[發明專利]一種存儲器器件和中央處理單元有效
| 申請號: | 201710725863.9 | 申請日: | 2017-08-22 |
| 公開(公告)號: | CN107767900B | 公開(公告)日: | 2022-06-07 |
| 發明(設計)人: | 孫鐘弼 | 申請(專利權)人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | G11C7/10 | 分類號: | G11C7/10 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 邵亞麗 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 存儲器 器件 中央 處理 單元 | ||
1.一種存儲器器件,包括:
第一存儲器單元陣列,其連接到第一內部數據線;
第二存儲器單元陣列,其連接到第二內部數據線;以及
線路交換電路,其被配置為基于從外部接收的驅動信號將第一內部數據線和第二內部數據線與第一外部數據線和第二外部數據線相連接,
所述線路交換電路被配置為使得,
當所述驅動信號具有第一邏輯電平時,所述線路交換電路分別將第一內部數據線和第二內部數據線與第一外部數據線和第二外部數據線相連接,以及
當所述驅動信號具有與所述第一邏輯電平不同的第二邏輯電平時,所述線路交換電路將所述第一外部數據線和所述第二外部數據線交換,以使得所述第一內部數據線連接到所述第二外部數據線,并且所述第二內部數據線連接到所述第一外部數據線;
測試單元,其被配置為檢測通過所述第一外部數據線和所述第二外部數據線中的至少一個輸出的數據中的錯誤,
其中,所述測試單元被配置為使得當所述驅動信號具有所述第一邏輯電平時,所述測試單元,
執行第一測試,其包括確定通過所述第一外部數據線和所述第二外部數據線輸出的數據是否包括錯誤,
執行第二測試,其包括確定通過交換后的第一外部數據線和第二外部數據線輸出的數據是否包括錯誤,以及
存儲所述第一測試和所述第二測試的結果,
其中,所述測試單元被配置為基于在執行所述第一測試時從所述第二外部數據線檢測到的錯誤和在執行第二測試時從所述第一外部數據線檢測到的錯誤來生成修復信號。
2.如權利要求1所述的存儲器器件,
其中,所述線路交換電路被配置為響應于從外部提供的所述驅動信號而操作,并且當從通過所述第一外部數據線和所述第二外部數據線中的至少一個輸出的數據檢測到錯誤時,所述驅動信號從所述第一邏輯電平變化為所述第二邏輯電平。
3.如權利要求1所述的存儲器器件,還包括:
修復電路;以及
用于冗余修復的存儲器單元陣列,
其中,所述修復電路被配置為基于所述修復信號,使用用于冗余修復的所述存儲器單元陣列來修復所述第二存儲器單元陣列的錯誤單元。
4.如權利要求1所述的存儲器器件,其中,所述測試單元被配置為當所述測試單元在執行第二測試時通過所述第一外部數據線輸出的數據中未檢測到錯誤時,確定所述第二存儲器單元陣列不具有錯誤單元。
5.如權利要求1所述的存儲器器件,
其中,所述第一內部數據線和所述第二內部數據線以及所述第一外部數據線和所述第二外部數據線中的每一個具有與突發長度相對應的線路的數量。
6.如權利要求1所述的存儲器器件,其中,所述第一存儲器單元陣列和所述第二存儲器單元陣列被包括在相同的存儲組中。
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