[發明專利]一種太赫茲天線平面近場測量系統有效
| 申請號： | 201710724508.X | 申請日： | 2017-08-22 |
| 公開（公告）號： | CN107632210B | 公開（公告）日： | 2020-02-28 |
| 發明（設計）人： | 安文星;傅海鵬;馬建國 | 申請（專利權）人： | 天津大學 |
| 主分類號： | G01R29/10 | 分類號： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201 | 代理人： | 吳學穎 |
| 地址： | 300072*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 赫茲 天線 平面 近場 測量 系統 | ||
【權利要求書】：
1.一種太赫茲天線平面近場測量系統，其特征在于，包括設置于同一空間內的待測天線和二維平面機械掃描支架，所述二維平面機械掃描支架上設置有太赫茲接收機，所述太赫茲接收機依次連接有柔性電纜、矢量網絡分析儀；
所述太赫茲接收機由太赫茲探頭和下變頻模塊構成，所述太赫茲探頭在二維平面機械掃描支架上做二維平面運動，逐點采集待測天線的幅度和相位數據，采集的數據經下變頻模塊、柔性電纜和矢量網絡分析儀上傳至計算機數據處理和控制系統進行分析處理，所述計算機數據處理和控制系統控制太赫茲探頭在二維平面機械掃描支架上做二維平面運動。
2.根據權利要求1所述的太赫茲天線平面近場測量系統，其特征在于，所述待測天線通過支架固定支撐，且正對二維平面機械掃描支架中心設置。
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