[發明專利]微發光二極管結構及微發光二極管的制造方法有效
| 申請號: | 201710812047.1 | 申請日: | 2017-09-11 |
| 公開(公告)號: | CN109494287B | 公開(公告)日: | 2021-03-26 |
| 發明(設計)人: | 郭修邑;陳俊榮;許國翊 | 申請(專利權)人: | 隆達電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/44 | 分類號: | H01L33/44;H01L33/00 |
| 代理公司: | 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金國 |
| 地址: | 中國臺灣新竹市*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 發光二極管 結構 制造 方法 | ||
1.一種微發光二極管的制造方法,其特征在于,該方法包含:
提供一基板;
形成一III-V族半導體疊層于該基板之上;
形成一犧牲層于該III-V族半導體疊層上,使得該III-V族半導體疊層位于該基板與該犧牲層之間,其中該犧牲層包含一第一N型III-V族半導體層,且該第一N型III-V族半導體層具有一第一硅摻雜濃度大于3x1019cm-3,該III-V族半導體疊層包含一第二N型III-V族半導體層,且該第二N型III-V族半導體層具有一第二硅摻雜濃度為1x1018cm-3至1x1019cm-3;
形成一微發光二極管結構于該犧牲層上,且該微發光二極管結構的一底面寬度小于該犧牲層的一頂表面寬度,以暴露該犧牲層的一頂表面的一部分;
形成一絕緣層連續地覆蓋該III-V族半導體疊層、該犧牲層、該微發光二極管結構的側壁、以及該犧牲層的該頂表面的該部分;
移除位于該犧牲層的該頂表面的該部分上的該絕緣層,以暴露該犧牲層的該頂表面的該部分;
移除該犧牲層,使該絕緣層的一部分形成一支撐架,且該支撐架將該微發光二極管結構懸空地支撐于該III-V族半導體疊層上方;
使該絕緣層的該支撐架斷裂,而形成單獨的一微發光二極管。
2.根據權利要求1所述的微發光二極管的制造方法,其特征在于,該微發光二極管結構包含一第三N型III-V族半導體層,且該第三N型III-V族半導體層具有一第三硅摻雜濃度為1x1018cm-3至1x1019cm-3。
3.根據權利要求1所述的微發光二極管的制造方法,其特征在于,該絕緣層具有一厚度為至
4.根據權利要求1所述的微發光二極管的制造方法,其特征在于,使該絕緣層的該支撐架斷裂后,將單獨的該微發光二極管設置于一固晶基板上。
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