[發(fā)明專利]一種分層并行計(jì)算的芯片管腳在線視覺檢測系統(tǒng)及其方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710995093.X | 申請日: | 2017-10-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107767372B | 公開(公告)日: | 2020-03-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張鵬 | 申請(專利權(quán))人: | 蘇州茂特斯自動(dòng)化設(shè)備有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06T7/13;G06T5/00 |
| 代理公司: | 上海申新律師事務(wù)所 31272 | 代理人: | 閔東 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州市吳中區(qū)*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 分層 并行 計(jì)算 芯片 管腳 在線 視覺 檢測 系統(tǒng) 及其 方法 | ||
1.一種分層并行計(jì)算的芯片管腳在線視覺檢測系統(tǒng),其特征在于:分為底層處理平臺(tái)和上層處理平臺(tái)兩個(gè)部分;
所述底層處理平臺(tái)由FPGA實(shí)現(xiàn),負(fù)責(zé)芯片圖像數(shù)據(jù)的讀入,芯片圖像的預(yù)處理,對存在缺陷的芯片進(jìn)行剔除,以及將定位好的芯片管腳圖像傳輸給所述上層處理平臺(tái);
所述的芯片圖像的預(yù)處理的具體內(nèi)容為:
首先對芯片圖像進(jìn)行中值濾波,以平滑掉各種奇異突變;然后利用邊緣沿檢測算法對芯片管腳邊緣進(jìn)行提取,在芯片管腳定位出來以后,如果發(fā)現(xiàn)不是均勻分布,則說明該芯片存在缺陷,需要剔除;如果發(fā)現(xiàn)是均勻分布的,則說明該芯片沒有存在缺陷,可將定位好的芯片管腳圖像傳輸給所述上層處理平臺(tái),進(jìn)行缺陷計(jì)算;
所述上層處理平臺(tái)由CPU+GPU的架構(gòu)實(shí)現(xiàn),其中,GPU采用GPU的并行計(jì)算體系,負(fù)責(zé)對提取的芯片管腳圖像進(jìn)行缺陷計(jì)算;CPU負(fù)責(zé)芯片圖像及其數(shù)據(jù)的傳輸,芯片缺陷計(jì)算的控制以及芯片管腳檢測結(jié)果的存儲(chǔ);
所述的缺陷計(jì)算的具體內(nèi)容為:
采用亞像素定位算法,首先測算芯片管腳邊緣中心點(diǎn)的位置,并根據(jù)這些中心點(diǎn)的位置計(jì)算出包括管腳寬度、管腳間距、管腳共面度、長度偏差在內(nèi)的所需的計(jì)算結(jié)果,然后利用側(cè)視圖得到棧高,由此計(jì)算棧高分布狀態(tài),表征共面度的特性。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分層并行計(jì)算的芯片管腳在線視覺檢測系統(tǒng),其特征在于:所述的缺陷計(jì)算的計(jì)算過程包括如下幾方面:每個(gè)管腳連通域的搜索確定,基于一維灰度矩的亞像素邊緣定位,以及利用所述亞像素邊緣定位的精確定位值的封裝管腳參數(shù)計(jì)算。
3.一種分層并行計(jì)算的芯片管腳在線視覺檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1)采用CCD相機(jī)對位于傳送帶上的芯片進(jìn)行逐一拍照,并將拍攝到的芯片圖像傳輸給由FPGA實(shí)現(xiàn)的底層處理平臺(tái);
步驟2)所述底層處理平臺(tái)在讀入芯片圖像后,對芯片圖像進(jìn)行預(yù)處理,包括通過濾波以平滑掉芯片圖像中各種奇異突變,以及利用邊緣沿檢測算法對芯片管腳邊緣進(jìn)行提取;
步驟3)在芯片管腳定位出來后,若發(fā)現(xiàn)不是均勻分布,則說明該芯片存在缺陷,所述底層處理平臺(tái)立即將其剔除;若發(fā)現(xiàn)是均勻分布的,則說明該芯片沒有存在缺陷,所述底層處理平臺(tái)將定位好的芯片管腳圖像通過CPU傳輸給由CPU+GPU的架構(gòu)實(shí)現(xiàn)的上層處理平臺(tái),進(jìn)行缺陷計(jì)算;
步驟4)在收到提取到的芯片管腳圖像后,所述上層處理平臺(tái)中的GPU采用亞像素定位算法,首先測算芯片管腳邊緣中心點(diǎn)的位置,并根據(jù)這些中心點(diǎn)的位置計(jì)算出包括管腳寬度、管腳間距、管腳共面度、長度偏差在內(nèi)的所需的計(jì)算結(jié)果,利用側(cè)視圖得到棧高,由此計(jì)算棧高分布狀態(tài),表征共面度的特性,得出最終計(jì)算結(jié)果;
步驟5)所述上層處理平臺(tái)通過CPU輸出最終計(jì)算結(jié)果,并保存至硬盤;
步驟6)在檢測到不良芯片后,本系統(tǒng)可根據(jù)自動(dòng)對應(yīng)系統(tǒng)提供的光電信號(hào)計(jì)數(shù)獲得不良芯片的位置并加以排除。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的分層并行計(jì)算的芯片管腳在線視覺檢測方法,其特征在于:步驟2)中,所述濾波的方法采用中值濾波,并采用3×3鄰域窗口的計(jì)算方式。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的分層并行計(jì)算的芯片管腳在線視覺檢測方法,其特征在于:步驟2)中,所述邊緣沿檢測算法采用Sobel算法,畫面每秒傳輸幀數(shù)能達(dá)到500fps。
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