[發明專利]一種電子設備的檢測方法和裝置有效
| 申請號： | 201710860029.0 | 申請日： | 2017-09-21 |
| 公開（公告）號： | CN107590017B | 公開（公告）日： | 2021-05-18 |
| 發明（設計）人： | 李浩 | 申請（專利權）人： | 聯想（北京）有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/07 | 分類號： | G06F11/07;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京金信知識產權代理有限公司 11225 | 代理人： | 黃威;喻嶸 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 電子設備 檢測 方法 裝置 | ||
本發明公開了一種電子設備的檢測方法及裝置，該方法包括：當所述電子設備出現錯誤時，通過所述電子設備的BMC獲取與所述錯誤相關的第一信息；利用所述電子設備的BIOS，從所述第一信息中獲取所述錯誤對應的地址信息；通過所述BIOS對所述地址信息進行解析以查找出現所述錯誤的位置，并將解析結果發送至所述BMC。該方法能夠使用戶在不能對電子設備進行特定操作的情況下(如智能手機的觸控屏損壞而不能對該智能手機進行操作的情況下)，使用備用設備對電子設備中存儲的數據進行調用，以便對數據進行查看，簡單方便且滿足用戶需要。
技術領域
本發明涉及電子設備的故障檢測領域，特別涉及一種電子設備的檢測方法和裝置。
背景技術
電子設備在運行過程中會出現各種各樣的錯誤，例如經常出現內部檢驗錯誤(IERR)，尤其是內部檢驗錯誤中出現概率最高的MLC 3-strike timeout錯誤，此時需要使用服務器等電子設備的BMC通過PECI總線去讀取相應寄存器中存儲的數據，并使用BMC對該數據進行解析，以檢驗電子設備中出現錯誤的位置及其相對應的部件。但是由于寄存器數量眾多，而且在PECI總線中數據交換較慢，因此該檢驗方式大幅增加了BMC響應時間，嚴重影響BMC工作效率，從而導致服務器等電子設備運行效率極低。
發明內容
本發明實施例的目的在于提供一種電子設備的檢測方法和裝置，該方法能夠利用BIOS對電子設備中出現錯誤的位置進行解析，提高BMC工作效率，實現方式簡單有效。
為了解決上述技術問題，本發明的實施例采用了如下技術方案：一種電子設備的檢測方法，包括：
當所述電子設備出現錯誤時，通過所述電子設備的BMC獲取與所述錯誤相關的第一信息；
利用所述電子設備的BIOS，從所述第一信息中獲取所述錯誤對應的地址信息；
通過所述BIOS對所述地址信息進行解析以查找出現所述錯誤的位置，并將解析結果發送至所述BMC。
作為優選，所述的當所述電子設備出現錯誤時，通過所述電子設備的BMC獲取與所述錯誤相關的第一信息包括：
使用所述BMC從所述電子設備的內部檢驗錯誤對應的第一寄存器中獲取存儲的數據，其中所述第一寄存器為所述電子設備的CPU的內部寄存器；
根據所述數據判斷所述電子設備是否出現所述錯誤；
如果是，則利用所述BMC從所述數據中獲取所述第一信息。
作為優選，所述的利用所述電子設備的BIOS，從所述第一信息中獲取所述錯誤對應的地址信息包括：
所述BIOS從所述CPU的內部的第二寄存器中獲取系統地址映射；
通過所述系統地址映射從所述第一信息中獲取所述地址信息。
作為優選，所述的通過所述BIOS對所述地址信息進行解析以查找出現所述錯誤的位置，并將解析結果發送至所述BMC包括：
通過所述BIOS對所述地址信息進行解析，確定出現所述錯誤的位置對應的電子設備的部件；
使用預設修復方式對所述部件進行修復。
作為優選，所述方法還包括：
從所述第一寄存器中獲取其存儲的所述數據；
根據所述數據判斷所述錯誤是否仍然存在；
如果是則停止使用所述錯誤的位置對應的所述電子設備的部件，并記錄所述部件的日志信息。
本發明實施例還提供了一種電子設備的檢測裝置，包括相互連接的獲取模塊和解析模塊，
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