[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710941260.2
• 申請(qǐng)日: 2017-10-11
• 公開（公告）號(hào): CN108630277B
• 公開（公告）日: 2022-02-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 權(quán)奇薰;金溶美;金載鎰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 愛思開海力士有限公司
• 主分類號(hào): G11C16/10
• 分類號(hào): G11C16/10;G11C16/34;G11C16/24;G11C16/08
• 代理公司: 北京弘權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11363
• 代理人: 毋二省;許偉群

一種半導(dǎo)體器件，包括錯(cuò)誤計(jì)數(shù)信號(hào)發(fā)生電路和行錯(cuò)誤控制電路。錯(cuò)誤計(jì)數(shù)信號(hào)發(fā)生電路產(chǎn)生如果被選擇用來執(zhí)行錯(cuò)誤刷洗操作的單元的出錯(cuò)數(shù)據(jù)的數(shù)量等于預(yù)定數(shù)量則被使能的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)信號(hào)。如果出錯(cuò)數(shù)據(jù)的數(shù)量大于或等于所述預(yù)定數(shù)量則行錯(cuò)誤控制電路響應(yīng)于錯(cuò)誤計(jì)數(shù)信號(hào)而儲(chǔ)存關(guān)于出錯(cuò)數(shù)據(jù)的數(shù)量的信息，或者在比所述預(yù)定數(shù)量更多的出錯(cuò)數(shù)據(jù)被檢測到之后響應(yīng)于錯(cuò)誤計(jì)數(shù)信號(hào)而儲(chǔ)存關(guān)于呈現(xiàn)出錯(cuò)數(shù)據(jù)的行路徑的數(shù)量的信息。

相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用

本申請(qǐng)要求于2017年3月20日提交的編號(hào)為10-2017-0034874的韓國專利申請(qǐng)的優(yōu)先權(quán)，其整體內(nèi)容通過引用合并于此。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開的實(shí)施例涉及具有錯(cuò)誤檢測功能的半導(dǎo)體器件。

背景技術(shù)

近來，在每個(gè)時(shí)鐘周期時(shí)間期間接收和輸出四比特?cái)?shù)據(jù)或八比特?cái)?shù)據(jù)的DDR2方案或DDR3方案已經(jīng)用來提升半導(dǎo)體器件的工作速度。如果半導(dǎo)體器件的數(shù)據(jù)傳輸速度變得更快，當(dāng)數(shù)據(jù)在半導(dǎo)體器件中傳輸時(shí)出現(xiàn)錯(cuò)誤的概率可能增加。相應(yīng)地，已經(jīng)提出了新型設(shè)計(jì)方案來提升數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃浴?/p>

每當(dāng)數(shù)據(jù)在半導(dǎo)體器件中傳輸時(shí)，能夠檢測錯(cuò)誤的出現(xiàn)的錯(cuò)誤碼可以產(chǎn)生且與數(shù)據(jù)一起傳輸來提升數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃浴ｅe(cuò)誤碼可以包括能夠檢測錯(cuò)誤的錯(cuò)誤檢測碼(EDC)和能夠通過自身來校正錯(cuò)誤的錯(cuò)誤校正碼(ECC)。

發(fā)明內(nèi)容

根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，一種半導(dǎo)體器件包括錯(cuò)誤計(jì)數(shù)信號(hào)發(fā)生電路和行錯(cuò)誤控制電路。錯(cuò)誤計(jì)數(shù)信號(hào)發(fā)生電路產(chǎn)生如果被選擇用來執(zhí)行錯(cuò)誤刷洗操作的單元的出錯(cuò)數(shù)據(jù)的數(shù)量等于預(yù)定數(shù)量則被使能的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)信號(hào)。如果出錯(cuò)數(shù)據(jù)的數(shù)量大于或等于所述預(yù)定數(shù)量，則行錯(cuò)誤控制電路響應(yīng)于錯(cuò)誤計(jì)數(shù)信號(hào)而儲(chǔ)存關(guān)于出錯(cuò)數(shù)據(jù)的數(shù)量的信息，或者在比所述預(yù)定數(shù)量更多的出錯(cuò)數(shù)據(jù)被檢測到之后，行錯(cuò)誤控制電路響應(yīng)于錯(cuò)誤計(jì)數(shù)信號(hào)而儲(chǔ)存關(guān)于呈現(xiàn)出錯(cuò)數(shù)據(jù)的行路徑的數(shù)量的信息。

根據(jù)另一實(shí)施例，一種半導(dǎo)體器件包括：脈沖選擇電路，被配置成響應(yīng)于脈沖選擇信號(hào)而將臨界錯(cuò)誤脈沖或行臨界錯(cuò)誤脈沖輸出作為選中的錯(cuò)誤脈沖；鎖存信息發(fā)生電路，被配置成輸出同步于所述選中的錯(cuò)誤脈沖而被計(jì)數(shù)的鎖存信息信號(hào)；以及信息儲(chǔ)存電路，被配置成同步于儲(chǔ)存控制脈沖而儲(chǔ)存鎖存信息信號(hào)。從在錯(cuò)誤刷洗操作期間選中的單元的出錯(cuò)數(shù)據(jù)的數(shù)量等于預(yù)定數(shù)量的時(shí)間點(diǎn)開始，每當(dāng)檢測到額外的出錯(cuò)數(shù)據(jù)時(shí)，臨界錯(cuò)誤脈沖產(chǎn)生。從在錯(cuò)誤刷洗操作期間選中的單元的出錯(cuò)數(shù)據(jù)的數(shù)量等于所述預(yù)定數(shù)量的時(shí)間點(diǎn)開始，每當(dāng)針對(duì)每個(gè)行路徑檢測到額外的出錯(cuò)數(shù)據(jù)時(shí)，行臨界錯(cuò)誤脈沖產(chǎn)生。

根據(jù)又一實(shí)施例，一種半導(dǎo)體器件包括：行計(jì)數(shù)器，被配置成產(chǎn)生行碼，行碼包括針對(duì)每個(gè)行路徑而被錯(cuò)誤刷洗操作選中的單元中包括的出錯(cuò)數(shù)據(jù)的數(shù)量的計(jì)數(shù)；行鎖存電路，被配置成如果行碼被設(shè)置成比鎖存碼大則鎖存行碼以輸出鎖存的行碼作為鎖存碼；以及地址鎖存電路，被配置成如果行碼被設(shè)置成比鎖存碼大則鎖存關(guān)于行路徑的信息。

附圖說明

基于附圖和所附的詳細(xì)說明，本公開的各種實(shí)施例將變得更加明顯，在附圖中：

圖1是圖示根據(jù)本公開的一個(gè)實(shí)施例的半導(dǎo)體器件的配置的框圖；

圖2是圖示包括在圖1的半導(dǎo)體器件中的模式信號(hào)發(fā)生電路的示例的電路圖；

圖3是圖示圖2中所示的模式信號(hào)發(fā)生電路的操作的時(shí)序圖；

圖4是圖示包括在圖1的半導(dǎo)體器件中的地址發(fā)生電路的示例的電路圖；

圖5是圖示圖4中所示的地址發(fā)生電路的操作的時(shí)序圖；

圖6是圖示包括在圖1的半導(dǎo)體器件中的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)信號(hào)發(fā)生電路的示例的電路圖；

圖7是圖示包括在圖6的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)信號(hào)發(fā)生電路中的比較電路的示例的電路圖；

圖8是圖示包括在圖6的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)信號(hào)發(fā)生電路中的輸出鎖存電路的示例的電路圖；