[發明專利]一種高精度導軌直線度的校準結構及其方法

在審

• 申請號: 201710736738.8
• 申請日: 2017-08-24
• 公開（公告）號: CN107387556A
• 公開（公告）日: 2017-11-24
• 發明（設計）人: 王俊鋒;唐凌志;王海濤;唐進龍;張健;李敏
• 申請（專利權）人: 廣東鼎泰機器人科技有限公司
• 主分類號: F16C29/00
• 分類號: F16C29/00;F16C41/00;G01B5/25
• 代理公司: 天津市北洋有限責任專利代理事務所12201
• 代理人: 潘俊達

1.一種高精度導軌直線度的校準結構，其特征在于：包括底座、大理石平行尺、導軌、滑塊、楔塊、頂緊塊、調節螺絲和固定螺絲，所述大理石平行尺安裝于所述底座的一側，所述底座設置有安裝槽及與所述安裝槽連接的調節槽，所述導軌通過所述固定螺絲鎖緊于所述安裝槽內，所述導軌緊貼于所述安裝槽的側壁，所述滑塊滑動設置于所述導軌，所述滑塊的頂部安放有用于校準導軌直線度的千分表，所述楔塊和所述頂緊塊均安裝于所述調節槽內，所述頂緊塊的一端面頂抵于所述導軌，所述頂緊塊的另一端面頂抵于所述楔塊的一端面，所述楔塊另一端面緊貼于所述調節槽的側壁。

2.根據權利要求1所述的高精度導軌直線度的校準結構，其特征在于：所述楔塊具有第一斜面，所述頂緊塊具有第二斜面，所述第一斜面和所述第二斜面匹配。

3.根據權利要求1所述的高精度導軌直線度的校準結構，其特征在于：所述頂緊塊與所述調節槽的側壁之間存在間隙。

4.根據權利要求1所述的高精度導軌直線度的校準結構，其特征在于：所述楔塊和所述頂緊塊的數量為多個，每個所述楔塊匹配一個所述頂緊塊。

5.一種高精度導軌直線度的校準方法，其特征在于，包括如下步驟：

1）將大理石平行尺安裝在底座的側部，盡量使得大理石平行尺與導軌處于平行狀態，在與導軌滑動連接的滑塊上安放千分表，使得千分表的測量頭與大理石平行尺的側壁接觸，此時測量大理石平行尺一端部A點的讀數，隨后移動滑塊到另一端，在千分表位置不動測量大理石平行尺另一端部B點的值，若A和B點的讀數一致，說明大理石的直線度已經校準，若A和B點的讀數不一致，說明大理石的直線度沒有校準，需膠錘輕輕敲打大理石平行尺側面，使得A和B點的讀數達到一致；

2）校準大理石平行尺之后，將大理石平行尺鎖緊固定好，接著移動導軌，在移動的過程中觀察A和B點之間各點的讀數，若A和B點之間各點與A或B點讀數一致，說明導軌的直線度已校準，若A和B點之間各點與A或B點讀數不一致，則需對不一致的各點對應導軌的位置進行調整，如：通過調整調節螺絲的松緊程度使得頂緊塊上升或下降，此時頂緊塊對導軌施加的力會變小或變大，從而使得不一致的各點與A或B點的讀數一致，最后達到校準導軌的直線度。