[發明專利]具有低反射間隔件裝置的雷達料位計系統

有效

• 申請號: 201710860417.9
• 申請日: 2017-09-21
• 公開（公告）號: CN109211354B
• 公開（公告）日: 2021-09-28
• 發明（設計）人: 奧洛夫·愛德華松
• 申請（專利權）人: 羅斯蒙特儲罐雷達股份公司
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 陳煒;李德山

一種雷達料位計系統，包括：收發器；多導體探針，其包括一起從上部探針端延伸至下部探針端的第一探針導體和第二探針導體；沿著多導體探針分布的多個間隔件裝置；以及用于確定填充料位的處理電路系統。多個間隔件裝置中的每個間隔件裝置包括：第一間隔件構件，其被配置成將發射信號反射為具有第一幅度的第一間隔件反射信號；以及第二間隔件構件，其被配置成將發射信號反射為具有第二幅度的第二間隔件反射信號。第一間隔件構件和第二間隔件構件沿著多導體探針被布置成使得：第一間隔件反射信號和第二間隔件反射信號相互作用以提供組合的間隔件反射信號，該組合的間隔件反射信號的幅度低于第一幅度和第二幅度中的每個幅度。

技術領域

本發明涉及具有探針和多個間隔件或間隔件裝置的雷達料位計系統，該探針包括第一探針導體和第二探針導體，并且多個間隔件或間隔件裝置用于控制第一探針導體與第二探針導體之間的位置關系。

背景技術

雷達料位計(RLG)系統廣泛用于確定儲罐中的填充料位。電磁發射信號由收發器生成并且朝向儲罐中的物品的表面傳播，并且該收發器接收由發射信號在表面處的反射所產生的電磁反射信號。

基于發射信號和反射信號，可以確定距物品的表面的距離。

現今市場上的大多數雷達料位計系統是所謂的脈沖雷達料位計系統，該脈沖雷達料位計系統基于脈沖的發射與脈沖在物品的表面處的反射的接收之間的時間差來確定距儲罐中的物品的表面的距離；或者是下述系統，該系統基于發射的調頻信號與該調頻信號在表面處的反射之間的頻率差來確定距表面的距離。后一類型的系統通常被稱為FMCW(調頻連續波)類型。

雷達料位計量通常借助于非接觸式測量來執行，其中，朝向儲罐中的物品輻射電磁信號；或者借助于接觸式測量來執行，其通常被稱為導波雷達(GWR)，其中，通過用作波導的探針將電磁信號朝向物品引導并且將電磁信號引導至物品中。探針通常被布置成從儲罐的頂部朝向底部豎直延伸。

對于導波雷達料位計系統，例如取決于儲罐中的物品的特性或儲罐中的環境，可以使用不同種類的探針。在一些雷達料位計系統中，可以期望使用包括第一探針導體和第二探針導體的探針。可以設置間隔件以控制第一探針導體與第二探針導體之間的位置關系，例如，以防止第一探針導體與第二探針導體之間接觸。

對于“正常”應用(排除例如高溫高壓—HTHP應用)，使用發射信號具有相對低的頻率(例如大約0.1GHz-1GHz)的常規脈沖雷達料位計系統，已知的間隔件配置呈現相對低的反射，并且因此可以在不顯著影響填充料位測量的情況下進行使用。這樣的已知的間隔件配置可以例如包括由低反射材料、如PTFE制成的間隔件。然而，對于HTHP應用，可能不可以(或者至少不期望)使用由PTFE制成的間隔件，而陶瓷間隔件可能是優選的。然而，陶瓷間隔件呈現較強的反射，這可能對測量質量不利。在US 2008/0078244中描述了這樣的陶瓷間隔件的示例。

此外，可以期望使用更高頻率(例如1GHz-2GHz)的發射信號，這可能使測量對間隔件反射顯著更敏感，因此，即使使用由低反射材料(例如PTFE)制成的間隔件也可能會干擾填充料位測量。

因此，將期望提供具有包括第一探針導體和第二探針導體的探針的改進的導波雷達料位計系統，特別是提供具有較小的來自間隔件的干擾的導波雷達料位計系統，該間隔件被布置成控制第一探針導體與第二探針導體之間的位置關系。

發明內容

鑒于上述內容，本發明的一般目的是提供一種具有包括第一探針導體和第二探針導體的探針的改進的導波雷達料位計系統，特別是提供一種具有較小的來自間隔件的干擾的導波雷達料位計系統，該間隔件被布置成控制第一探針導體與第二探針導體之間的位置關系。