[發明專利]校正質譜檢測核酸樣品的準確率的方法及產品

在審

• 申請號: 201711048835.4
• 申請日: 2017-10-31
• 公開（公告）號: CN108008002A
• 公開（公告）日: 2018-05-08
• 發明（設計）人: 馬慶偉;梁飛;付書輝;梁坤;趙明輝
• 申請（專利權）人: 北京毅新博創生物科技有限公司
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62;G01N1/38
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種可提高質譜檢測核酸靶分子的準確率的質譜校正方法，步驟包括：

(1)配制基質溶液，并配置核酸靶分子樣本以及校正樣本UEP的溶液；

(2)分別在親水區域定位孔、中心校正孔以及驗證校正孔，點0.5-1μL基質溶液，自然揮干后形成一次結晶；

(3)在親水區域定位孔，在一次結晶表面，點0.5-1μL核酸靶分子樣本，自然揮干后形成二次結晶；

(4)分別在中心校正孔、驗證校正孔，在一次結晶表面，點0.5-1μL校正樣本UEP，自然揮干后形成二次結晶；

(5)通過激光飛行時間質譜分別轟擊中心校正孔位、驗證校正孔的校正樣本UEP，獲得多個UEP峰分子量的譜圖；

(6)當90％的UEP峰分子量偏差小于200PPM，即為校正有效；

(7)校正成功后，即可對親水區域定位孔的待測核酸靶分子樣本進行質譜檢測。

其中，步驟(1)中將乙腈水溶液中以1-10：100(mg/ml)的比例，加入3-羥基-2-吡啶甲酸充分溶解得到混合液，隨后將3-羥基-2-吡啶甲酸溶液和檸檬酸二胺溶液，按照1-3:1體積比混合均勻，過濾即得基質溶液。

2.權利要求1的方法，其中選取0.75μL基質溶液和0.5μL靶分子樣本或標準樣本溶液進行結晶。

3.權利要求2的方法，其中所述校正樣本UEP是如表1所述的用于擴增靶核酸的引物，即耳聾UEP。

4.權利要求1-3任一項的方法，其中所述質譜的參數設置如下：

Turing mode:linear；

Mass Range:3000-9000；

Max Laser Rep Rate:10.0；

Power:105；

Profiles:40；

Shots:10。

5.權利要求5的方法，其中MALDI-TOF質譜是CLIN-TOF-II飛行時間質譜。

6.權利要求1-5的方法中所用的能夠提高質譜檢測核酸靶分子的準確率的質譜芯片，該芯片包括：由硅材料或玻璃或鈦合金組成的芯片主體，其表面具有多個豎直交叉排列的親水區域定位孔、疏水孔外區域、中心校正孔、驗證校正孔、備用校正孔；

其中，定位孔具有親水特性，用于滴定基質溶液或樣本；疏水孔外區域，表面具有疏水特性；定位孔和孔外區域形成的微陣列芯片表面親疏水間隔的結構，可以輔助液體樣本收縮凝聚在親水區域內，使樣本結晶集中，且呈現標準圓形，提高離子化效率；

中心校正孔和驗證校正孔，用于校正核酸標準的滴定位置驗證校正孔，用來驗證校正效果；

備用校正孔，作為備用，中心校正孔或驗證校正孔如果出現異常，可用備用校正孔。

7.權利要求6的方法，其中定位孔在芯片上為(4-8)×(4-8)的豎直交叉方向排列，中心校正孔、驗證校正孔以及備用校正孔在芯片中間位置豎向排列，數量均為1或2個。

8.權利要求7的方法，其中所述芯片親水性定位孔覆蓋150-800nm的親水性薄膜，疏水性孔外區覆蓋150nm-2μm疏水性薄膜，其表面水滴接觸角＞120°。

9.權利要求8的方法，其中所述親水性薄膜為二氧化硅氧化物薄膜、氧化鋅薄膜、氧化鋁薄膜等，疏水性孔外區通過硅烷偶聯劑進行處理形成疏水性薄膜。

10.權利要求8的方法，其中所述硅烷偶聯劑選自乙烯基硅烷、氨基硅烷或二甲基二氯硅烷。