[發(fā)明專(zhuān)利]半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備及其清洗方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710795658.X | 申請(qǐng)日: | 2017-09-06 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107574422B | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-03-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 不公告發(fā)明人 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 長(zhǎng)鑫存儲(chǔ)技術(shù)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | C23C16/44 | 分類(lèi)號(hào): | C23C16/44;H01J37/32 |
| 代理公司: | 上海光華專(zhuān)利事務(wù)所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明偉 |
| 地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 反應(yīng)腔室 預(yù)設(shè) 剝落 半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備 壓強(qiáng) 清洗 室內(nèi) 薄膜 快速降溫 反應(yīng)腔 熱應(yīng)力 側(cè)壁 裂解 排出 沉積 震蕩 機(jī)臺(tái) 薄膜顆粒 清洗過(guò)程 清洗氣體 維護(hù)周期 壓強(qiáng)條件 有效地 自反應(yīng) 粉粒 良率 微塵 | ||
1.一種半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備的清洗方法,所述半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備包括反應(yīng)腔室,其
特征在于,所述半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備的清洗方法包括如下步驟:
將所述反應(yīng)腔室內(nèi)的溫度自第一預(yù)設(shè)溫度以預(yù)設(shè)的降溫速率快速降溫至第二預(yù)設(shè)溫度,以使得沉積于所述反應(yīng)腔室側(cè)壁的薄膜在熱應(yīng)力的作用下裂解剝落;以及,
快速降溫的同時(shí),將所述反應(yīng)腔室內(nèi)的壓強(qiáng)調(diào)整至于預(yù)設(shè)壓強(qiáng)以下周期性震蕩變化,并于上述壓強(qiáng)條件下使用清洗氣體對(duì)所述反應(yīng)腔室進(jìn)行清洗,以將剝落的薄膜顆粒自所述反應(yīng)腔室內(nèi)排出。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備的清洗方法,其特征在于,所述預(yù)設(shè)的降溫速率大于10℃/分鐘。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備的清洗方法,其特征在于,所述第二預(yù)設(shè)溫度為320℃~480℃,所述第一預(yù)設(shè)溫度為720℃~880℃。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備的清洗方法,其特征在于,所述預(yù)設(shè)壓強(qiáng)為小于等于10毫托,所述反應(yīng)腔室于預(yù)設(shè)壓強(qiáng)以下周期性震蕩變化的過(guò)程中,所述反應(yīng)腔室內(nèi)的壓強(qiáng)震蕩變化的周期數(shù)為2~32個(gè)周期;每個(gè)變化周期所需的時(shí)間為40秒~110秒。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備的清洗方法,其特征在于,所述清洗氣體為氮?dú)狻?/p>
6.一種半導(dǎo)體工藝方法,特征在于,所述半導(dǎo)體工藝方法包括如下步驟:
1)進(jìn)行一批次產(chǎn)品制程工藝,并于完成所述批次產(chǎn)品制程工藝之后,將反應(yīng)腔室內(nèi)的溫度由反應(yīng)溫度降至待機(jī)溫度,并將所述反應(yīng)腔室內(nèi)的壓強(qiáng)恢復(fù)至標(biāo)準(zhǔn)大氣壓;
2)使用如權(quán)利要求1所述的清洗方法對(duì)所述反應(yīng)腔室內(nèi)部進(jìn)行清洗;
