[發(fā)明專利]一種平面度和彎曲度檢測治具

在審

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• 申請日: 2017-09-06
• 公開（公告）號: CN107401989A
• 公開（公告）日: 2017-11-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 廖重義
• 申請（專利權(quán)）人: 和信精密科技（吳江）有限公司
• 主分類號: G01B11/30
• 分類號: G01B11/30;G01B11/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種平面度和彎曲度檢測治具，其特征在于，包括

架體；

位移檢測裝置，組裝于所述架體上；

所述架體包括

治具本體，為長條形；

第一支撐架，設(shè)于所述治具本體，該第一支撐架用于所述位移檢測裝置檢測產(chǎn)品的平面度時為所述治具本體提供支撐；

第二支撐架，設(shè)于所述治具本體，且與所述第一支撐架上下相對設(shè)置，該第二支撐架用于所述位移檢測裝置檢測產(chǎn)品的彎曲度時為所述治具本體提供支撐。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面度和彎曲度檢測治具，其特征在于，所述第一支撐架包括一對第一架體，該第一架體垂直的設(shè)置于所述治具本體的兩側(cè)端。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的平面度和彎曲度檢測治具，其特征在于，所述第二支撐架包括一對第二架體，該第二架體垂直的設(shè)置于所述治具本體的兩側(cè)端。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面度和彎曲度檢測治具，其特征在于，所述第二支撐架的高度小于所述第一支撐架的高度。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面度和彎曲度檢測治具，其特征在于，所述位移檢測裝置包括

激光位移傳感器，設(shè)于所述治具本體上；

反射鏡，對應(yīng)的設(shè)于所述激光位移傳感器處。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的平面度和彎曲度檢測治具，其特征在于，所述激光位移傳感器設(shè)有三個，分別均勻的沿所述治具本體的長度方向分布。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的平面度和彎曲度檢測治具，其特征在于，所述反射鏡的反射面朝向所述激光位移傳感器。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面度和彎曲度檢測治具，其特征在于，還包括

控制盒，設(shè)于所述架體上，所述控制盒內(nèi)置有控制電路，外置有連接于所述控制電路的控制開關(guān)，所述位移檢測裝置電連接于所述控制電路；

電源，設(shè)于所述治具本體中，所述電源連接于所述控制電路。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面度和彎曲度檢測治具，其特征在于，還包括校準(zhǔn)裝置，當(dāng)檢測所述產(chǎn)品的平面度和彎曲度時，所述校準(zhǔn)裝置用于校準(zhǔn)所述位移檢測裝置。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的平面度和彎曲度檢測治具，其特征在于，所述校準(zhǔn)裝置包括

校準(zhǔn)平臺，設(shè)有校準(zhǔn)平面；

墊腳，垂直于安裝于所述校準(zhǔn)平面；

標(biāo)準(zhǔn)塊，組裝于所述墊腳上，所述標(biāo)準(zhǔn)塊的上表面形成產(chǎn)品的安裝面；

當(dāng)檢測所述產(chǎn)品的平面度時，所述校準(zhǔn)平臺為所述位移檢測裝置提供校準(zhǔn)平面；

當(dāng)檢測所述產(chǎn)品的彎曲度時，所述校準(zhǔn)平臺為所述位移檢測裝置提供校準(zhǔn)平面，且為所述產(chǎn)品提供安裝面，所述產(chǎn)品位于所述平面度和彎曲度檢測治具的下方。