[發明專利]多路復用器失真取消

有效

• 申請號: 201710832555.6
• 申請日: 2017-09-15
• 公開（公告）號: CN107835017B
• 公開（公告）日: 2022-01-11
• 發明（設計）人: C·P·赫里爾;R·A·博德納爾;P·德利澤爾
• 申請（專利權）人: 亞德諾半導體集團
• 主分類號: H03M1/06
• 分類號: H03M1/06;H03M1/12
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 申發振

1.一種用于從多個輸入采樣信號的采樣電路，包括：

包括主要和補償通道的采樣和保持級，所述主要和補償通道包括:

相應的主要和補償輸入開關；

相應的主要通道采樣電容器；以及

相應的補償通道采樣電容器，并且

其中，所述主要通道采樣電容器與所述補償通道采樣電容器不同；

多路復用器，包括多個輸入節點和多個主要開關，所述主要開關在所述采樣和保持級的主要通道中控制信號；和

一個或多個補償開關，所述一個或多個補償開關在所述采樣和保持級的補償通道中控制信號；

其中在聯合的MUX和采樣和保持電路中主要和補償開關的相應各自性能被構造為使得相同的總誤差電荷在所述主要和補償通道采樣電容器中產生。

2.根據權利要求1所述的采樣電路，被構造為使得所述誤差電荷在使用中基本相互抵消。

3.根據權利要求2所述的采樣電路，并且還包括差分電路，被構造為：接收在所述主要通道采樣電容器中指示總誤差電荷的第一誤差信號、和在所述補償通道采樣電容器中指示總誤差電荷的第二誤差信號，并且從第一或第二誤差信號中的一個減去另一個以產生基本無誤差輸出信號。

4.根據權利要求1所述的采樣電路，其中在聯合的MUX和采樣和保持電路中的主要和補償開關的相應各自性能被構造為使得所述各自性能依賴于第一預定比例而相互關聯。

5.根據權利要求4所述的采樣電路，其中所述第一預定比例是下列中的一種：

i)在采樣和保持級中補償通道K的數量與在采樣和保持級中主要通道J的數量；或

ii)主要通道中采樣電容器K的總值與補償電容器中采樣電容器J的總值。

6.根據權利要求4所述的采樣電路，其中所述開關包括晶體管，并且所述相應各自性能是晶體管寬度、或在其中采用開關的串聯和/或并聯布置的情況下是有效寬度，相對于形成采樣和保持級和所述多路復用器中主要開關的相應晶體管，形成采樣和保持級和所述多路復用器中補償開關的相應晶體管的寬度或有效寬度以第一預定比例成比例。

7.根據權利要求1所述的采樣電路，其中所述一個或多個補償開關通過配置在所述采樣和保持級的補償路徑中已經提供的開關來提供。

8.根據權利要求1所述的采樣電路，其中所述采樣和保持電路中的各自主要和補償輸入開關和所述多路復用器中的各自主要和補償開關由各開關陣列形成。

9.根據權利要求8所述的采樣電路，其中所述開關陣列是晶體管陣列，陣列中晶體管的數量被選擇以滿足消除由于晶體管的電阻引起的失真的預定關系。

10.根據權利要求8所述的采樣電路，其中所述開關陣列是晶體管陣列,陣列中晶體管的數量被選擇以滿足消除由于在晶體管的相應柵極和通道之間流入寄生電容的電流引起的失真的預定關系。

11.根據權利要求1所述的采樣電路，并且還包括所述一個或多個補償開關的輸出上的電容負載，否則其中在所述補償通道中，所述電容負載具有這樣的值使得在使用中，所述電容負載引入另外誤差電壓，所述另外誤差電壓消除在關閉的多路復用器中的開關中產生的寄生電容引起的誤差電壓。

12.根據權利要求11所述的采樣電路，其中所述電容負載是一個或多個晶體管偏壓。

13.根據權利要求12所述的采樣電路，其中所述晶體管寬度適于給出期望的電容負載。

14.根據權利要求12所述的采樣電路，其中晶體管并聯提供期望的負載。