[發明專利]測量和校正系統的非理想性

有效

• 申請號: 201710967761.8
• 申請日: 2017-10-18
• 公開（公告）號: CN107959499B
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: E·奧特
• 申請（專利權）人: 美國亞德諾半導體公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 張鑫

1.一種用于確定系統的校正項的方法，該方法包括：

除去在所述系統中注入的偽隨機信號以獲得誤差信號，其中，所述偽隨機信號為1位偽隨機信號；

執行所述誤差信號與所述偽隨機信號的關聯；和

以基于所述誤差信號的不同開放間隔積累的相關性為基礎來更新校正項，其中，所述不同開放間隔是基于所述誤差信號的幅度定義的。

2.如權利要求1所述的方法，其中不同間隔包括：包括所有樣本的間隔、以及包括絕對值大于第一預定閾值的樣本的間隔。

3.如權利要求1所述的方法，其中基于相關性來更新校正項包括：

基于下列來更新校正項：(1)與包括所有樣本的間隔相關聯的相關性；和(2)與包括絕對值大于第一預定閾值的樣本的間隔相關聯的相關性。

4.如權利要求1所述的方法，其中不同間隔包括：包括所有樣本的間隔、包括其值高于第一預定閾值的樣本的間隔、以及包括其值低于第二預定閾值的樣本的間隔。

5.如權利要求1所述的方法，其中基于相關性來更新校正項包括：

基于下列來更新校正項：(1)與包括其值高于第一預定閾值的樣本的間隔相關聯的相關性；和(2)與包括其值低于第二預定閾值的樣本的間隔相關聯的相關性。

6.如權利要求1所述的方法，其中所述不同開放間隔包括：包括所有樣本的間隔、以及各自包括其絕對值高于對應于間隔中的特定一個間隔的預定閾值的樣本的、與不同的預定閾值相關聯的多個間隔。

7.如權利要求1所述的方法，其中不同開放間隔中的兩個或更多個開放間隔彼此重疊。

8.如權利要求1所述的方法，其中基于相關性來更新校正項包括：基于不同開放間隔估計分段線性校正項。

9.如權利要求1所述的方法，其中所述校正項包括每個開放間隔的偏移和增益系數。

10.如權利要求1所述的方法，其中執行關聯包括：將所述誤差信號與偽隨機信號的滯后或領先樣本關聯。

11.如權利要求1所述的方法，其中執行關聯包括：

在不同的時刻將偽隨機信號的樣本的乘積與所述誤差信號關聯。

12.如權利要求1所述的方法，其中所述誤差信號的不同開放間隔包括基于所述誤差信號的領先或滯后樣本的幅度的開放間隔。

13.如權利要求1所述的方法，其中所述誤差信號的不同開放間隔包括基于在不同時刻所述誤差信號的樣本的乘積的開放間隔。

14.一種用于校正產生輸出信號的電路的系統，所述系統包括：

除去注入的信號的電路部件，其中所述注入的信號與由電路處理的信號不相關，以產生誤差信號，其中所述注入的信號是1位偽隨機信號；

閾值邏輯，用于確定誤差信號是否落在一個或多個開放間隔；

關聯塊，用于將誤差信號與注入的信號關聯；和

一個或多個更新循環，用于在一個或多個開放間隔內處理關聯結果，以產生用于校正電路的校正項。

15.如權利要求14所述的系統，其中:

所述電路是模數轉換器中的殘留產生電路；

注入的信號被注入到殘留產生電路的放大器的輸入端；和

所述校正項與所述放大器的增益誤差相關聯。

16.如權利要求14所述的系統，還包括:

數模轉換器，用于基于一位偽隨機數序列產生注入的信號。