[發(fā)明專利]基于RT?LAB的低壓APF硬件在環(huán)仿真測試方法和系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710711982.9 | 申請日: | 2017-08-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107621787A | 公開(公告)日: | 2018-01-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 龐松嶺;林桃貝;陳益華 | 申請(專利權(quán))人: | 海南電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院 |
| 主分類號(hào): | G05B17/02 | 分類號(hào): | G05B17/02 |
| 代理公司: | 北京瑞思知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11341 | 代理人: | 李濤 |
| 地址: | 570311 海*** | 國省代碼: | 海南;46 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 rt lab 低壓 apf 硬件 仿真 測試 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種基于RT-LAB的低壓APF硬件在環(huán)仿真測試系統(tǒng),其特征在于包括:實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)和信號(hào)接口系統(tǒng);其中,
所述實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)通過所述信號(hào)接口系統(tǒng)與被測有源電力濾波器APF控制器進(jìn)行數(shù)據(jù)交互;
所述實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī),用于實(shí)時(shí)運(yùn)行低壓APF的數(shù)字模型,并將所述數(shù)字模型的系統(tǒng)參數(shù)及信號(hào)發(fā)送給所述信號(hào)接口系統(tǒng);
所述信號(hào)接口系統(tǒng),用于將所述系統(tǒng)參數(shù)及信號(hào)發(fā)送給所述被測APF控制器,以及將所述被測APF控制器生成的控制命令和脈沖信號(hào)發(fā)送給所述實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)還包括:上位機(jī),所述上位機(jī)分別與所述實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)和所述信號(hào)接口系統(tǒng)連接,用于進(jìn)行測試過程的管理、數(shù)字模型的管理以及測試過程的圖形監(jiān)控。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,所述實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)包括第一實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)和第二實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī),所述第一實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)和所述第二實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)通過PCIe總線進(jìn)行數(shù)據(jù)交互,其中,
所述第一實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī),用于運(yùn)行低壓APF的主電路的數(shù)字模型;
所述第二實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī),用于運(yùn)行低壓APF的閥組的數(shù)字模型。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng),其特征在于,
所述主電路的數(shù)字模型包括下列功能的數(shù)字模型:三相電網(wǎng)、負(fù)載、系統(tǒng)故障、諧波源、系統(tǒng)無功;
所述閥組的數(shù)字模型包括下列功能的數(shù)字模型:三相逆變橋或者其他拓?fù)渲麟娐?、輸出濾波電感及斷路器、緩沖電阻及接觸器。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的系統(tǒng),其特征在于,所述信號(hào)接口系統(tǒng)包括:光纖接口箱和功率放大器,其中,
所述光纖接口箱,用于通過高速光纖通訊協(xié)議,將所述系統(tǒng)參數(shù)及信號(hào)發(fā)送給所述被測APF控制器,以及將所述被測APF控制器生成的控制命令和脈沖信號(hào)發(fā)送給所述實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī);
所述功率放大器,用于放大所述實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)輸出的模擬量信號(hào)。
6.一種基于RT-LAB的低壓APF硬件在環(huán)仿真測試方法,其特征在于包括:
采集實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)中實(shí)時(shí)運(yùn)行的低壓APF的數(shù)字模型的系統(tǒng)參數(shù)及信號(hào);
將所述系統(tǒng)參數(shù)及信號(hào)發(fā)送給被測有源電力濾波器APF控制器;
將所述被測APF控制器根據(jù)所述系統(tǒng)參數(shù)及信號(hào)生成的控制命令和脈沖信號(hào)發(fā)送給所述實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)中實(shí)時(shí)運(yùn)行的所述低壓APF數(shù)字模型,以實(shí)現(xiàn)所述實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)和所述被測APF控制器之間的閉環(huán)控制。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,
通過高速光纖通訊協(xié)議將所述系統(tǒng)參數(shù)及信號(hào)發(fā)送給被測有源電力濾波器APF控制器;
通過高速光纖通訊協(xié)議將所述被測APF控制器根據(jù)所述系統(tǒng)參數(shù)及信號(hào)生成的控制命令和脈沖信號(hào)發(fā)送給所述實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)中實(shí)時(shí)運(yùn)行的所述低壓APF數(shù)字模型。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的方法,其特征在于,采集實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)中實(shí)時(shí)運(yùn)行的低壓APF的數(shù)字模型的系統(tǒng)參數(shù)及信號(hào)包括:
采集第一實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)中實(shí)時(shí)運(yùn)行的低壓APF的主電路的數(shù)字模型的第一系統(tǒng)參數(shù)及信號(hào);
采集第二實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)中實(shí)時(shí)運(yùn)行的低壓APF的閥組的數(shù)字模型的第二系統(tǒng)參數(shù)及信號(hào);
所述實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)包括所述第一實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)和所述第二實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī);所述系統(tǒng)參數(shù)及信號(hào)包括所述第一系統(tǒng)參數(shù)及信號(hào)和所述系統(tǒng)參數(shù)及信號(hào)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其特征在于,將所述被測APF控制器根據(jù)所述系統(tǒng)參數(shù)及信號(hào)生成的控制命令和脈沖信號(hào)發(fā)送給所述實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)中實(shí)時(shí)運(yùn)行的所述低壓APF數(shù)字模型包括:
將所述被測APF控制器根據(jù)所述系統(tǒng)參數(shù)及信號(hào)生成的控制命令和脈沖信號(hào)發(fā)送給所述第二實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)中實(shí)時(shí)運(yùn)行的低壓APF的閥組的數(shù)字模型,以使所述第二實(shí)時(shí)數(shù)字仿真機(jī)根據(jù)所述控制命令和脈沖信號(hào)調(diào)整所述閥組的數(shù)字模型的第二系統(tǒng)參數(shù)及信號(hào)。
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