[發(fā)明專利]一種用于電路板的可調(diào)節(jié)測試針床

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710944232.6
• 申請日: 2017-09-30
• 公開（公告）號: CN107765042A
• 公開（公告）日: 2018-03-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 許松;高松;徐承兵;方孝東;高準(zhǔn);石浩乾;徐承翱;王鵬;王平;黃平;曹風(fēng)華
• 申請（專利權(quán)）人: 蕪湖欣宏電子科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 北京風(fēng)雅頌專利代理有限公司11403
• 代理人: 楊紅梅

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及測試針床領(lǐng)域，具體為一種用于電路板的可調(diào)節(jié)測試針床。

背景技術(shù)

微電子產(chǎn)品測試的最主要目的，是在制造過程中保證質(zhì)量。在制造最后階段，或者送至用戶手中，才發(fā)現(xiàn)成品的缺陷，勢必增加維修的時間和費(fèi)用。一般所有故障，均可采用在線測試(ICT)技術(shù)在測試工序中鑒別。ICT測量中，特制的針床測試儀(Bed-of-nailsTestingFixture)的探針(Probe)陣列，與線路板(PCB)上測試節(jié)點(diǎn)的焊區(qū)(TestLands)接觸，并用數(shù)百毫伏電壓和數(shù)毫安電流進(jìn)行分立隔離測試，從而精確判斷所裝元器件的漏裝、錯裝、參數(shù)值偏差、焊點(diǎn)連焊、線路板開短路等故障。

公開號為205049623U的一種用于電路板的測試針床，包括探測針，所述的測試針床還包括印刷電路板和固定結(jié)構(gòu)，在所述的印刷電路板上設(shè)置有與被測試的電路板的插接針孔相適應(yīng)的探測針孔；插接在所述探測針孔中的探測針，通過一端焊牢在所述的印刷電路板上；在電路板的測試過程中，所述的探測針通過所述的固定結(jié)構(gòu)支撐、固定和限位；該裝置雖然能夠?qū)崿F(xiàn)對電路板的一般測試操作，但是該裝置結(jié)構(gòu)相對固定，不能夠方便地進(jìn)行調(diào)節(jié)，適用性較差。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服現(xiàn)有技術(shù)方案的不足，本發(fā)明提供一種用于電路板的可調(diào)節(jié)測試針床，包括可調(diào)支撐底座，所述可調(diào)支撐底座的頂端固定有固定底板，所述固定底板的中心下表面開鑿有圓形的螺紋固定孔，所述固定底板的上表面中心開鑿有固定凹槽，所述固定凹槽的內(nèi)部鑲嵌有測試底板，所述測試底板采用空心覆銅板制成，下表面涂覆有絕緣涂料，測試底板的上表面焊接有測試探針，所述測試探針的末端通過導(dǎo)線連接有自動測試系統(tǒng)，自動測試系統(tǒng)焊接安裝在測試底板的下方，所述固定凹槽側(cè)邊的固定底板的四周開鑿有定位孔，所述定位孔內(nèi)插接有彈簧定位銷，所述彈簧定位銷的頂端插接有剛性頂板。

作為本發(fā)明一種優(yōu)選的技術(shù)方案，所述自動測試系統(tǒng)包括核心控制器和多路模擬開關(guān)，所述多路模擬開關(guān)通過導(dǎo)線連接至測試探針的輸出端，多路模擬開關(guān)的輸出端連接有AD轉(zhuǎn)換器，所述AD轉(zhuǎn)換器輸出數(shù)字信號至核心控制器。

作為本發(fā)明一種優(yōu)選的技術(shù)方案，所述可調(diào)支撐底座包括升降電機(jī)，所述升降電機(jī)的輸出軸上套接有升降套軸，所述升降套軸的頂端雕刻有外螺紋，與螺紋固定孔相配合。

作為本發(fā)明一種優(yōu)選的技術(shù)方案，所述固定凹槽的內(nèi)壁橫向兩側(cè)均開鑿有定位卡口，對應(yīng)的測試底板的兩側(cè)底部鑲嵌有彈簧卡塊，所述彈簧卡塊的前端尺寸與定位卡口的內(nèi)存相吻合。

作為本發(fā)明一種優(yōu)選的技術(shù)方案，所述多路模擬開關(guān)分為低頻開關(guān)組和高頻開關(guān)組，多路模擬開關(guān)的輸出端與AD轉(zhuǎn)換器之間還連接有光耦隔離器。

作為本發(fā)明一種優(yōu)選的技術(shù)方案，所述核心控制器采用FPGA控制器，該FPGA控制器采用StratixⅡ系列的EP2S60芯片。

作為本發(fā)明一種優(yōu)選的技術(shù)方案，所述核心控制器內(nèi)置有以太網(wǎng)控制模塊，所述以太網(wǎng)控制模塊的輸出端連接有RJ45接口，所述RJ45接口通過網(wǎng)線連接至上位機(jī)。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：

(1)本發(fā)明通過設(shè)置可調(diào)支撐底座，利用升降電機(jī)帶動升降套軸，可以方便地實現(xiàn)對固定底板的高度的調(diào)節(jié)操作；通過設(shè)置定位卡口和彈簧卡塊，利用卡接操作可以方便地實現(xiàn)對測試底板的安裝和拆卸操作；通過設(shè)置定位孔插接彈簧定位銷，從而帶動剛性頂板的上下移動，實現(xiàn)對被測電路板的固定操作，整個裝置結(jié)構(gòu)簡單，可以靈活方便地進(jìn)行調(diào)節(jié)操作，適用于不同種類的電路板測試操作；

(2)本發(fā)明通過設(shè)置自動測試系統(tǒng)，在多路模擬開關(guān)中分別設(shè)置低頻組和高頻組，方便對不同種類的信號進(jìn)行測試采集，通過設(shè)置以太網(wǎng)控制模塊和RJ45接口，實現(xiàn)核心控制器與上位機(jī)的實時通信，提高控制效率和處理能力，方便進(jìn)行完整的系統(tǒng)測試。

附圖說明

圖1為本發(fā)明結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為自動測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖。

圖中：1-可調(diào)支撐底座；2-固定底板；3-螺紋固定孔；4-測試底板；5-測試探針；6-自動測試系統(tǒng)；7-定位孔；8-彈簧定位銷；9-剛性頂板；10-固定凹槽；11-定位卡口；12-彈簧卡塊；

101-升降電機(jī)；102-升降套軸；

601-核心控制器；602-多路模擬開關(guān)；603-AD轉(zhuǎn)換器；604-光耦隔離器；605-以太網(wǎng)控制模塊；606-RJ45接口。

具體實施方式。