[發(fā)明專利]一種頻域介電響應(yīng)測試的溫度校正方法及設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711071836.0 | 申請日： | 2017-11-03 |
| 公開（公告）號： | CN107991536B | 公開（公告）日： | 2023-06-13 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 秦少瑞;張大寧;牛朝濱;丁國成;朱太云;宋東波;秦金飛;吳興旺;張晨晨;尹睿涵 | 申請（專利權(quán)）人： | 國家電網(wǎng)公司;國網(wǎng)安徽省電力公司電力科學(xué)研究院;西安交通大學(xué) |
| 主分類號： | G01R27/26 | 分類號： | G01R27/26;G01R35/00 |
| 代理公司： | 濟(jì)南千慧專利事務(wù)所(普通合伙企業(yè)) 37232 | 代理人： | 羅嘯 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 頻域介電 響應(yīng) 測試 溫度 校正 方法 設(shè)備 | ||
1.一種頻域介電響應(yīng)測試的溫度校正方法，其特征在于，所述方法包括：
在頻域介電譜FDS測試之前，測量電介質(zhì)的溫度；
將高頻信號施加到所述電介質(zhì)上，得到所述電介質(zhì)在所述高頻信號下的介質(zhì)損耗參數(shù)；
根據(jù)所述FDS測試之前測量得到的電介質(zhì)的溫度，以及所述電介質(zhì)在所述高頻信號下的介質(zhì)損耗參數(shù)，確定在所述高頻信號下所述電介質(zhì)的介質(zhì)損耗參數(shù)與所述電介質(zhì)的溫度的對應(yīng)關(guān)系；
在對所述FDS測試時，將所述高頻信號與待測頻率信號合成，將合成后的信號施加到所述電介質(zhì)上，得到所述合成信號在各頻點的介質(zhì)損耗參數(shù)；
根據(jù)所述合成信號各頻點的介質(zhì)損耗參數(shù)，以及根據(jù)所述高頻信號下所述電介質(zhì)的介質(zhì)損耗參數(shù)與所述電介質(zhì)溫度的對應(yīng)關(guān)系，確定同一溫度下所述待測頻率信號的各頻點的介質(zhì)損耗參數(shù)。
2.如權(quán)利要求1所述的一種頻域介電響應(yīng)測試的溫度校正方法，其特征在于，將所述在頻域介電譜FDS測試之前，所測量的介質(zhì)損耗參數(shù)的溫度，作為所述高頻信號下所述電介質(zhì)的初始溫度。
3.如權(quán)利要求1所述的一種頻域介電響應(yīng)測試的溫度校正方法，其特征在于，所述根據(jù)所述FDS測試之前測量得到的電介質(zhì)的溫度，以及所述電介質(zhì)在所述高頻信號下的介質(zhì)損耗參數(shù)，確定在所述高頻信號下所述電介質(zhì)的介質(zhì)損耗參數(shù)與所述電介質(zhì)的溫度的對應(yīng)關(guān)系，具體為：
將所述高頻信號的介質(zhì)損耗參數(shù)以及所述電介質(zhì)的溫度，通過阿倫紐斯方程算法得到，多個溫度下所述高頻信號的介質(zhì)損耗參數(shù)，從而得到所述高頻信號下所述電介質(zhì)的介質(zhì)損耗參數(shù)與所述電介質(zhì)溫度的對應(yīng)關(guān)系。
4.如權(quán)利要求3所述的一種頻域介電響應(yīng)測試的溫度校正方法，其特征在于，所述根據(jù)所述合成信號各頻點的介質(zhì)損耗參數(shù)，以及根據(jù)所述高頻信號下所述電介質(zhì)的介質(zhì)損耗參數(shù)與所述電介質(zhì)溫度的對應(yīng)關(guān)系，確定同一溫度下所述待測頻率信號的各頻點的介質(zhì)損耗參數(shù)，具體為：
所述根據(jù)所述合成信號各頻點的介質(zhì)損耗參數(shù)以及所述高頻信號下電介質(zhì)的介質(zhì)損耗參數(shù)與電介質(zhì)溫度的關(guān)系，確定所述待測頻率信號各頻點的介質(zhì)損耗參數(shù)，以及所述待測頻率信號各頻點的介質(zhì)損耗參數(shù)與溫度的對應(yīng)關(guān)系；
根據(jù)所述待測頻率信號各頻點的介質(zhì)損耗參數(shù)，以及所述待測頻率信號各頻點的介質(zhì)損耗參數(shù)與溫度的對應(yīng)關(guān)系，確定同一溫度下所述待測頻率信號的各頻點的介質(zhì)損耗參數(shù)。
5.如權(quán)利要求1所述的一種頻域介電響應(yīng)測試的溫度校正方法，其特征在于，在將所述高頻信號與所述待測試頻率信號合成之后，包括：
對所述合成后的信號進(jìn)行放大。
6.如權(quán)利要求1所述的一種頻域介電響應(yīng)測試的溫度校正方法，其特征在于，在所述將合成后的信號施加到所述電介質(zhì)上之后，包括：
測量所述電介質(zhì)的響應(yīng)電流信號，以及測量所述電介質(zhì)的激勵電壓信號，根據(jù)所述響應(yīng)電流信號以及所述激勵電壓信號，得到所述合成信號在相應(yīng)頻點的介質(zhì)損耗參數(shù)。
7.一種頻域介電響應(yīng)測試方法，其特征在于，所述方法包括：
在頻域介電譜FDS測試之前，測量電介質(zhì)的溫度；
將高頻信號施加到所述電介質(zhì)上，得到所述電介質(zhì)在所述高頻信號下的介質(zhì)損耗參數(shù)；
根據(jù)所述FDS測試之前測量得到的電介質(zhì)的溫度，以及所述電介質(zhì)在所述高頻信號下的介質(zhì)損耗參數(shù)，確定在所述高頻信號下所述電介質(zhì)的介質(zhì)損耗參數(shù)與所述電介質(zhì)的溫度的對應(yīng)關(guān)系；
在對所述FDS測試時，將所述高頻信號與待測頻率信號合成，將合成后的信號施加到所述電介質(zhì)上，得到所述合成信號在各頻點的介質(zhì)損耗參數(shù)；
根據(jù)所述合成信號各頻點的介質(zhì)損耗參數(shù)，以及根據(jù)所述高頻信號下所述電介質(zhì)的介質(zhì)損耗參數(shù)與所述電介質(zhì)溫度的對應(yīng)關(guān)系，確定同一溫度下所述待測頻率信號的各頻點的介質(zhì)損耗參數(shù)；
將所述同一溫度下的所述待測頻率信號的各頻點的介質(zhì)損耗參數(shù)與FDS測試數(shù)據(jù)庫中的介電譜進(jìn)行比較分析，得到所述電介質(zhì)的主絕緣體的損耗參數(shù)。
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