[發明專利]一種霍爾產品測試機構以及裝配和測試方法

有效

• 申請號: 201710846115.6
• 申請日: 2017-09-19
• 公開（公告）號: CN107390145B
• 公開（公告）日: 2023-04-04
• 發明（設計）人: 李國祥;李青
• 申請（專利權）人: 長電科技（滁州）有限公司
• 主分類號: G01R33/00
• 分類號: G01R33/00
• 代理公司: 安徽知問律師事務所 34134
• 代理人: 侯曄

本發明公開了一種霍爾產品測試機構以及裝配和測試方法，屬于芯片測試技術領域。本發明的霍爾產品測試機構，包括霍爾活動夾，還包括霍爾線圈、項圈、基座和霍爾測試片；霍爾線圈包括工字形支架及包覆在工字形支架中間部分的漆包線卷，工字形支架一端為環臺，環臺中心處為圓形凹槽；圓形凹槽的中心處為圓形通孔；基座為圓環形，嵌入圓形凹槽內，霍爾測試片固定于基座的上表面；項圈中部設置有方孔，方孔環套在霍爾活動夾的頂端；霍爾活動夾的尾端插入進圓形通孔內。整個機構形成霍爾測試片和霍爾活動夾的定位及固定裝置。本發明解決了芯片測試過程中，霍爾線圈在測試區的磁場不夠穩定、測得的高斯量最大與最小之差值很大的問題。

技術領域

本發明涉及芯片測試技術領域，尤其涉及一種霍爾產品測試機構以及裝配和測試方法。

背景技術

目前，在半導體集成電路制造工藝中，需要對切割封裝后的成品芯片進行進一步測試，測試過程中，霍爾線圈起到提供磁場的作用。霍爾器件測試夾則是用來對成品霍爾器件進行測試的夾具。在測試過程中，具體做法是通過芯片分選機的吸嘴將霍爾器件轉移至測試夾內，測試完畢后，芯片分選機的吸嘴再將霍爾器件轉移至下一工序，而封裝體的引腳是左右對稱設置，測試時如何保證兩側引腳和霍爾測試片的接觸以及防止測試時疊料也是技術人員需要考慮的技術問題。

如圖2所示，原普通的霍爾線圈在測試區無法產生穩定的磁場，產品參數在設定的范圍內容易跳邊，這是由于產品在測試時因線圈結構的原因只能在線圈上方3mm處測試，當調整吸嘴行程時，吸嘴下的產品便會在線圈外圍磁場上下動作，而線圈外圍磁場是極其不穩定的，離線圈越近磁場就越大，故產品測得的高斯量最大與最小之差值很大。

經檢索，中國專利申請，申請號：201510949562.5，公開日：2016.05.04，公開了一種霍爾巴赫磁體勻場線圈及其設計方法，具體針對霍爾巴赫磁體的結構特點和主磁場方向，根據磁場結構特征對電流密度函數進行靈活設計，然后利用比奧薩瓦特定律推導出電流密度與主磁場之間的關系，從而反演出電流分布函數，同時考慮勻場線圈對功率損耗函數，線性度等參數的要求，對線圈結構進行優化。該發明對霍爾巴赫磁體給出兩種結構的線圈結果，在結構復雜度和性能方面各有利弊，可根據實際需求靈活進行選擇。該發明理論性強，應用于成品芯片的測試時，還需要進行相應的數據轉化和具體的結構設計。

中國發明專利申請，公開號：CN105931979A，公開日：2016.09.07，公開了一種旋轉下壓型芯片測試夾具，包括支架，所述支架包括帶有水平面的基臺和豎直狀的支撐桿；所述支撐桿上固定有內壁帶有螺旋紋的空心柱狀支撐架；還包括外壁帶有螺旋紋的下壓棒；所述支撐架內壁的螺旋紋和所述下壓棒外壁的螺旋紋相互匹配；所述下壓棒下部端頭處設置有上部測試針，所述下壓棒的上部端頭處設置有手柄；所訴基臺上固定有芯片放置臺，所述芯片放置臺的上表面設置有芯片定位桿，芯片放置臺還設置有通孔，通孔中固定有下部測試針。該發明適用于未封裝芯片的測試，可對芯片進行定位和快速測試，而無需將測試引腳焊接在芯片上，對芯片安裝拆卸均快捷方便，適用于大批量的測試。但該發明申請的水平面的基臺不能調整大小，只能測試固定規格的芯片，而且，只適用于未封裝芯片的測試，通用性較差。

發明內容

1.發明要解決的技術問題

針對現有技術中成品芯片測試過程中，霍爾線圈在測試區的磁場不夠穩定、測得的高斯量最大與最小之差值很大、封裝體測試時在測試夾內左右偏移造成定位不準，以及測試完成后封裝體在測試站及轉移到副盤容易疊料的問題，本發明提供了一種霍爾產品測試機構以及裝配和測試方法。它通過在霍爾線圈的一端巧妙設計容納霍爾測試片的沉孔，達到提供穩定磁場的目的，而且，本發明的測試夾口可根據封裝體的尺寸進行適應性調節，達到定位準確的目的，將封裝體進行定位調整后，也解決了測試完成后轉移到副盤容易疊料的問題。

2.技術方案

為達到上述目的，本發明提供的技術方案為：