[發明專利]開關電性能檢測模塊

在審

• 申請號: 201710824576.3
• 申請日: 2017-09-14
• 公開（公告）號: CN107621604A
• 公開（公告）日: 2018-01-23
• 發明（設計）人: 郭之焱
• 申請（專利權）人: 合肥虹光電氣股份有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327
• 代理公司: 六安眾信知識產權代理事務所(普通合伙)34123
• 代理人: 熊偉

技術領域

本發明涉及檢測設備領域，尤其涉及一種開關電性能檢測模塊。

背景技術

在組合開關生產過程中，需要對組合開關進行檢測，而現有組合開關檢測主要是通過不同設備來進行的，這樣會大大增多了操作程序，增多了檢測時間，提升了勞動強度，降低了勞動效率，而且隨著現有技術的發展，對檢測設備的功能提出越來越高的要求。

發明內容

本發明的目的是提供一種多功能開關電性能檢測模塊，功能多樣，能夠對組合開關等產品的電性能進行檢測，包括組合開關任意兩腳之間短路情況、功能開關內部電阻大小檢測及通斷開關在恒定電流下的導通電壓等檢測，有效提高檢測效率，降低工人勞動強度。

為了解決背景技術所存在的問題，本發明采用以下技術方案：

多功能開關電性能檢測模塊，包括電源模塊、濾波模塊、恒流源模塊、恒壓源模塊、MCU單片機模塊、電阻采集模塊、電壓采集模塊、巡檢模塊、AD采集模塊、RS232通信模塊、采集通道選擇模塊，所述的MCU單片機模塊與巡檢模塊、RS232通信模塊、AD采集模塊、濾波模塊互連，所述的MCU單片機模塊的輸出端連接著恒流源模塊、恒壓源模塊、采集通道選擇模塊，所述的恒流源模塊的輸出端與電壓采集模塊的輸入端連接，所述的恒壓源模塊的輸出端與電阻采集模塊的輸入端連接，所述的電壓采集模塊、電阻采集模塊的輸出端與采集通道選擇模塊的輸入端連接，所述的的采集通道選擇模塊的輸出端與AD采集模塊的輸入端連接，電源模塊的輸出端連接著濾波模塊。

所述的電源模塊的極性電容C47和非極性電容C40、C46與芯片U9輸入端相連，并給與12V高電平，非極性電容C42、C43、C44、C45與R26、C123、C41并聯，并與電感L1串聯。

所述的濾波模塊的熔斷器F1一端與電源接線2相連，另一端與芯片U33的引腳1相接，極性電容C17、C18、C19和非極性電容C20、C21、C22與電阻R16并聯，非極性電容C28、C29、C30和極性電容C23、C24、C25、C26、C27并聯，二極管D13、D14、D15與電源接線1相連，另一端接地。

本發明有益效果：本發明結構簡單，功能多樣，能夠對組合開關等產品的電性能進行檢測，包括組合開關任意兩腳之間短路情況、功能開關內部電阻大小檢測及通斷開關在恒定電流下的導通電壓等檢測，有效提高檢測效率，降低工人勞動強度。

附圖說明

圖1為本發明原理示意圖；

圖2為本發明部分電路示意圖；

圖3為本發明部分電路示意圖。

具體實施方式

多功能開關電性能檢測模塊，包括電源模塊1、濾波模塊2、恒流源模塊3、恒壓源模塊4、MCU單片機模塊5、電阻采集模塊6、電壓采集模塊7、巡檢模塊8、AD采集模塊9、RS232通信模塊10、采集通道選擇模塊11，所述的MCU單片機模塊5與巡檢模塊8、RS232通信模塊10、AD采集模塊9、濾波模塊2互連，所述的MCU單片機模塊5的輸出端連接著恒流源模塊3、恒壓源模塊4、采集通道選擇模塊11，所述的恒流源模塊3的輸出端與電壓采集模塊7的輸入端連接，所述的恒壓源模塊4的輸出端與電阻采集模塊6的輸入端連接，所述的電壓采集模塊7、電阻采集模塊6的輸出端與采集通道選擇模塊11的輸入端連接，所述的的采集通道選擇模塊11的輸出端與AD采集模塊9的輸入端連接，電源模塊1的輸出端連接著濾波模塊2。

所述的電源模塊的極性電容C47和非極性電容C40、C46與芯片U9輸入端相連，并給與12V高電平，非極性電容C42、C43、C44、C45與R26、C123、C41并聯，并與電感L1串聯。

所述的濾波模塊的熔斷器F1一端與電源接線2相連，另一端與芯片U33的引腳1相接，極性電容C17、C18、C19和非極性電容C20、C21、C22與電阻R16并聯，非極性電容C28、C29、C30和極性電容C23、C24、C25、C26、C27并聯，二極管D13、D14、D15與電源接線1相連，另一端接地。