[發明專利]攝像頭模組光心位置測量方法及測量裝置有效
| 申請號: | 201710841118.0 | 申請日: | 2017-09-18 |
| 公開(公告)號: | CN107505120B | 公開(公告)日: | 2019-09-17 |
| 發明(設計)人: | 張帥帥 | 申請(專利權)人: | 歌爾股份有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 北京鴻元知識產權代理有限公司 11327 | 代理人: | 袁文婷;張寧 |
| 地址: | 261031 山東省濰*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 攝像頭 模組 光心 位置 測量方法 測量 裝置 | ||
1.一種攝像頭模組光心位置測量裝置,包括:準直機構、云臺機構和選別機構;其中,
所述準直機構包括準直鏡,所述準直鏡用于使光源發射出的發散光變為平行光;
所述云臺機構包括云臺,所述云臺用于放置攝像頭模組,在所述云臺放置攝像頭模組的位置設置有平衡裝置,所述平衡裝置用于使所述攝像頭模組的鏡頭的上表面與所述準直鏡的下表面保持平行,以使所述平行光垂直于鏡頭表面入射;
所述選別機構包括拾取機構和與所述拾取機構相連的移動機構;其中,
所述拾取機構用于拾取攝像頭模組,通過所述移動機構的移動將所述拾取機構所拾取的攝像頭模組放置在所述平衡裝置的上方,并使所述攝像頭模組的鏡頭與所述準直鏡正對;其中,
在所述準直鏡的下表面壓緊所述攝像頭模組的鏡頭的上表面之后,所述平行光垂直于所述鏡頭表面入射,并在所述攝像頭模組的成像傳感器上成像點,所述像點為攝像頭模組的光心,通過獲取所述攝像頭模組的光心坐標和所述成像傳感器的物理中心坐標獲取所述攝像頭模組的光心偏差值。
2.如權利要求1所述的攝像頭模組光心位置測量裝置,其中,
所述準直鏡包括準直鏡頭、套設在所述準直鏡頭外的第一鏡筒和第二鏡筒,所述第一鏡筒部分套設于所述第二鏡筒內;其中,
在所述第一鏡筒的外壁上設置有永磁鐵,在所述第二鏡筒的內壁上設置有線圈,在所述第二鏡筒的底部設置有壓圈,所述線圈與所述永磁鐵產生電磁感應,以使所述第二鏡筒相對于所述第一鏡筒移動,通過所述壓圈壓緊所述攝像頭模組的鏡頭的上表面。
3.如權利要求2所述的攝像頭模組光心位置測量裝置,其中,
所述壓圈包括可拆卸連接的第一壓圈和第二壓圈,所述第一壓圈和第二壓圈用于對不同類型的攝像頭模組的光心位置進行測量。
4.如權利要求1所述的攝像頭模組光心位置測量裝置,其中,
所述云臺機構包括頂針工裝和驅動所述頂針工裝的氣動工裝,通過所述氣動工裝驅動所述頂針工裝給所述攝像頭模組的成像傳感器供電。
5.如權利要求1所述的攝像頭模組光心位置測量裝置,其中,
所述平衡裝置包括墊片和彈簧,所述彈簧至少為兩對,所述彈簧的一端與所述墊片的底部相連,另一端與所述云臺相連。
6.如權利要求1所述的攝像頭模組光心位置測量裝置,其中,
所述拾取機構包括支架、以及設置在所述支架上的第一吸嘴和第二吸嘴,通過所述第一吸嘴和第二吸嘴吸取所述攝像頭模組;
所述移動機構包括水平移動機構和豎直移動機構;其中,
所述水平移動機構包括第一氣缸和與所述第一氣缸相連的第一活塞,通過所述第一氣缸和第一活塞的配合使所述第一吸嘴和第二吸嘴所吸取的攝像頭模組進行水平方向的移動;
所述豎直移動機構包括第二氣缸和與所述第二氣缸相連的第二活塞,通過所述第二氣缸和第二活塞的配合使所述第一吸嘴和第二吸嘴所吸取的攝像頭模組進行豎直方向的移動。
7.一種攝像頭模組光心位置測量方法,利用如上述權利要求1~6中任意一項所述的攝像頭模組光心位置測量裝置進行測量,所述方法包括:
利用準直鏡將光源發出的發散光變為平行光;
利用平衡裝置將所述平行光垂直于攝像頭模組的鏡頭表面入射,獲取所述平行光在所述攝像頭模組的成像傳感器上的光心坐標;
根據所述成像傳感器的物理中心坐標,以及所獲取的光心坐標獲取所述攝像頭模組的光心偏差值。
8.如權利要求7所述的攝像頭模組光心位置測量方法,其中,在根據所述成像傳感器的物理中心坐標,以及所獲取的光心坐標獲取攝像頭模組的光心偏差值的過程中,
以成像傳感器的物理中心為原點建立坐標系,所述光心偏差值為建立的坐標系的橫軸方向和縱軸方向的像素數目。
9.如權利要求7所述的攝像頭模組光心位置測量方法,其中,
所述發散光包括在軸光線和離軸光線,所述平行光為在軸光線,通過準直鏡將所述光源發出的發散光中的離軸光線變為在軸光線。
10.如權利要求9所述的攝像頭模組光心位置測量方法,其中,
通過排布光源與所述準直鏡的陣列增加所述平行光的直徑,使所述平行光的直徑大于鏡頭的直徑,以使所述鏡頭表面均接收到所述平行光的入射。
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