[發(fā)明專利]一種太赫茲金屬超材料的驗證裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710698050.5 | 申請日： | 2017-08-15 |
| 公開（公告）號： | CN107290805A | 公開（公告）日： | 2017-10-24 |
| 發(fā)明（設計）人： | 劉建軍;洪治 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國計量大學 |
| 主分類號： | G02B1/00 | 分類號： | G02B1/00 |
| 代理公司： | 杭州求是專利事務所有限公司33200 | 代理人： | 陳昱彤 |
| 地址： | 310018 浙江省*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 赫茲 金屬 材料 驗證 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種太赫茲金屬超材料的驗證裝置，其特征在于：包括光源、空間光調(diào)制器、成像透鏡、合束器、半導體平板、計算機和太赫茲光譜儀，所述光源輻射的光子能量大于所述半導體平板的材料的禁帶寬度，空間光調(diào)制器與計算機連接以使太赫茲金屬超材料的周期性諧振結(jié)構(gòu)圖形能夠由計算機輸出到空間光調(diào)制器；光源發(fā)出的光束進入空間光調(diào)制器中后，空間光調(diào)制器能夠?qū)⒅芷谛灾C振結(jié)構(gòu)圖形加載到光束中；加載了周期性諧振結(jié)構(gòu)圖形的光束先后經(jīng)由成像透鏡、合束器透射到半導體平板上后能夠激發(fā)半導體平板的半導體產(chǎn)生光生載流子，并使光生載流子在半導體平板上構(gòu)建形成與太赫茲金屬超材料相同的周期性諧振結(jié)構(gòu)；太赫茲光譜儀發(fā)射的太赫茲波束能夠被合束器反射后照射到半導體平板上的周期性諧振結(jié)構(gòu)圖區(qū)域內(nèi)，并穿過半導體平板而進入太赫茲光譜儀。
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