[發明專利]SAR模數轉換器選擇性同步

有效

• 申請號: 201711066860.5
• 申請日: 2017-11-03
• 公開（公告）號: CN108023592B
• 公開（公告）日: 2021-11-30
• 發明（設計）人: A·馬達恩;S·蒙納吉
• 申請（專利權）人: 亞德諾半導體集團
• 主分類號: H03M1/12
• 分類號: H03M1/12;H03M1/46
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 張鑫

1.一種逐次逼近路由SAR多通道模數轉換器ADC集成電路器件，其中多個通道分別包括在同一集成電路上的相應的各個N位ADC，以使用由不同通道的ADC共享的用于位試驗的參考電壓電路來執行將相應的模擬信號樣本轉換成相應的N位數字字的模數轉換，所述器件包括：

同步電路，所述同步電路用于在至少兩個通道之間將跨越所述多個通道中的不同通道中的ADC中的至少兩個ADC的所選擇子集的位試驗中的至少一個但少于N個位試驗的預定義子集進行同步。

2.如權利要求1所述的器件，其中所述預定義子集包括：

用于對流水線或其他級ADC的第一級的殘留放大器進行采樣的位試驗。

3.如權利要求1所述的器件，其中所述預定義子集包括：

在將輔助微型ADC的位試驗結果加載到第一級ADC上時發生的流水線或其他級ADC的第一級ADC的位試驗。

4.如權利要求1所述的器件，其中所述預定義子集包括：

數模轉換器DAC的最高有效位MSB位試驗。

5.如權利要求1所述的器件，其中所述預定義子集包括：

將最大電容值放置在參考電壓節點上的N位的所選擇位試驗。

6.如權利要求1所述的器件，其中所述預定義子集限于其中數模轉換器DAC誤差就在SAR位試驗決定超過N位模數轉換的誤差預算之前的一個或多個位試驗。

7.如權利要求1所述的器件，其中同步發生在要跨越ADC同步的位試驗的預定義子集中的同步位試驗的開始處。

8.一種逐次逼近路由SAR多通道模數轉換ADC方法，所述方法在模數轉換期間使用包括相應的ADC電路的不同通道和共享由所述不同通道使用的參考信號在同一集成電路上執行相應的模擬信號樣本到相應的N位數字字的多個N位ADC，所述方法包括：

在SAR位試驗中執行模數轉換；和

在至少兩個通道之間將跨越在多個通道中的不同通道中的ADC中的至少兩個ADC的所選擇子集的位試驗中的至少一個但少于N個位試驗的預定義子集進行同步。

9.如權利要求8所述的方法，其中所述預定義子集包括：

用于對流水線或其他級ADC電路的第一級的殘留放大器進行采樣的位試驗。

10.如權利要求8所述的方法，其中所述預定義子集包括：

在將輔助微型ADC電路的位試驗結果加載到第一級ADC電路上時發生的流水線或其他級ADC電路的第一級ADC電路的位試驗。

11.如權利要求8所述的方法，其中所述預定義子集包括：

數模轉換器DAC的最高有效位MSB位試驗。

12.如權利要求8所述的方法，其中所述預定義子集包括：

將最大電容值放置在參考電壓節點上的N位的所選擇位試驗。

13.如權利要求8所述的方法，其中所述預定義子集限于其中數模轉換器DAC誤差就在SAR位試驗決定超過N位模數轉換的誤差預算之前的一個或多個位試驗。

14.如權利要求8所述的方法，其中同步發生在要跨越ADC同步的位試驗的預定義子集中的同步位試驗的開始處。

15.一種逐次逼近路由SAR多通道模數轉換ADC方法，所述方法在模數轉換期間使用包括相應的ADC電路的不同通道和共享由所述不同通道使用的參考信號來在同一集成電路上執行相應的模擬信號樣本到相應的N位數字字的多個N位ADC，所述方法包括：

在SAR位試驗中執行模數轉換；和

在所有通道之間將跨越同一集成電路上的ADC電路的所有不同通道的位試驗中的至少一個但少于N個位試驗的預定義子集進行同步。

16.如權利要求15所述的方法，其中所述預定義子集限于以下中的一種或任何組合：

(1)用于對流水線或其他級ADC的第一級的殘留放大器進行采樣的位試驗；

(2)在將輔助微型ADC的位試驗結果加載到第一級ADC上時發生的流水線或其他級ADC的第一級ADC的位試驗；

(3)最高有效位MSB位試驗；或

(4)將最大電容值放置在參考電壓節點上的N位的所選擇位試驗。