯張卡遮擋，并將他們的輸出信號經過反向電路和邏輯或運算電路后輸出給控制器，當控制器檢測到這個跳變信號判斷是否此張多聯張卡已完成測試。

在整個過程中，不需要手動觸發開始測試的環節，提高了測試的速度，減少了按鈕/鼠標等觸發器件的損耗，并能減少因多聯張卡放置位置的偏離造成的誤判。

本發明電路中紙張傳感器的位置和數量取決于多聯張卡的形狀，紙張傳感器的數量至少大于等于2個，最優的在4個角各放一個紙張傳感器。

附圖說明

下面結合附圖與具體實施方式對本發明作進一步詳細的說明：

圖1是以32聯張卡為例的一個多聯張卡、天線線圈和紙張傳感器的關系示意圖；

圖2是邏輯與運算電路的具體實現電路；

圖3是邏輯或運算電路的具體實現電路

圖4多聯張卡自動觸發測試電路的連接示意圖

具體實施方式

圖4是本發明的自動觸發測試電路示意圖，其中紙張傳感器的輸出信號分別經過反向電路后，再經過邏輯與運算/邏輯或運算電路輸出觸發信號/卡片離開信號到控制器，控制器分別檢測這兩個信號來決定是開始測試或測試完成

結合圖1、圖2和圖3所示，以32聯張卡的自動檢測為例對本發明專利做詳細說明。

步驟一：當一張32聯張卡從右向左進入到讀卡區域時，紙張傳感器1(圖2中J14)上方被遮擋，則產生一個低電平信號IR1,但由于此時，其他3個紙張傳感器上方沒有被32聯張卡遮擋，IR2、IR3、IR4為高電平，此時這4個信號經過反向電路和邏輯與運算電路后的信號(圖2中的ir_sen_sub信號)仍然保持為低電平，控制器檢測到ir_sen_sub為低電平，沒有上升沿跳變，判斷為32聯張卡沒有處于讀卡區域，不啟動開始測試操作。同樣，當32聯張卡的位置偏離，沒有覆蓋住讀卡區域即沒有同時遮擋住4個紙張傳感器，就無法使IR1、IR2、IR3、IR4均為低電平，亦即ir_sen_sub仍保持為低電平，所以控制器沒有檢測到ir_sen_sub上升沿跳變，不啟動開始測試操作。