3)清洗完畢后,將所述反應(yīng)腔室內(nèi)的溫度升至待機(jī)溫度,并將所述反應(yīng)腔室內(nèi)的壓強(qiáng)恢復(fù)至標(biāo)準(zhǔn)大氣壓;以及,
4)將所述反應(yīng)腔室內(nèi)的溫度升至反應(yīng)溫度,并將所述反應(yīng)腔室內(nèi)抽至真空后,進(jìn)行再一批次產(chǎn)品制程工藝。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的半導(dǎo)體工藝方法,其特征在于,步驟4)之后還包括重復(fù)步驟1)~步驟4)至少一次的步驟。
8.一種半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備,其特征在于,所述半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備包括:
反應(yīng)腔室;
加熱器,位于所述反應(yīng)腔室的側(cè)壁外圍,用于對(duì)所述反應(yīng)腔室內(nèi)部進(jìn)行加熱;
清洗系統(tǒng),與所述反應(yīng)腔室內(nèi)部相連通,用于對(duì)所述反應(yīng)腔室內(nèi)部進(jìn)行清洗;
冷卻系統(tǒng),結(jié)合于所述反應(yīng)腔室,用于在對(duì)所述反應(yīng)腔室進(jìn)行清洗的過(guò)程中對(duì)所述反應(yīng)腔室內(nèi)部冷卻,使得所述反應(yīng)腔室以預(yù)設(shè)的降溫速率進(jìn)行降溫;
排氣系統(tǒng),與所述反應(yīng)腔室內(nèi)部相連通,用于將所述反應(yīng)腔室內(nèi)的氣體排出;以及,
控制系統(tǒng),與所述清洗系統(tǒng)及所述排氣系統(tǒng)相連通,用于在清洗過(guò)程中控制所述反應(yīng)腔室內(nèi)的壓強(qiáng)維持在預(yù)設(shè)壓強(qiáng)以下的周期性震蕩變化。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備,其特征在于,所述清洗系統(tǒng)包括:清洗氣體源;以及,
清洗氣體管路,一端與所述清洗氣體源相連通,另一端與所述反應(yīng)腔室的內(nèi)部相連通;并且,所述排氣系統(tǒng)包括:
第一排氣管路,所述第一排氣管路的一端與所述反應(yīng)腔室內(nèi)部相連通;以及,
第一真空泵,與所述第一排氣管路遠(yuǎn)離所述反應(yīng)腔室的一端相連通。
10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備,其特征在于,
所述半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備還包括爐體,所述爐體位于所述加熱器及所述反應(yīng)腔室的外圍,且與所述加熱器及所述反應(yīng)腔室具有間距;所述爐體的側(cè)壁設(shè)有與其內(nèi)部相連通的進(jìn)氣口,所述爐體的頂部設(shè)有與其內(nèi)部相連通的排氣口;
所述冷卻系統(tǒng)包括冷卻氣體源;冷卻氣體管路,所述冷卻氣體管路一端與所述冷卻氣體源相連通個(gè),另一端經(jīng)由所述進(jìn)氣口與所述爐體內(nèi)部相連通;第二排氣管路,所述第二排氣管路一端經(jīng)由所述排氣孔口與所述爐體內(nèi)部相連通;第二真空泵,與所述第二排氣管路遠(yuǎn)離所述爐體的一端相連通;
所述半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)備還包括風(fēng)門(mén),所述風(fēng)門(mén)包括:
門(mén)扇,位于所述爐體的頂部,且位于所述排氣口的外圍;以及,
驅(qū)動(dòng)裝置,與所述門(mén)扇相連接,用于在所述加熱器工作時(shí)驅(qū)動(dòng)所述門(mén)扇將所述排氣口封蓋住,并在所述加熱器停止工作且所述冷卻系統(tǒng)工作時(shí)驅(qū)動(dòng)所述門(mén)扇移動(dòng)至所述排氣口外圍的所述爐體頂部,以確保所述排氣口處于打開(kāi)狀態(tài)。
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C23C 對(duì)金屬材料的鍍覆;用金屬材料對(duì)材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C16-00 通過(guò)氣態(tài)化合物分解且表面材料的反應(yīng)產(chǎn)物不留存于鍍層中的化學(xué)鍍覆,例如化學(xué)氣相沉積
C23C16-01 .在臨時(shí)基體上,例如在隨后通過(guò)浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無(wú)機(jī)材料為特征的
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